終端綜測儀自動校準(zhǔn)研究與實現(xiàn)

作者簡介：楊政（1977—），男，高級工程師，主要研究方向為移動通信測試儀表的研究與開發(fā)。E-mail：hello_401@sohu.com。

0   引言

隨著移動通信技術(shù)的不斷演進(jìn)，終端測試設(shè)備作為通信測試領(lǐng)域的重要儀表越來越受到業(yè)界的關(guān)注。終端的質(zhì)量和性能優(yōu)劣對整個通信產(chǎn)業(yè)鏈的健康發(fā)展有著舉足輕重的影響，終端測試儀表及測試平臺的發(fā)展是移動通信產(chǎn)業(yè)化的重要環(huán)節(jié)，不僅可以為面向商用終端基帶芯片等提供專業(yè)測試驗證儀表，而且可以通過對終端芯片研發(fā)的支持，帶動通信測試領(lǐng)域的全面發(fā)展^[1]。終端綜測儀作為通信測試王牌儀器，是業(yè)內(nèi)所有儀表廠家發(fā)展的核心和重點，也是市場競爭最為激烈的焦點。由于多種制式、大帶寬、多頻點、多種調(diào)制技術(shù)等特點，使得終端綜測儀的功率校準(zhǔn)成為了一個難題。儀表在正式交付時都要經(jīng)過精密儀器測試，功率等各相關(guān)儀表指標(biāo)都能滿足儀表指標(biāo)要求。但是經(jīng)過一段時間以后，儀表的各項指標(biāo)由于環(huán)境變化、溫度不同等因素的影響，功率等指標(biāo)達(dá)不到設(shè)計的要求。儀表就需要重新校準(zhǔn)，儀表廠商現(xiàn)場校準(zhǔn)成本較高。因綜測儀自身帶有的信號源和接收機(jī)的特點，利用信號發(fā)射與信號分析并行反饋校準(zhǔn)技術(shù)，通過具體實踐充分證明了該方法的正確性和有效性^[2]。

1   終端綜測儀硬件平臺及總體方案

綜測儀硬件平臺原理框圖如圖1 所示，主要由以下幾個部分組成：發(fā)射參考時鐘輸出經(jīng)過鎖相的高穩(wěn)參考信號；基帶數(shù)據(jù)產(chǎn)生單元，依據(jù)設(shè)置的不同通信制式輸出不同的兩路IQ 數(shù)據(jù)；上變頻器單元的功能是把FPGA 產(chǎn)生的基帶信號經(jīng)DAC、正交調(diào)制等處理后產(chǎn)生中頻信號。寬帶本振單元利用DDS 鎖相技術(shù)環(huán)路輸出（0.4~6）GHz 本振信號；射頻混頻單元，利用混頻技術(shù)把中頻信號混到射頻，利用攜帶通信信息的射頻信號進(jìn)行傳輸；開閉環(huán)轉(zhuǎn)換單元用于調(diào)制器開環(huán)和閉環(huán)的切換，同時還可以通過模數(shù)轉(zhuǎn)換器把數(shù)據(jù)調(diào)整為模擬信號來控制調(diào)制器。調(diào)制器單元是一個利用數(shù)字電路控制可調(diào)諧的衰減器，通過設(shè)置不同數(shù)據(jù)來調(diào)整調(diào)制器的不同衰減量；多級放大單元對通路中的射頻信號進(jìn)行放大，提高儀表的最大輸出功率。功分器單元將射頻信號功率分配分成兩路，一路進(jìn)行傳輸，一路反饋給調(diào)制器。檢波采樣單元用于把反饋回來的射頻信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。時分同步運算單元用于對反饋回數(shù)字信號求和運算、平均等數(shù)據(jù)處理，采用負(fù)反饋來控制調(diào)制器。功率調(diào)整單元可以控制發(fā)射信號的功率輸出，進(jìn)行最大120 dB衰減或0 衰減量。MIMO 接口單元主要起合路器的作用，將發(fā)射信號和接收信號合路，合路后的端口可分時輸入或輸出。

