雙脈沖測試基礎(chǔ)系列:基本原理和應(yīng)用
編者按
雙脈沖是分析功率開關(guān)器件動態(tài)特性的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)方法,貫穿器件的研發(fā),應(yīng)用和驅(qū)動保護(hù)電路的設(shè)計(jì)。合理采用雙脈沖測試平臺,你可以在系統(tǒng)設(shè)計(jì)中從容的調(diào)試驅(qū)動電路,優(yōu)化動態(tài)過程,驗(yàn)證短路保護(hù)。
雙脈沖測試基礎(chǔ)系列文章包括基本原理和應(yīng)用,對電壓電流探頭要求和影響測試結(jié)果的因素等。
為什么要進(jìn)行雙脈沖測試?
在以前甚至是今天,許多使用IGBT或者MOSFET做逆變器的工程師是不做雙脈沖實(shí)驗(yàn)的,而是直接在標(biāo)定的工況下跑看能否達(dá)到設(shè)計(jì)的功率。這樣的測試確實(shí)很必要,但是往往這樣看不出具體的開關(guān)損耗,電壓或者電流的尖峰情況,以及寄生導(dǎo)通情況。這會導(dǎo)致對有些風(fēng)險(xiǎn)的認(rèn)識出現(xiàn)盲點(diǎn),進(jìn)而影響最后產(chǎn)品未來的長期可靠性。又或者設(shè)計(jì)裕量過大帶來成本增加,使得產(chǎn)品的市場競爭力下降。如果能在設(shè)計(jì)研發(fā)階段,精準(zhǔn)地了解器件的開關(guān)性能,將對整個產(chǎn)品的優(yōu)化帶來極大的好處。比如能在不同的電壓、電流和溫度下獲得開關(guān)損耗,給系統(tǒng)仿真提供可靠的數(shù)據(jù);又比如可以通過觀察波形振蕩情況來選擇合適的門極電阻。
雙脈沖測試原理
顧名思義,雙脈沖測試就是給被測器件兩個脈沖作為驅(qū)動控制信號,如圖1所示。第一個脈沖相對較寬,以獲得一定的電流。同時第一個脈沖的下降沿作為關(guān)斷過程的觀測時刻,而第二個脈沖的上升沿則作為開通過程的觀測時刻。
圖1
考慮到可能的電場干擾,最佳的雙脈沖平臺是全橋結(jié)構(gòu)的,如圖2所示。3管的門極給15V常開信號,4管則是處于常關(guān),2管作為被測器件給予雙脈沖信號。1管主要作用于續(xù)流,所以門極可以是常關(guān)信號,或者在使用MOS管時門極用同步整流信號。第1個脈沖來臨時,電流經(jīng)過3管和負(fù)載電感進(jìn)入2管。為了得到一個期望的電流值,此脈沖需持續(xù)一定時長,時長可通過T=I*L/V來獲得,其中L是負(fù)載電感值,I是期望電流,V是母線電壓。當(dāng)然實(shí)際中可以直接用示波器觀察電流值來調(diào)整脈寬。
第一個脈沖結(jié)束時,2管關(guān)斷,表現(xiàn)出器件的關(guān)斷波形。此后,電流在3管、負(fù)載和1管中續(xù)流。當(dāng)?shù)?個脈沖到來時,2管開通,1管上的電流重新流入2管,這時可測量1管的反向恢復(fù)特性及2管的開通特性。其中電流的獲取在小功率時可以采用電流檢測電阻,而大電流時一般使用磁性電流檢測器,比如羅氏線圈或者Pearson磁環(huán)。關(guān)于電壓電流探頭的使用之前有專門的文章詳細(xì)介紹過。
圖2
平時實(shí)驗(yàn)室測量時結(jié)構(gòu)上也可以簡化成半橋形式,如圖3,工作原理和全橋類似,這里就不贅述了。
圖3
哪些參數(shù)可以通過雙脈沖實(shí)驗(yàn)獲得?
通過雙脈沖測試,可以得到包括開關(guān)損耗,各電壓電流尖峰值,斜率變化值在內(nèi)的動態(tài)參數(shù)。比如IGBT參數(shù):
各參數(shù)可以在示波器上直接測量得到,定義如圖4:
圖4
以及反并聯(lián)二極管參數(shù):
各參數(shù)測量定義如圖5:
圖5
其中開關(guān)損耗需要借助示波器的函數(shù)運(yùn)算功能獲得,也可以把所有波形都存成表格點(diǎn)再后期進(jìn)行處理運(yùn)算。圖6和圖7分別是開通和關(guān)斷波形。其中1通道黑色的是被測器件VCE的信號,2通道紅色的是橋臂電流,3通道綠色的是門極信號。數(shù)學(xué)運(yùn)算1是電壓和電流信號的乘積,數(shù)學(xué)運(yùn)算2是該乘積的積分線,也就是損耗值。根據(jù)國標(biāo)定義,開通損耗的積分時間區(qū)間為門極電壓上升的10%到VCE電壓下降至2%這個區(qū)間;而關(guān)斷損耗的積分時間區(qū)間為門極電壓下降至90%到電流降到2%。如果有些許振蕩的話,以第一次觸及邊界值為準(zhǔn)。但有嚴(yán)重振蕩的話建議調(diào)整驅(qū)動參數(shù)(比如增加門極電阻)重新測量。
圖6
圖7
總結(jié)
雙脈沖測試非常適合研發(fā)階段對器件在系統(tǒng)上的損耗評估,為系統(tǒng)仿真帶來數(shù)據(jù)支持。畢竟有太多的因素會使實(shí)際值和數(shù)據(jù)規(guī)格產(chǎn)生很大差別,用規(guī)格書上的值做為仿真依據(jù)粗糙了些,當(dāng)然器件選型的時候還是很值得借鑒的。設(shè)計(jì)越精準(zhǔn),對成本控制就越友好。
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