亞毫歐電阻器帶來電流檢測優(yōu)勢
用于測量負(fù)載電流的標(biāo)準(zhǔn)方法之一是在負(fù)載線中插入一個(gè)低值電阻器并感測其兩端的電壓,圖 1,然后是歐姆定律的模擬或數(shù)字實(shí)現(xiàn)。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202302/443773.htm用于測量負(fù)載電流的標(biāo)準(zhǔn)方法之一是在負(fù)載線中插入一個(gè)低值電阻器并感測其兩端的電壓,圖 1,然后是歐姆定律的模擬或數(shù)字實(shí)現(xiàn)。
圖 1 (a) 電流檢測電阻器可以放置在電源軌和負(fù)載之間(高側(cè)),或 (b) 負(fù)載和地之間(低側(cè));高端檢測更難實(shí)施,但在許多情況下具有顯著的系統(tǒng)優(yōu)勢。資料:Analog Devices
與許多工程決策一樣,選擇使用什么電阻值是一種權(quán)衡。較高值的電阻器會(huì)在其端子上產(chǎn)生較高的 IR 壓降和電壓,從而簡化電壓感測并提高 SNR。但是,它會(huì)降低可能流向負(fù)載的功率,并且這種耗散還會(huì)導(dǎo)致電阻器自熱,從而帶來漂移和可靠性問題。
相比之下,較低值的電阻器可限度地減少這種下降,但會(huì)帶來精度和 SNR 問題。由于輸入電壓偏移和偏置電流,以及它們隨后的與溫度相關(guān)的漂移——所有這會(huì)破壞超出允許公差的感測值。
一般來說,使用較小值的電阻器,其相關(guān)電壓降和功率損耗較低,總體上更好,但僅在一定程度上。一個(gè)起點(diǎn)指南是確定電阻器的大小,使其在電流時(shí)壓降大約為 100 mV。對于許多應(yīng)用,快速計(jì)算 V = IR 可將電流檢測電阻值置于 1 到 10 毫歐之間。然而,在低壓應(yīng)用中,即使是適度的 100 mV 壓降和相關(guān)耗散,也可能超出可接受范圍。
近年來,用于讀取檢測電阻兩端電壓的精密低壓運(yùn)算放大器的可用性使得亞毫歐電流檢測電阻的使用成為可能。這些運(yùn)算放大器(例如 Texas Instruments TI INA185和 Analog Devices AD8417)具有超低電壓偏移和偏置電流以及低溫度系數(shù) (tempcos),因此使用此類低歐姆電阻器非常實(shí)用。
然而,與幾乎所有的進(jìn)步一樣,有一系列新的考慮和擔(dān)憂。我看到了 TT Electronics 的業(yè)務(wù)開發(fā)工程師 Stephen Oxley 撰寫的一篇出色的應(yīng)用說明。他討論了如何克服使用這些低歐姆值電流檢測電阻器時(shí)固有的挑戰(zhàn)。
在他相對適度的長度和高度可讀性的文章“克服使用亞毫歐 SMD 的挑戰(zhàn)”中,他解釋了使用這些電阻器與甚至毫歐級電阻器不同的許多方式,以及它們?nèi)绾尾磺‘?dāng)?shù)貞?yīng)用以使其精度,一致性,甚至可信度都會(huì)受到損害。
該應(yīng)用筆記提供了在使用亞毫歐感測電阻器時(shí)需要注意的三個(gè)方面:
如何以及為什么將這些亞毫歐芯片視為一類單獨(dú)的組件,而不僅僅是毫歐版本的低價(jià)值版本。
如何避免元器件選擇和 PCB 布局設(shè)計(jì)中的陷阱。
在每個(gè)階段量化和化錯(cuò)誤和變化的方法。
在眾多細(xì)節(jié)中,有與幾乎強(qiáng)制使用四線開爾文連接相關(guān)的問題,以及在何處以及如何進(jìn)行這些連接的細(xì)微差異如何影響性能;預(yù)測和適應(yīng)由不同金屬連接處的熱電效應(yīng)產(chǎn)生的電壓差;整個(gè)傳感組件的電流路徑和電壓傳感回路;并聯(lián)使用多個(gè)電阻器以降低凈電阻或提高額定功率的不同方法(圖 3);當(dāng)然,還有不可避免的散熱問題。簡而言之:當(dāng)您的檢測電阻器本身為亞毫歐姆時(shí),電阻器到電路的路徑和接觸電阻將成為故事的重要組成部分。
圖 3即使是并聯(lián)使用兩個(gè)電阻器的簡單原理也會(huì)在使用超低值電阻器時(shí)帶來關(guān)于電流路徑的微妙布局考慮。資料:TT Electronics
我不會(huì)詳細(xì)總結(jié)這篇文章;您閱讀它更有意義。請注意,這篇文章幾乎完全是關(guān)于電阻器、材料、端接和電流路徑,幾乎沒有提到相關(guān)的電子設(shè)備——這是您必須計(jì)算誤差預(yù)算的另一個(gè)地方。
再,乍一看是一個(gè)簡單而有益的選擇,實(shí)際上充滿了許多微妙之處,以及錯(cuò)誤應(yīng)用新組件的方法,從而抵消了它可能提供的任何好處。畢竟,還有什么比檢測電阻器和歐姆定律更基本的呢?
更糟糕的是,您實(shí)際上可能會(huì)得到較差的結(jié)果而自己卻不知道,并假設(shè)您的讀數(shù)準(zhǔn)確且一致,結(jié)果卻發(fā)現(xiàn)信號和數(shù)據(jù)具有誤導(dǎo)性。它再次證明了一個(gè)事實(shí),即任何說“這是一個(gè)簡單的轉(zhuǎn)換”或“這一切都很好”的人要么是經(jīng)驗(yàn)豐富的資深工程師,要么是知識范圍的另一端。
您是否曾經(jīng)將新的設(shè)計(jì)或組件選項(xiàng)視為一種改進(jìn)的、有益的替代方案,后來才發(fā)現(xiàn)它也有令人驚訝的缺點(diǎn)?這些負(fù)面因素是您可以預(yù)料到的,并且可以通過做更多的功課來更好地評估,還是它們被深埋,有意或只是由于情況的復(fù)雜性?
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