接收功率衰減單元主要調(diào)整輸入的大功率信號，對輸入信號進(jìn)行最大50 dB 衰減或0 衰減量。前置增益控制單元用于輸入小功率信號的調(diào)整放大，接收衰減單元和前置增益控制單元的主要功能是對大信號衰減，小信號放大，根據(jù)后端電路處理要求擴(kuò)大儀表的測試信號范圍。寬帶本振單元輸出（0.4~6）GHz 本振信號?；祛l單元將高頻射頻信號降頻，匹配濾波單元，濾除混頻中無用的信號，留下有效信號。下變頻器單元的功能是將中頻經(jīng)過模數(shù)轉(zhuǎn)換實現(xiàn)數(shù)據(jù)采樣，將數(shù)據(jù)流分成兩路，得到IQ 兩路基帶信號。接收參考時鐘單元通過固定分頻鎖相環(huán)輸出的參考時鐘信號用于內(nèi)部信號抽取采樣。數(shù)據(jù)分析單元是對接收到的IQ 數(shù)據(jù)進(jìn)行解調(diào)分析^[3]。

2   發(fā)射數(shù)字穩(wěn)幅具體實現(xiàn)

綜測儀發(fā)射單元功率控制主要是通過衰減器和調(diào)制器協(xié)同工作完成。衰減器進(jìn)行大范圍控制，調(diào)制器實現(xiàn)對功率的精確控制，因此調(diào)制器校準(zhǔn)精度直接影響到輸出功率精確度。衰減器最大衰減量為120 dBm，通過對衰減器的不同設(shè)置，可以實現(xiàn)對輸出信號0 衰減量或120 dBm 衰減量每10 dB 一檔的動態(tài)控制，當(dāng)達(dá)到最大衰減時，可以實現(xiàn)最小功率。調(diào)制器的控制范圍超過25 dB，保證了與衰減器的配合可以在大范圍中實現(xiàn)精確控制。為確保發(fā)射單元的功率準(zhǔn)確度，采用了數(shù)字穩(wěn)幅技術(shù)，以TD-LTE 信號為例，發(fā)射的信號采用多子幀通信，且每個子幀內(nèi)又存在多個時隙^[4]，具體1 個幀周期內(nèi)的時隙分布圖見圖2。在通信時，并不是每個時隙內(nèi)都一定有信號，這就要求時隙內(nèi)沒有通信信號時，穩(wěn)幅環(huán)路不工作，保持一個固定狀態(tài)。而傳統(tǒng)ALC 穩(wěn)幅環(huán)路由于采用有效值檢波，并通過采用負(fù)反饋環(huán)路控制調(diào)制器，實現(xiàn)信號的穩(wěn)定輸出，很難完成這種脈沖內(nèi)檢波、脈沖外保持的穩(wěn)幅要求。因TD-LTE 通信中每個子幀周期是固定的，在判斷到有上升沿后，就開始讀取A/D 采集的數(shù)據(jù)，并求和處理，由于導(dǎo)頻時隙的寬度是固定的，可以根據(jù)高速時鐘A/D 的采集速率和導(dǎo)頻時隙的寬度來調(diào)整計數(shù)器的終止數(shù)據(jù)。經(jīng)過功率調(diào)整的調(diào)制信號一路作為信號發(fā)射到端口，另一路通過反饋數(shù)據(jù)處理來控制調(diào)制器的輸出功率。觸發(fā)信號以TD-LTE 幀周期的同步信號上升沿來判斷，按照通信制式不同選擇不同的保護(hù)時隙，如果有上升沿，則開始采樣時隙內(nèi)數(shù)據(jù)，并累加A/D 采集的數(shù)據(jù)，等累加到導(dǎo)頻時隙的寬度時，就停止累加，并計算出A/D 累加的平均值，然后與參考數(shù)據(jù)比較，根據(jù)數(shù)據(jù)比較的結(jié)構(gòu)，修正輸出到DAC 的數(shù)據(jù)。經(jīng)過幾個幀的修正后，實現(xiàn)功率穩(wěn)定。具體采集數(shù)據(jù)如圖3 所示。這是一個逐步穩(wěn)定的過程，延遲的時間包括時隙在幀周期所處的位置、一定的保護(hù)時隙、通道延遲時間^[3]，只要去掉幀同步判斷就可實現(xiàn)連續(xù)波的穩(wěn)幅，數(shù)字穩(wěn)幅具體流程見圖4。

