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          2022 Electronica 展會的 Seica:11月15日至18日,德國慕尼黑-展位A3-459

          作者: 時間:2022-10-20 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          是客戶尋找前沿解決方案的地方,在2022年展會A3-459展位上,他們將重點介紹旨在提供便利的、可持續(xù)的、同時強大的“可測試性設計”的創(chuàng)新解決方案。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202210/439364.htm

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          可測試性設計

           “可測試性設計”是電路板設計領域的一個眾所周知的概念,也是設計工程師每天必須處理的眾多要求之一。他們?nèi)粘9ぷ鞯牧硪粋€方面是設計驗證,特別是測試原型,所有這些都是在如今產(chǎn)品生命周期加速所帶來的市場限制的時間內(nèi)進行的:從概念到設計,到原型,再到生產(chǎn),再到遺留問題修復。

          的Pilot VX擁有一套廣泛的測量硬件和軟件工具,能夠以最小的工作量快速測試和驗證原型。當提到飛針測試儀時,首先想到的肯定是小批量測試,盡管Pilot VX所代表的最新一代測試儀由于速度和性能的顯著提高,已成為許多大批量生產(chǎn)環(huán)境中的關鍵。但增加了許多功能和工具,專門解決設計師在測試原型時的需求。

          對電路施加激勵并測量結(jié)果是對電路物理訪問的基本要求。PILOT VX能夠探測20μm焊盤,即使是非常小的目標,也可以精確地物理訪問,強大的Flylab軟件允許您與電路板“互動”,就像您手中有八個探針和一張可用的儀器表,可以隨時用于執(zhí)行驗證測試一樣,無需對測試人員進行專門培訓或生成測試程序??梢允褂眉蓴z像頭并點擊圖形板圖像手動選擇接觸點,然后簡單直觀的軟件界面通過簡單選擇測量類型并輸入值來實現(xiàn)參數(shù)和功能測量。系統(tǒng)自動定位移動探針,測量結(jié)果顯示在集成示波器上。此外,飛針上電測試功能還提供了為電路板(每個探針最多2A個)提供所有8個標準電子探針的能力,以實現(xiàn)有源電路測試和其他功能測試,這些測試是設計驗證過程的重要組成部分。紅外熱掃描配件是另一個有用的驗證工具,允許用戶獲取通電板的配置文件,以檢查電路各個部分的熱行為。

          當然,SEICA的VIVA軟件平臺還包括一個快速、簡化的過程,從電路板CAD數(shù)據(jù)開始自動生成和調(diào)試完整的測試程序,從而能夠立即測試原型電路板,以檢測任何制造錯誤。功能測試可以通過功能強大的QuickTest軟件輕松創(chuàng)建,只需了解待測電路(不一定是測試儀或編程語言)。移動連接器配件通過專用的單個移動探針來攜帶多達10個通道,可以訪問邊界掃描電路,并在無需任何外部固定電纜的情況下增加在板編程功能,從而進一步擴展了測試能力。

          設計師通常必須實施最初的功能測試規(guī)范,而Seica的 MINI Line測試解決方案提供了廣泛的集成儀器、開關矩陣和用戶電源,使其成為開發(fā)定制測試基準的一個非常有用且具有成本效益的平臺。用戶可以自由選擇配置和編程語言:Seica的VIVA集成平臺(VIP?) 能夠輕松集成現(xiàn)成的儀器,可以使用VIVA Test Studio環(huán)境或廣泛的第三方軟件(包括LabView?、TestStand?、C和Python)開發(fā)測試序列。與自制的“機架堆疊式”測試臺不同,Seica的MINI測試解決方案具有標準的“核心”VIP? 包括完整的用戶文檔和自我診斷程序,確保其隨時間和資源周轉(zhuǎn)的可持續(xù)性和可維護性。此外,在MINI上開發(fā)的程序完全可移植到其他SEICA系統(tǒng),這有助于快速輕松地設置制造測試過程。

          PILOT和MINI測試解決方案(與所有SEICA系統(tǒng)一樣)包括支持每個單板測試結(jié)果完全可追溯性的特性和性能,使其可用于后續(xù)維修操作、統(tǒng)計分析等,并通過常駐維修站軟件模塊或外部信息系統(tǒng)將其存儲在本地。Pilot VX添加了更多信息,因為它包括收集和存儲測試探針在測試板上每個點上施加的機械壓力數(shù)據(jù)的能力,使其可用于可視化、圖形化和統(tǒng)計分析。

          來自機器的額外數(shù)據(jù)的采集和數(shù)字化是Canavisia工業(yè)4.0解決方案的一部分,SEICA展臺的參觀者將看到儀表盤和APP提供了連接資源的實時視圖以及統(tǒng)計報告。

          來參觀A3-459展位,看看SEICA為幫助您驗證原型而開發(fā)的各種前沿解決方案,盡可能減少工作量,最大限度地快速返回可跟蹤數(shù)據(jù)。



          關鍵詞: Electronica Seica

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