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          在橋式結(jié)構(gòu)中的注意事項(xiàng) — 探頭的CMRR

          作者: 時(shí)間:2023-02-27 來(lái)源:羅姆 收藏

          在對(duì)橋式結(jié)構(gòu)中的高邊(HS)MOSFET進(jìn)行測(cè)試時(shí),通常使用高壓差分探頭或差分探頭(*4)來(lái)觀測(cè)波形,但所用探頭的共模抑制比()在高頻區(qū)域可能會(huì)降低,波形波動(dòng)可能會(huì)增加。尤其是在測(cè)量柵-源電壓VGS時(shí),涉及到測(cè)量幾伏級(jí)的浪涌,因此需要區(qū)分觀測(cè)到的波形是原始波形還是不足引起的波動(dòng)波形。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202302/443782.htm


          關(guān)鍵要點(diǎn)


          ?在對(duì)橋式結(jié)構(gòu)中的HS MOSFET進(jìn)行測(cè)試時(shí),所用探頭的共模抑制比()在高頻區(qū)域可能會(huì)降低,波形波動(dòng)可能會(huì)增加。

          ?尤其是在測(cè)量VGS時(shí),涉及到測(cè)量數(shù)伏級(jí)的浪涌,因此需要區(qū)分觀測(cè)到的波形是原始波形還是CMRR不足引起的波動(dòng)波形。

          ?光隔離差分探頭的CMRR頻率特性非常好,可觀測(cè)到原始波形。


          SiC MOSFET柵-源電壓測(cè)量:在橋式結(jié)構(gòu)中的注意事項(xiàng)探頭的CMRR


          在對(duì)橋式結(jié)構(gòu)中的高邊(HS)MOSFET進(jìn)行測(cè)試時(shí),通常使用高壓差分探頭或差分探頭(*4)來(lái)觀測(cè)波形,但所用探頭的共模抑制比(CMRR)在高頻區(qū)域可能會(huì)降低,波形波動(dòng)可能會(huì)增加。尤其是在測(cè)量柵-源電壓VGS時(shí),涉及到測(cè)量幾伏級(jí)的浪涌,因此需要區(qū)分觀測(cè)到的波形是原始波形還是CMRR不足引起的波動(dòng)波形。


          圖1為在橋式結(jié)構(gòu)中HS開(kāi)關(guān)時(shí)和LS開(kāi)關(guān)時(shí)的波形比較。所用的差分電壓探頭是日本橫河(YOKOGAWA)公司生產(chǎn)的701297(150MHz,1400V)。通過(guò)對(duì)比波形可以看出,LS開(kāi)關(guān)時(shí)的換流側(cè)(HS)VGS波動(dòng)較大。這是由于當(dāng)換流側(cè)以20~50V/ns的高速dV/dt變化時(shí),探頭的CMRR降低而引起的。


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          圖1. HS開(kāi)關(guān)時(shí)和LS開(kāi)關(guān)時(shí)的VGS波形比較


          圖2是旨在確認(rèn)這個(gè)原理而對(duì)差分電壓探頭的CMRR性能進(jìn)行測(cè)試的結(jié)果。該測(cè)試是將電壓探頭頭部的正極和負(fù)極分別連接到HS和LS的Driver Source引腳進(jìn)行測(cè)試的。這種測(cè)試方法在泰克(Tektronix)的應(yīng)用指南“ABCs of Probes”(*5)中有詳細(xì)介紹,請(qǐng)參考。


          1677061141195369.png圖2. 隔離型電壓探頭的CMRR性能


          在圖2中,導(dǎo)通時(shí)和關(guān)斷時(shí)的波形中,在Driver Source引腳的電位處,HS和LS均在開(kāi)關(guān)時(shí)出現(xiàn)電壓波動(dòng)。然而,在開(kāi)關(guān)動(dòng)作結(jié)束后,LS恢復(fù)到了開(kāi)關(guān)前的狀態(tài),而HS則殘留了一定電位。這就是造成CMRR誤差的原因。這種殘余電位會(huì)隨著時(shí)間的流逝(數(shù)微秒)而消失。在本次測(cè)試中,Driver Source引腳的電位在VDS上升時(shí)向負(fù)側(cè)變化,在VDS下降時(shí)向正側(cè)變化,不過(guò)受差分探頭特性的影響,有時(shí)也會(huì)向相反的方向變化。最近,測(cè)量設(shè)備制造商推出了一種光隔離差分探頭,它不受CMRR的影響,作為可以準(zhǔn)確測(cè)量波形的有效解決方案而備受關(guān)注。


          下面介紹一下光隔離差分探頭與普通高壓差分探頭之間的性能差異。光隔離差分探頭是采用泰克(Tektronix)IsoVu?技術(shù)的、由泰克生產(chǎn)的產(chǎn)品(TIVH08、MMCX50X)。


          用于測(cè)試的電路板(P02SCT3040KR-EVK-001)上,有用來(lái)安裝MMXC連接器的圖案,該連接器可以連接光隔離探頭。如圖3所示,在測(cè)試時(shí),同時(shí)連接了光隔離探頭和普通的高壓差分探頭。正如此前介紹過(guò)的,為了盡可能地消除測(cè)量位置和差分電壓探頭的安裝位置對(duì)波形造成的影響,電壓探頭的測(cè)量位置是在SiC MOSFET正下方焊接了一根短的延長(zhǎng)線,并連接了一個(gè)100Ω的阻尼電阻。圖4為兩種探頭的柵-源電壓VGS波形。


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          圖3. 光隔離差分探頭(下)與普通的高壓差分探頭(上)


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          圖4. 使用光隔離差分探頭和普通的高壓差分探頭


          觀測(cè)到的HS開(kāi)關(guān)時(shí)的VGS波形和CMRR性能比較


          由于HS正在執(zhí)行開(kāi)關(guān)動(dòng)作,因此HS的柵-源電壓VGS由于普通高壓差分探頭的CMRR降低而導(dǎo)致在導(dǎo)通后超過(guò)18V驅(qū)動(dòng)電壓,并在關(guān)斷后降至0V以下(綠線)。而光隔離探頭在18V和0V處沒(méi)有顯示出可能受CMRR影響的波動(dòng),由此可以認(rèn)為采用光隔離探頭能夠觀測(cè)到準(zhǔn)確的開(kāi)關(guān)工作波形。


          從圖5所示的CMRR頻率特性比較中也可以看出這些結(jié)果(*4,*6) 。從圖中可以看出,與高壓差分探頭相比,光隔離探頭的CMRR頻率特性要好得多,就連數(shù)十MHz的共模噪聲都可以消除干凈。


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          圖5. 光隔離差分探頭與普通高壓差分探頭之間的CMRR特性比較


          IsoVu?是泰克(Tektronix)公司的注冊(cè)商標(biāo)。

          *4. 參考資料:“逆變電路的評(píng)估方法”應(yīng)用指南(V1.3)巖崎通信機(jī)株式會(huì)社,2018年12月

          *5. 參考資料:“ABCs of Probes” Application Note (No. EA 60W-6053-14)Tektronix, 2016年1月

          *6. 參考資料:“Complete ISOLATION Extreme COMMON MODE REJECTION” White Paper(0/16 51W-60485-1)Tektronix, 2016



          關(guān)鍵詞: 羅姆 CMRR

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