圖3 采集數(shù)據(jù)

圖4 數(shù)字穩(wěn)幅流程

3   衰減器與頻響校準(zhǔn)流程

通過數(shù)字穩(wěn)幅技術(shù)達(dá)到發(fā)射單元的功率準(zhǔn)確度，另衰減器和調(diào)制器在每個頻率點上輸出功率是不一樣的，如何補償由于頻率變化帶來的影響，是校準(zhǔn)另一個需要解決的問題^[5]。采用數(shù)字基帶產(chǎn)生技術(shù)產(chǎn)生的數(shù)據(jù)通過數(shù)字上混頻依照調(diào)制格式產(chǎn)生不同的通信信號，如TDLTE信號等^[6]，發(fā)射信號的功率是假設(shè)是P_TX：

PTX = PIF+ AT + ΔAT + M （1）

其中，PIF 是基帶經(jīng)過上混頻輸出的功率，大約為-3.3 dBm，中頻頻增益設(shè)置為0；AT 指的程控衰減器的衰減量，最大衰減量為120 dBm，通過對衰減器的不同設(shè)置，可以實現(xiàn)對輸出信號0 衰減量或120 dBm 衰減量每10 dB 一檔的動態(tài)控制；ΔAT 為程控衰減器衰減實際值與理論值的差值；M 為調(diào)制器的衰減值，步進(jìn)為0.05 dB，可控范圍為20 dB。ΔAT 和M 為出廠前的校準(zhǔn)值以某一臺機(jī)器的數(shù)據(jù)為例：ΔAT 是各檔衰減量與實測誤差值：10 dB 誤差值為-1.266 dBm，依次20 dB 為-1.449 dBm，30 dB 為-0.859 dBm，40 dB 為-1.698 dBm，50 dB 為-1.693 dBm，60 dB 為-0.895 dBm，70 dB 為-1.739 dBm，80 dB 為-1.828 dBm，90 dB 為-1.798 dBm，100 dB 為-2.449 dBm，110 dB 為-1.568 dBm，120 dB 為-1.112 dBm。實測各檔衰減量與實測誤差值對應(yīng)關(guān)系曲線如圖5 所示。X 軸的數(shù)字1 代表10 dB 衰減，依次為12 代表120 dB 衰減。M是調(diào)制器衰減量，是一個可預(yù)置的集成電路，整個動態(tài)范圍為（6~-24.5）dBm，最大增益達(dá)6 dBm，最小可衰減24.5 dB；調(diào)制器HMC346C8 的壓控曲線如圖6 所示。

實際作為衰減器使用時，盡量選擇線性度好的區(qū)域，即選擇（3~-17)dBm。還是以發(fā)射出來TD-LTE 信號為例，時隙在TS1，頻點為10 087，功率-20 dBm，通過MIMO 接口單元接入接收機(jī)，接收到的信號經(jīng)過降頻處理后下變頻器成基帶數(shù)據(jù)進(jìn)行功率分析處理。設(shè)置接收前端可控衰減量為0 dB 時，與獲得的實際測量差值定義為ΔAT0，依次衰減量為10 dBm 時，實測差值為ΔAT10，以此類推，分別獲取每檔衰減器與實際測量差值存入內(nèi)部存儲單元中[3]。獲得的數(shù)據(jù)用來修正接收衰減器數(shù)據(jù)，接收單元衰減器的具體流程圖見圖7。

