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          正確理解DRV8705-Q1的VGS檢測機制

          作者:時間:2023-12-21來源:TI收藏

          作者:Frank Qin

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202312/454136.htm

          Abstract

          隨著汽車電子的快速發展,汽車上很多電機的驅動方式已經從傳統繼電器逐漸演變成為MOSFET驅動的直流電機。同時,為了實現更高速和更精確的控制,現在對于MOSFET預驅的要求也逐漸變高。-Q1作為一款高度集成式 H 橋柵極驅動器不僅可以滿足現在越發精細的需求,也可以實現更多元的保護,確保系統運行過程中的各種風險和錯誤都可以被識別到并實施保護。本文即具體討論-Q1的機制以及一些經驗分享。


          Contents

          1. 背景介紹............................................................1

          2. 診斷和保護類型..................................................2

          2.1 VGS監控機制................................................... 2

          2.2 VGS監控觸發點:tDRIVE 以及deglitch time.......3

          2.3 VGS報錯和恢復機制......................................... 4

          2.4 VGS監控和INx信號反轉的關系......................... 4

          3..... Corner case舉例............................................ 5

          4..... 總結................................................................ 6

          參考文獻..................................................................6

           

          Figures

          Figure 1.       內部設計示意框圖......................................... 2

          Figure 2.       VGS錯誤檢測的觸發點和有效區間................................. 3

          Figure 3.       VGS報錯和不報錯的兩種情況........................................ 4

          Figure 4.       MOSFET閉合太緩導致的VGS誤報舉例....................... 6


          1. 背景介紹

          DRV8705-Q1 是一款高度集成式 H 橋柵極驅動器,能夠驅動高側和低側 N 溝道功率 MOSFET。它可使用集成式倍增電荷泵(針對高側)和線性穩壓器(針對低側)生成合適的柵極驅動電壓。DRV8705-Q1 提供了一系列保護功能,可確保系統穩定運行。此類功能包括適用于電源和電荷泵的欠壓和過壓監控、適用于外部 MOSFET 的 VDS 過流和 VGS 柵極故障監控、離線開路負載和短路診斷,以及內部熱警告和熱關斷保護功能。DRV8705-Q1有兩種版本,H版本為硬線版本,可以簡化控制并節省MCU引腳資源。S版本為SPI控制,可以詳細配置和診斷。

          2. 診斷和保護類型

          DRV8705-Q1可以支持多種診斷和保護類型,包括運行前的系統監控(offline diagnostic)和運行中的故障監控:對于電源和電荷泵的欠壓及過壓監控、針對外部MOSFET的VDS和VGS柵極故障監控、離線開路負載和短路檢測,以及內部熱警告和熱關斷保護。其中為了保護外部MOSFET,和保護尤為重要:通過對外部MOSFET的VGS電壓的監控并控制MOSFET的開關,可以有效防止MOSFET的柵極短路錯誤或柵極電壓卡在高位或低位的情況。

          Figure 1. DRV8705內部設計示意框圖

          2.1 VGS監控機制

          VGS(柵源電壓)是柵極相對于源極的電壓,VTH(閾值電壓)是MOSFET導通或截止的閾值。柵源電壓(VGS)與閾值電壓(VTH)之間的關系直接決定了MOSFET的導通與截止狀態。要實現 MOSFET的開關功能,需要確保 VGS 大于 VTH。在MOSFET導通時,柵源電壓(VGS)大于閾值電壓(VTH),溝道形成,電流可以通過器件。而在MOSFET截止時,柵源電壓(VGS)小于閾值電壓(VTH),溝道被堵塞,電流無法通過。

          因此DRV8705通過監控VGS和設定的閾值VGS_LVL做比較(如圖1),來判定MOSFET是否正確的導通或者截止。以此來防止輸出錯誤、柵極短路以及上下管直通的問題。VGS_LVL可以通過寄存器9h bit1來修改,有1V和1.4V兩個選項。VGS fault會在VGSHx和VGSLx的上升沿和下降沿做檢測,當在tDRIVE時間內沒有檢測到VGS電壓穿過VGS_LVL時,就會報出VGS fault的錯誤,芯片停止輸出并提出警報(拉低nFAULT或WARN)。所以datasheet的Table 7-9將VGS觸發條件標注為VGS > VGS_LVL是不夠嚴謹的,應以datasheet章節7.3.8.8 Gate Driver Fault (VGS_GDF)中描述的“cross”為準,可以包含上升沿和下降沿的兩種情況。

          2.2 VGS監控觸發點:tDRIVE 以及deglitch time

          MOSFET正在打開或者閉合的這個時間稱之為tDRIVE,也就是VGSHx和VGSLx這兩個電壓正在上升或者下降的時間(如圖2)。對于VGS錯誤檢測來說,tDRIVE時間就是blanking time,這個時間內VGS相對于閾值的關系是不會被關注的。而deglitch time是真正去判斷VGS和閾值之間相互關系的時間區間,對于DRV8705-Q1來說,無論是S還是H版本,deglitch time都固定在2us。也就是意味著如果VGS在這2us的時間內依然沒有穿過閾值,芯片會在認為MOSFET沒有正確地打開或者關閉,芯片會在2us結束后報錯。

          Figure 2. VGS錯誤檢測的觸發點和有效區間

          圖2中綠色部分比較直觀地展示了檢測VGS fault的場景,即VGSHx和VGSLx在上升沿和下降沿的tDRIVE(blanking time)結束后開始檢測,deglitch time是緊接著tDRIVE結束后立即開始的。在綠色區域的時間內檢測到的VGS錯誤都會在2us的deglitch time結束后報錯。圖3舉例說明了VGS報錯和不報錯的兩種情況。

