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          漲姿勢!常用的USB Type-C功率傳輸數(shù)據(jù)線也需要芯片級保護(hù)

          作者:ADI模擬和電源管理專家Nazzareno (Reno) Rossetti和ADI工業(yè)和醫(yī)療健康事業(yè)部業(yè)務(wù)經(jīng)理Josh Fankhauser 時間:2022-09-30 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          新的? (USB-C)電纜和連接器規(guī)范極大地簡化了數(shù)據(jù)互連,以及為數(shù)碼相機(jī)、超薄平板電腦等電子產(chǎn)品供電的方式(如圖1)。該規(guī)范支持高達(dá)15W的USB-C充電應(yīng)用,而USB-C功率傳輸(PD)將充電能力擴(kuò)展至100W,包括各種可互換充電的設(shè)備。不過,在系統(tǒng)保護(hù)方面也帶來了新的挑戰(zhàn)。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202209/438777.htm

          這類接口正反面一致的連接器在引腳間距上較USB Micro-B小,無形中增加了VBUS發(fā)生機(jī)械短路的風(fēng)險。另外,由于USB PD具有高電壓,需要更強(qiáng)大的保護(hù)。隨著電子負(fù)載越來越復(fù)雜,也需要加強(qiáng)ESD(靜電釋放)和電壓浪涌保護(hù)。面對 PD架構(gòu)以及與D+/D-數(shù)據(jù)信號保護(hù)相關(guān)挑戰(zhàn),提出了一種高度集成的2 x SPDT開關(guān),只需較少的BOM和PCB占用空間,就能夠攻克上述挑戰(zhàn)。

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          圖1 數(shù)碼相機(jī)通過USB-C電纜連接到平板電腦

          USB-C PD系統(tǒng)

          圖2顯示了一個典型的便攜式電源管理設(shè)備前端,該設(shè)備可連接到USB-C電纜,并且由鋰離子(Li+)電池供電。

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          圖2 USB PD電源管理系統(tǒng)

          當(dāng)存在VBUS時,它為充電器、系統(tǒng)和其余模塊供電,同時對電池充電。當(dāng)VBUS斷開時,電池為系統(tǒng)供電。使用USB-C電纜時,CC1和CC2引腳決定端口連接、電纜方向、角色(role)檢測和端口控制。D+/D-線是標(biāo)準(zhǔn)的USB-C通信線,以480Mbps的速度處理數(shù)據(jù),并受到D+/D-保護(hù)裝置的保護(hù)。PD控制器實(shí)現(xiàn)供電協(xié)議。

          保護(hù)挑戰(zhàn)

          電源中出現(xiàn)電涌和靜電放電(ESD)很常見,可能會干擾或?qū)е码娮迂?fù)載和設(shè)備損壞。ESD是由于靜電荷從人體轉(zhuǎn)移到電子電路引起的,這是手持電子設(shè)備面臨的一個大問題。浪涌可能是由閃電引起的,也可能是在靠近雷擊的地方鋪設(shè)的長電纜中引起的。開關(guān)或繼電器會在開啟和關(guān)閉操作期間引起浪涌。負(fù)載突降是通過切斷汽車上的電池連接而產(chǎn)生的浪涌。良好的數(shù)據(jù)線保護(hù)IC應(yīng)能提供足夠的保護(hù),而不會顯著降低數(shù)據(jù)質(zhì)量。

          集成解決方案

          MAX20334為例,它是一款2 x SPDT開關(guān),具有過壓保護(hù)功能,適用于便攜式設(shè)備(圖3)。該IC旨在保護(hù)下游數(shù)據(jù)線免受高壓短路、ESD或浪涌事件的影響。

          該設(shè)備具有便攜式電子設(shè)備中高性能開關(guān)應(yīng)用所需的低導(dǎo)通電容和低導(dǎo)通電阻,支持內(nèi)部正過壓和浪涌保護(hù)功能,可處理USB低/全/高速信號,并采用2.7V至5.5V電源供電。同時,該IC采用12引腳(1.23mm x 1.63mm)晶圓級封裝(WLP),可在-40°C至+85°C擴(kuò)展溫度范圍內(nèi)工作。

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          圖3 具有擴(kuò)展保護(hù)的2 x SPDT開關(guān)

          擴(kuò)展保護(hù)

          所有引腳均采用了ESD保護(hù)結(jié)構(gòu),以防止在處理和組裝過程中遭受高達(dá)±2kV(人體模型)的靜電放電。COMA和COMB(圖2和圖3)進(jìn)一步受到高達(dá)±15kV(人體模型)、±15kV(IEC 61000-4-2中描述的氣隙放電方法)和±8kV(IEC61000-4-2中描述的接觸放電方法)的ESD保護(hù),且不會造成損壞。ESD結(jié)構(gòu)在正常運(yùn)行和設(shè)備斷電時均可承受高ESD。即便在ESD事件之后,此IC也會繼續(xù)工作,而不會發(fā)生閂鎖。經(jīng)測試,該IC可受到-30V至+45V (IEC61000-4-5)的浪涌保護(hù)和高達(dá)+20.5V的過壓保護(hù)。

          圖4將這種高度集成的擴(kuò)展保護(hù)解決方案PCB布局與提供純正電涌保護(hù)及較低OV和ESD保護(hù)的典型競爭產(chǎn)品進(jìn)行了比較。后者需要額外的電路來滿足ESD/浪涌/OV規(guī)范要求,增加了BOM成本,并且PCB占用空間增加了5倍。

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          圖4 擴(kuò)展保護(hù)優(yōu)勢

          數(shù)據(jù)完整性

          從圖5的眼圖可明顯看出,彎曲的藍(lán)線與禁止的紅色禁區(qū)保持接近最大(close-to-maximum)的距離,數(shù)據(jù)信號具有良好的完整性。保護(hù)IC的高帶寬使信號升降時間和抖動的下降幅度最小,從而產(chǎn)生良好的誤差容限,這對于通過USB一致性測試很重要。

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          圖5 D+/D-眼圖

          結(jié)論

          盡管USB Type-C在數(shù)碼相機(jī)和超薄平板電腦等電子產(chǎn)品的互連、供電和保護(hù)方面帶來了諸多新挑戰(zhàn)。但基于的設(shè)計解決方案可提供高達(dá)±15kV ESD保護(hù)、-30V至+45V浪涌保護(hù)和+20.5V過壓保護(hù)的增強(qiáng)型保護(hù)裝置,并可單獨(dú)保護(hù)數(shù)據(jù)線,與集成度較低的裝置相比,能夠以更低的BOM和更小的PCB占用空間來滿足ESD/Surge/OV規(guī)范要求。

          關(guān)于作者

          Nazzareno (Reno) Rossetti是ADI的模擬和電源管理專家。他是一名出版作家,在這一領(lǐng)域擁有多項(xiàng)專利。Reno畢業(yè)于意大利都靈理工大學(xué),獲電氣工程博士學(xué)位。

          Josh Fankhauser是ADI工業(yè)和醫(yī)療健康事業(yè)部的業(yè)務(wù)經(jīng)理,專注于工業(yè)通信解決方案業(yè)務(wù)。Josh擁有加州大學(xué)洛杉磯分校材料科學(xué)與工程碩士學(xué)位。



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