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          EEPW首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 基于串口通信開發(fā)的BLE芯片測(cè)試平臺(tái)

          基于串口通信開發(fā)的BLE芯片測(cè)試平臺(tái)

          作者:陳鳳林1,2,張鄭洪1,2,李恒1,2(1.中電科思儀科技(安徽)有限公司,安徽蚌埠 233010;2.電子測(cè)試儀器技術(shù)蚌埠市技術(shù)創(chuàng)新中心,安徽蚌埠 233010) 時(shí)間:2023-01-20 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏
          編者按:基于串口通信開發(fā)BLE藍(lán)牙芯片測(cè)試平臺(tái),針對(duì)藍(lán)牙芯片的測(cè)試方案,設(shè)計(jì)芯片和儀表的控制流程,完成BLE芯片的一鍵式自動(dòng)化測(cè)試,實(shí)現(xiàn)對(duì)藍(lán)牙芯片測(cè)試項(xiàng)的全面測(cè)試,為產(chǎn)線自動(dòng)化提供支持。

          模塊(BLE) 指的是藍(lán)牙4.0 版本以上的模塊,也是建立在傳統(tǒng)藍(lán)牙基礎(chǔ)之上發(fā)展起來(lái)的,并區(qū)別于傳統(tǒng)模塊,最大的特點(diǎn)就是成本和功耗降低,應(yīng)用于實(shí)時(shí)性要求比較高。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202301/442789.htm

          市場(chǎng)上低功耗的受用戶的喜愛度更深,因?yàn)樗梢越档碗娮釉O(shè)備的功耗和成本,滿足用戶的需求。BLE有以下特點(diǎn):低能耗具備經(jīng)典藍(lán)牙芯片的自適應(yīng)AFH技術(shù),可穩(wěn)定低能耗藍(lán)牙芯片的傳輸,因此低能耗藍(lán)牙芯片具有可靠性、安全性和穩(wěn)定性;連接范圍高達(dá)300 m;當(dāng)活動(dòng)停止時(shí),BLE 藍(lán)牙芯片大部分處于休眠狀態(tài),這樣可以降低設(shè)備的功耗;集成性和易用性;可以兼容BLE藍(lán)牙技術(shù)和經(jīng)典藍(lán)牙技術(shù),兼容性強(qiáng),還可以實(shí)現(xiàn)小型電池供電設(shè)備的高性價(jià)比。

          要保證BLE 藍(lán)牙芯片測(cè)試的高效性,本文基于現(xiàn)有藍(lán)牙測(cè)試儀表針對(duì)某款芯片的測(cè)試方案開發(fā)藍(lán)牙芯片測(cè)試平臺(tái),完成藍(lán)牙芯片的一鍵式。

          1   調(diào)制

          調(diào)制是基于 MSK 調(diào)制的,MSK 本身就是一種連續(xù)相位頻率偏移調(diào)制,在MSK 信號(hào)的基礎(chǔ)上,為了改善信號(hào)的旁瓣衰減性能,人們提出了在MSK 調(diào)制器前端增加一個(gè)濾波器進(jìn)行預(yù)調(diào)制的設(shè)想,引出了最小高斯頻移鍵控()的思想。雙極性脈沖序列在通過(guò)高斯低通濾波器后,其信號(hào)波形更加平滑,經(jīng)MSK調(diào)制器調(diào)制后,產(chǎn)生的調(diào)制信號(hào)的相位路徑更加平滑,功率譜的旁瓣衰減性能更好。GMSK 調(diào)制器實(shí)現(xiàn)如圖1所示。

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          圖1 GMSK調(diào)制器

          2   非標(biāo)藍(lán)牙信號(hào)和標(biāo)準(zhǔn)藍(lán)牙信號(hào)的區(qū)別

          針對(duì)藍(lán)牙信號(hào)的兩種測(cè)試模式,一種模式是芯片發(fā)出GMSK調(diào)制信號(hào),另一種是標(biāo)準(zhǔn)的藍(lán)牙測(cè)試信號(hào),即帶有藍(lán)牙數(shù)據(jù)包信息的前導(dǎo)。圖2是兩種信號(hào)頻率偏移(Frequency Deviation)差異。

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          圖2 兩種藍(lán)牙芯片信號(hào)的區(qū)別

          3   測(cè)試方案

          針對(duì)藍(lán)牙芯片發(fā)出的GMSK 調(diào)制信號(hào),時(shí)域信號(hào)類似于連續(xù)波,這種模式的信號(hào)對(duì)測(cè)試包的起始位置沒(méi)有特殊要求,只需要抓取足夠長(zhǎng)的信號(hào),進(jìn)行符號(hào)同步,進(jìn)而進(jìn)行測(cè)試項(xiàng)的計(jì)算即可。