通過設(shè)置綜測儀通信制式為TD-LTE，發(fā)射功率為-20 dBm，頻率步進(jìn)10 MHz，掃描起始點為0.4 GHz，掃描終止點為6 GHz，發(fā)射信號時隙單元選擇為TS1，綜測儀作為信號源發(fā)射信號經(jīng)過儀器內(nèi)置的功分器轉(zhuǎn)換到接收機(jī)中，通過頻譜分析功率測試等把測試到的差值存到內(nèi)部存儲器中, 與綜測儀的原始數(shù)據(jù)進(jìn)行比較后修改信號源的頻響，信號源頻率10 MHz 步進(jìn)點靠直接補償數(shù)據(jù)，10 MHz 步進(jìn)中間各頻率點靠擬合曲線或插值補償?shù)男问剑平鎸崝?shù)據(jù)值, 提高綜測儀的功率準(zhǔn)確度指標(biāo)，綜測儀頻率響應(yīng)校準(zhǔn)的軟件流程參見圖8^[7]。

圖7 接收單元衰減器的流程

圖8 綜測儀頻率響應(yīng)校準(zhǔn)的軟件流程

4   測試結(jié)果

通過指定通信制式信號源發(fā)射信號，經(jīng)過校準(zhǔn)后的綜測儀實測功率值與安立MS2692A 進(jìn)行對比測試。信號源功率設(shè)置為-20.0 dBm，頻率為（0.4~6）GHz。表1 選取了部分頻率點記錄了測試結(jié)果。

從表1 中可以看出，終端儀實測值與MS2692A 實際測量結(jié)果非常接近，誤差僅在0.2 dBm 以下，這是由于儀器自身差別和環(huán)境溫度造成的，綜上，綜測儀經(jīng)過校準(zhǔn)后的功率測試較準(zhǔn)確，充分說明校準(zhǔn)的有效性。

5   結(jié)束語

本文首先分析了當(dāng)前終端綜測儀研究的國內(nèi)外現(xiàn)狀，終端測試領(lǐng)域存在巨大的發(fā)展空間。結(jié)合我單位研發(fā)的終端綜測儀，深入理解了綜測儀整機(jī)方案和射頻通道模塊的校準(zhǔn)原理。分別對調(diào)制器功率校準(zhǔn)以及衰減器校準(zhǔn)進(jìn)行了深入的分析，通過實際校準(zhǔn)驗證了整個流程的正確性和有效性。但是，在實際的校準(zhǔn)過程中還有許多不確定的因素影響校準(zhǔn)結(jié)果。后續(xù)還需要更加深入的研究，并充分地理解硬件設(shè)計思想和探索硬件實際運行特性。

參考文獻(xiàn)：

[1] 周新國.寬帶無線通信綜合測試儀自動校準(zhǔn)系統(tǒng)的設(shè)計與實現(xiàn)[J].儀器儀表用戶,2017(5):29-31.

[2] 方璽.電子儀器自動校準(zhǔn)與檢測軟件系統(tǒng)設(shè)計與實現(xiàn)分析[J].化工設(shè)計通訊,2018(12):251-255.

[3] 楊政.一種多模多頻多通道系統(tǒng)的功率自校準(zhǔn)裝置及方法[P].中國:ZL 2014 1 0571753.8,2014.

[4] 王凱.數(shù)字通信調(diào)制參數(shù)自動校準(zhǔn)的研究[J].電視技術(shù),2013,37(9).

[5] 欒鵬.頻譜分析儀自動校準(zhǔn)技術(shù)研究[J].信息化技術(shù)與控制,2002(1):161-162.

[6] 付興.TD-SCDMA終端綜合測試儀物理層的軟硬件設(shè)計[J].儀器儀表學(xué)報,2007(4):340-342.

[7] 卞劍.頻譜分析儀自動校準(zhǔn)中的問題及解決方式[J].計測技術(shù),2016(1):57-60.

（本文來源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2021年8月期）