          Figure 3. VGS報錯和不報錯的兩種情況

          請注意,對于DRV8705-Q1來說,tDRIVE的時間并不是由MOSFET決定的。H版本的tDRIVE固定為4us,S版本的tDRIVE是可以通過寄存器調整的(2~96us)。因此,在利用DRV8705-Q1s設計時,請根據選用的MOSFET型號以及配置的IDRIVE電流確定合適的芯片tDRIVE時間。判斷標準為,需保證MOSFET打開或閉合的時間不長于DRV8705-Q1的tDRIVE時間,否則極有可能被芯片判斷為VGS fault。

          2.3 VGS報錯和恢復機制

          當VGS fault被診斷出后,DRV8705S-Q1可以支持四種不同的報錯和恢復機制,可以根據實際系統需要進行選擇:

          1. Latched Fault Mode:發現錯誤后,驅動停止使能,nFAULT pin、FAULT寄存器和VGS寄存器都會報錯。而且當故障移除后必須通過手動清除CLR_FLT寄存器才可以重置并恢復驅動。

          2. Cycle by Cycle Mode:發現錯誤后,驅動停止使能,nFAULT pin、FAULT寄存器和VGS寄存器都會報錯。當下一個PWM信號進來后,驅動即可自行恢復。但是VGS寄存器仍會留存信息,需要手動清除CLR_FLT寄存器。

          3. Warning Report Only Mode:發現錯誤后芯片只會通過寄存器和WARN提示,并不會中止輸出。

          4. Disabled Mode:發現錯誤后不會有任何的反饋和提醒。

          DRV8705H-Q1版本是固定在了Cycle by Cycle Mode,tDRIVE和deglitch time也都是固定不可調的。

          2.4 VGS監控和INx信號反轉的關系

          DRV8705-Q1支持PWM控制,因此MOSFET上下管的開閉也是可以通過PWM不同的占空比來實現不同的開閉頻率。因此代表PWM信號反轉的INx信號可以看作是MOSFET開閉動作的觸發。如圖2所示,每次INx信號反轉都出發了MOSFET上管或下管的閉合。

          但是,當占空比很小時,INx的反轉信號很可能會落在tDRIVE或deglitch time這個區間中。INx落在不同的地方也會給VGS診斷帶來不同的影響,VGS診斷報錯也會做出不同的反饋。根據IN信號發生反轉的不同時間點,以DRV8705H-Q1(tDRIVE=4us)為例,三種情況分類如下:

          1. 當IN信號反轉發生在blanking/tDRIVE time(4us)內,此時是VGS的blanking time,錯誤不會被識別。而新周期的診斷會隨著IN信號反轉同步開始。

          2. 當IN信號反轉發生在deglitch time(2us)內,此時如果有相應錯誤已經達成觸發條件,nFAULT依然會在deglitch time后報錯。而新的診斷是隨著IN信號反轉同步開始。

          3. 當IN信號反轉發生在blanking和deglitch time(4+2us)之后,隨著IN反轉,上一個診斷直接停止,進入下一個周期的診斷。


          3. Corner case舉例

           

          如下圖4的示波器截圖,測試芯片是H版本的DRV8705H-Q1。其中綠色是IN信號,藍色是VGSHx,粉色是VGSLx,黃色是nFAULT信號,X軸每格是2us。

          從波形可以看出,黃線nFAULT拉低表示報錯,芯片判斷為VGS  fault,nFAULT拉低的時間正好大約是IN信號拉高的6us之后,也就是tDRIVE+deglitch的(4+2)us。從綠色的IN信號可以算出,此時的PWM(50Hz)占空比很高,是92%,MOS管上管下降很緩,沒能在IN高電平的時間內完成下降,粉線表示的下管沒有成功開啟,可以看到此時藍線表示的上管已經開始第二次開啟。從波形圖可以清楚看到,由于MOSFET下降太緩,導致沒能完成閉合。這個case巧合的地方在于,IN信號反轉的時間點正好和tDRIVE時間結束也就是deglitch time診斷開始的時間點是重合的。對于VGS診斷來說,此時就正式開始監控,而恰好此時IN信號發生反轉,則VGS診斷直接記錄了此時的VGS電壓并在2us的規定動作之后報錯拉低了nFAULT。

          這個case雖然巧合,恰好因為PWM占空比的IN反轉信號踩在了blanking time結束的時間點,觸發了診斷報錯。但是真正引發錯誤的根本原因是MOSFET下降太緩,沒有在tDRIVE的時間內完成下降而觸發了錯誤。因此在配置tDRIVE時間以及MOSFET選型時,這是需要注意規避的要點。

          Figure 4. MOSFET閉合太緩導致的VGS誤報舉例

           

          4. 總結

          DRV8705-Q1作為一款集成了多種診斷和保護功能的H橋柵極橋驅芯片,可以靈活應用在各類需要馬達驅動的汽車類應用中。正確理解DRV8705-Q1的診斷和保護模式也可以更好地利用該芯片實現安全高效地應用。

           

          參考文獻

          1. DRV8705-Q1 數據手冊 (SLLSFB6A)

          2. Smart Gate Drive (SLVAE70)

          3. Understanding Smart Gate Drive (SLVA714D)



          關鍵詞: TI DRV8705 VGS檢測

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