          針對(duì)正常的藍(lán)牙包信號(hào),在時(shí)域上是有GAP 的,在抓取芯片信號(hào)的時(shí)候可以用沿觸發(fā)進(jìn)行抓取整包數(shù)據(jù),進(jìn)而進(jìn)行正常藍(lán)牙信號(hào)的解調(diào)分析。

          藍(lán)牙芯片的測(cè)試連接圖見圖3。

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          圖3 藍(lán)牙芯片的測(cè)試連接圖

          針對(duì)藍(lán)牙芯片發(fā)出的兩種信號(hào),具體的測(cè)試流程見圖4。

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          圖4 藍(lán)牙芯片信號(hào)處理流程

          具體過(guò)程描述如下:

          1)控制藍(lán)牙芯片發(fā)送GMSK 調(diào)制信號(hào)(payload類型11110000), 儀表配置信號(hào)觸發(fā)模式為“FreeRun”,F(xiàn)PGA 采集數(shù)據(jù)并保存如DDR 中;

          2)ARM 層從DDR 中取所需長(zhǎng)度的數(shù)據(jù)點(diǎn),并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行打包等預(yù)處理,上傳到驅(qū)動(dòng)層;

          3)驅(qū)動(dòng)層控制完成對(duì)信號(hào)的解調(diào)分析,并計(jì)算一些需要的測(cè)試項(xiàng);

          4)PC 完成剩余測(cè)試項(xiàng)的計(jì)算,并統(tǒng)計(jì)測(cè)試結(jié)果上報(bào);

          5)控制藍(lán)牙芯片發(fā)送GMSK 調(diào)制信號(hào)(payload類型10101010), 儀表配置信號(hào)觸發(fā)模式為“FreeRun”,F(xiàn)PGA 采集數(shù)據(jù)并保存如DDR 中;

          6)重復(fù)步驟2~4,完成對(duì)GMSK 調(diào)制信號(hào)的測(cè)試。

          7)控制藍(lán)牙芯片發(fā)送BLE 藍(lán)牙信號(hào)(payload 類型11110000),儀表配置信號(hào)觸發(fā)模式為“沿觸發(fā)”,F(xiàn)PGA 采集數(shù)據(jù)并保存如DDR 中;

          8)重復(fù)步驟2~4。

          9)控制藍(lán)牙芯片發(fā)送BLE 藍(lán)牙信號(hào)(payload 類型10101010),儀表配置信號(hào)觸發(fā)模式為“沿觸發(fā)”,F(xiàn)PGA 采集數(shù)據(jù)并保存如DDR 中;

          10)重復(fù)步驟2~4,完成對(duì)BLE 藍(lán)牙信號(hào)的測(cè)試;

          11)根據(jù)測(cè)試需要切換頻點(diǎn),重復(fù)測(cè)試步驟1~10。

          4   實(shí)例應(yīng)用

          將此方法應(yīng)用于XX 型號(hào)藍(lán)牙芯片測(cè)試,連接圖如圖5所示。

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          圖5 XX型號(hào)藍(lán)牙芯片測(cè)試測(cè)試連接圖

          啟動(dòng)測(cè)試軟件,完成芯片測(cè)試,測(cè)試結(jié)果(BLE2M)見圖6。

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          圖6 芯片測(cè)試結(jié)果(BLE2M)

          由測(cè)試結(jié)果可見,本平臺(tái)完成XX 型號(hào)藍(lán)牙芯片測(cè)試,測(cè)試結(jié)果均在芯片給定的指標(biāo)范圍內(nèi)。

          5   結(jié)束語(yǔ)

          本文針對(duì)XX 型號(hào)藍(lán)牙芯片,基于現(xiàn)有藍(lán)牙測(cè)試儀表設(shè)計(jì)藍(lán)牙芯片平臺(tái),通過(guò)設(shè)計(jì)藍(lán)牙芯片和測(cè)試儀表的控制流程,完成對(duì)藍(lán)牙芯片的一鍵式,測(cè)試指標(biāo)穩(wěn)定可靠,可應(yīng)用于藍(lán)牙芯片的產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試。

          參考文獻(xiàn):

          [1] Bluetooth Core Specification v 5.0.[M].

          [2] 張振環(huán).基于藍(lán)牙的無(wú)線測(cè)量系統(tǒng)研究與實(shí)現(xiàn)[D].北京:北京郵電大學(xué),2008.

          [3] 劉建泉.一種藍(lán)牙射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)[D].上海:上海交通大學(xué),2016.

          (本文來(lái)源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2023年1月17日)

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