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          羅姆SiC評估板測評:快充測試

          作者:胡世 時間:2022-03-19 來源:EEPW論壇 收藏

          一、測試工裝準備

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202203/432173.htm

          1、P02SCT3040KR-EVK-001測試板

          1622626505558060.jpg

          1622626523527663.jpg

          2、電壓源

          1622626555125488.jpg

          3、示波器

          1622626574724608.jpg

          4、負載儀

          1622626595533594.jpg

          二、測試項目進行

          1、安裝 SIC后的空載波形

          安裝

          1622626625217930.jpg

          空載波形

          1622626644813224.jpg

          空板,空載GS 為100hz 25V 信號

          2、DCDC 在線測試

          1)空載測試驅動

          1622626686699025.jpg

          空載輸出12V,gs驅動為200hz

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          總寬度3.6uS的錐形信號

          1622626747388188.jpg

          2)加載  24轉55V  2A dcdc

          1622626776909675.jpg

          驅動信號波形如下:

          帶載 6.6k 15V驅動信號

          1622626805378606.jpg

          1622626827922317.jpg

          1622626844281495.jpg

          單脈沖寬度,3uS左右

          總結

          由于輕負載,溫度始終未超過50度。開關速度方面優(yōu)于硅基產(chǎn)品,以后有對應設備,進行高壓大電流測試。



          關鍵詞: SiC 碳化硅 MOSFET ROHM

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