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          如何評估驅(qū)動(dòng)芯片的模擬采樣精度

          作者: 時(shí)間:2023-12-13 來源:TI 收藏

          TI 針對新能源電驅(qū)應(yīng)用場景的明星產(chǎn)品有不帶 SPI接口的智能驅(qū)動(dòng)系列和帶SPI接口的 ASILD功能安全驅(qū)動(dòng)系列。具有DESAT保護(hù)、內(nèi)置米勒鉗位、隔離采樣通道、針對短路過流故障的/FLT pin及針對供電電源的RDY pin輸出。為TI的第二代功能安全柵極,具有可調(diào)驅(qū)動(dòng)電流,豐富的診斷保護(hù)功能和優(yōu)異的魯棒性。有一個(gè)隔離采樣通道,具有兩個(gè)隔離采樣通道,可以用于采樣模組溫度,DC link電壓等應(yīng)用場景。本文主要介紹隔離的采樣的應(yīng)用方法和精度分析。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202312/453878.htm

          1. 隔離采樣通道介紹

          驅(qū)動(dòng)的隔離采樣通道通常為模擬信號輸入,通過占空比信號或SPI輸出。對于non SPI的如UCC21750-Q1系列來說,從AIN pin輸入0-4.5V的模擬信號,通過APWM 輸出頻率為400kHz的PMW 信號,其占空比反應(yīng)輸入的模擬值大小,可以直接接到MCU的I/O口進(jìn)行讀數(shù),也可以通過外接RC轉(zhuǎn)換成模擬值讀取,如下圖1所示。 對于UCC5880-Q1來說,在內(nèi)置ADC采樣后,除了通過DOUT pin占空比輸出外,用戶還可選擇通過SPI對采樣結(jié)果進(jìn)行讀數(shù),如下圖2所示。

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          圖1 UCC21750-Q1內(nèi)置隔離采樣通道示意圖

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          圖2 UCC5880-Q1內(nèi)置隔離采樣通道示意圖

          2. 采樣偏置方式介紹

          模擬采樣通道的偏置方式通常有電壓型和電流型兩種。使用電流型偏置的應(yīng)用場景主要為外置熱敏二極管類的場合,參考圖3所示。芯片內(nèi)部產(chǎn)生恒定的電流源流過功率模組的熱敏二極管產(chǎn)生壓降,根據(jù)熱敏二極管的V-T特性曲線(如圖4)反推當(dāng)前的溫度。

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          圖3 電流型偏置示意圖

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          圖4 熱敏電阻溫度特性曲線

          電壓型偏置的應(yīng)用場景為母線電壓采樣或基于NTC或PTC 的溫度采樣。以母線電壓采樣為例,可以通過電阻網(wǎng)絡(luò)分壓將電壓采樣的范圍轉(zhuǎn)換到ADC輸入范圍。對UCC21750-Q1來說,內(nèi)部的偏置電流源不能關(guān)掉,所以分析結(jié)果時(shí)需要減去電流源在

          pastedimage1701762330435v5.png-640x480.png上產(chǎn)生的壓降影響。而對UCC5880-Q1來說, 在使用電壓偏置時(shí),可以通過寄存器配置關(guān)掉內(nèi)置的偏置電流源。

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          圖5 電壓型偏置示意圖

          3. 隔離采樣精度分析

          如下圖6所示,隔離采樣中的誤差主要有以下三個(gè)主要來源:

          · 信號源誤差

          · AD轉(zhuǎn)換誤差

          · MCU量化誤差

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          圖6 隔離采樣精度分析

          第一部分信號源誤差主要指的是對被采樣信號產(chǎn)生的測量誤差,使用電流偏置型電路的需要考慮電流源大小的誤差,使用電壓型偏置電路的需要考慮分壓電阻網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)生的誤差。如果使用了驅(qū)動(dòng)芯片的VREF輸出進(jìn)行偏置,也同樣需要考慮偏置源VREF本身產(chǎn)生的誤差。

          第二部分AD轉(zhuǎn)換誤差指驅(qū)動(dòng)芯片收到二次側(cè)的模擬信號輸入,轉(zhuǎn)換成占空比輸出產(chǎn)生的誤差。對UCC21750-Q1來說,這一誤差可以通過Datasheet的對應(yīng)電壓范圍的pastedimage1701762472255v8.png-640x480.png精度這個(gè)指標(biāo)得到。對UCC5880-Q1來說,在不同的輸入電壓范圍ADC精度的LSB不同,以pastedimage1701762732194v9.png-640x480.png電壓下 ADC精度worst casepastedimage1701762896564v10.png-640x480.png為例,采樣精度為pastedimage1701763012801v11.png-640x480.png,其中N為UCC5880-Q1 ADC的位數(shù)。

          第三部分MCU 對APWM/DOUT采樣的量化誤差, 這與MCU的采樣頻率和APWM/DOUT的輸出頻率相關(guān)。UCC21750-Q1的APWM頻率為固定的400kHz,而UCC5880-Q1 DOUT輸出頻率為兩檔可配。這一部分產(chǎn)生的量化誤差為pastedimage1701763071496v12.png-640x480.png,其中pastedimage1701763380179v13.png-640x480.png為MCU采樣頻率,pastedimage1701763408552v14.png-640x480.png為驅(qū)動(dòng)芯片PWM輸出頻率。 這里需要注意的是MCU 采樣的是占空比還是導(dǎo)通時(shí)間。如果MCU采樣的是導(dǎo)通時(shí)間,則還需要考慮PWM輸出頻率抖動(dòng)造成的影響。

          當(dāng)然,如果將驅(qū)動(dòng)芯片PWM輸出通過RC濾波形成模擬量采樣,則不需要考慮量化誤差的影響,只需要考慮MCU端采樣的精度。如果使用UCC5880-Q1并通過SPI對AD采樣結(jié)果進(jìn)行讀數(shù),也不需要考慮第三部分的影響。



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