攜碳基材料及電子器件測試方案，泰克科技亮相CarbonSemi 2022
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2022年8月3-5日，泰克科技公司亮相由DT新材料主辦的第二屆碳基半導(dǎo)體材料與器件產(chǎn)業(yè)發(fā)展論壇（CarbonSemi 2022）展位號(hào)A7，相約浙江寧波東港喜來登酒店，歡迎大家蒞臨展位參觀交流！
本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/202207/436835.htm泰克科技公司成立于1946年，是世界第一臺(tái)觸發(fā)式示波器的發(fā)明者，作為一家全球領(lǐng)先的測試測量儀器及系統(tǒng)方案提供商，泰克推出的各種解決方案在過去的 75年間，為許多人類重大進(jìn)步提供了強(qiáng)有力的支持， 涵蓋醫(yī)療、 通信、 移動(dòng)和太空等領(lǐng)域。泰克辦事處遍布于 21 個(gè)國家和地區(qū)，致力于為即將創(chuàng)造未來的全球科學(xué)家、工程師和技術(shù)人員提供服務(wù)和支持。
泰克產(chǎn)品主要包括示波器、信號(hào)源、源表、頻譜分析儀及各類探頭與附件。另外于2010年被泰克收購的吉時(shí)利（Keithley）儀器公司，作為精密電子測試行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者，也為超導(dǎo)性、納米材料、金屬、高分子材料、絕緣體和半導(dǎo)體的研究提供科學(xué)的測試方案以進(jìn)行高精確度的精細(xì)測量。
Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和先進(jìn)工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)先電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。
2400 圖形化系列 SMU
Keithley 2400 圖形化系列 SMU 儀器提供四象限精密電壓和電流源/負(fù)載，外加直觀觸摸屏用戶界面上的測量。這些儀器可同時(shí)提供 10 fA - 10 A 脈沖電流和/或 100nV - 200V 電壓（實(shí)現(xiàn) 1000W 脈沖和 100W 直流總功率）并對(duì)其進(jìn)行測量，從而使用戶可以 Touch，Test，Invent?（觸摸、測試、創(chuàng)新）。
Keithley 6200/2182A 系列超低電阻配置
6220直流電流源和6221交流/直流電流源是非常易于使用的超低電流噪聲電流源。低電流的產(chǎn)生在從許多研發(fā)到生產(chǎn)，尤其是在半導(dǎo)體、納米技術(shù)和超導(dǎo)行業(yè)方面的測試環(huán)境應(yīng)用非常重要。高準(zhǔn)確度的源和內(nèi)建控制功能使6220和6221成為霍爾測量、使用delta模式的電阻測量、脈沖測量和微分電導(dǎo)測量等應(yīng)用的理想選擇。
對(duì)精密、低電流源的需求。對(duì)當(dāng)今小型和高功率效率電子器件的測試和特性分 析需要輸出低電平電流，這需要采用精密的低電流源。較低的激勵(lì)電流在器件兩端 產(chǎn)生較低（因而更難測量）的電壓。將6220或6221與2182A納伏表組合可以妥善地處理這兩方面的挑戰(zhàn)。
SiC功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
DPT 1000A 功率器件動(dòng)態(tài)測試系統(tǒng)由泰克科技領(lǐng)銜開發(fā)，專門用于針對(duì)三代半導(dǎo)體功率器件的動(dòng)態(tài)特性分析測試，旨在解決客戶在功率器件動(dòng)態(tài)特性表征中常見的疑難問題，包括如何設(shè)計(jì)高速工作的驅(qū)動(dòng)電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進(jìn)行信號(hào)測試，如何優(yōu)化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發(fā)設(shè)計(jì)和試產(chǎn)階段，快速評(píng)估器件性能，更快應(yīng)對(duì)市場需求改善產(chǎn)品性能。
DPT 1000A 功率器件動(dòng)態(tài)測試系統(tǒng)的主要特點(diǎn)
● 定制化系統(tǒng)設(shè)計(jì)，豐富的硬件配置和高靈活性的驅(qū)動(dòng)電路
● 自動(dòng)化測試軟件，測試功能豐富，可以自動(dòng)配置，測試和生成數(shù)據(jù)報(bào)告
● 高帶寬/ 高分辨率測試設(shè)備，在高速開關(guān)條件下準(zhǔn)確表征功率器件
● 覆蓋高壓，中壓，低壓，pmos等不同封裝芯片測試和雪崩參數(shù)測試功能
評(píng)論