纖毫畢現，ACF導電粒子在線檢測微分干涉光學系統(tǒng)

微分干涉相襯觀察法（Differential Interference Contrast，DIC）是基于光學干涉原理，通過引入相位差和干涉現象的一種特殊顯微成像技術。從光源射出經過起偏器后的線偏振光，通過一個有雙折射性質的的分光束棱鏡，分解成兩束正交方向振動的偏振光，當這兩束空間間隔極小的相干光束照射到樣品表面時，樣品表面的微小凹凸和材料折射率的差異會導致兩個光束光程差的產生，兩束具有光程差的光束經過分光棱鏡重新匯合，通過檢偏器后使它們的振動方向一致從而發(fā)生干涉現象。

這種干涉現象與光程差的存在，將樣品表面的微小細節(jié)差異轉化為圖像明暗對比增強的效果，在2D成像時可以展現出一種立體浮雕般的三維效果。起初該技術旨在解決傳統(tǒng)顯微鏡對未染色透明生物樣品的低對比度問題。

茉麗特DIC產品

隨著技術的進步和DIC顯微鏡的改進，DIC觀察法在分辨率、對比度和圖像質量方面得到了提升。數字成像系統(tǒng)的引入使得觀察到的圖像可以直接轉化為數字圖像，并進行后續(xù)的圖像分析和處理。

在工業(yè)機器視覺領域，DIC作為一種新興的觀察檢驗方法，憑借其不同于常規(guī)明視場、暗視場照明的獨特成像原理，正越來越受到廣泛應用。尤其近年來，在新型能源汽車的爆發(fā)式發(fā)展帶動下，部分上游配套產業(yè)，如智能座艙所需更多的車載顯示面板、高壓快充所需第三代功率半導體（SiC、GaN）需求也迎來迅速增長，DIC正成為其中部分制程中關鍵的觀察手段，如導電粒子壓合、晶圓表面缺陷檢測等。

2018年，茉麗特根據中國市場信息，結合自身技術實力，發(fā)布了第一款DIC筒鏡。通過調整DIC顯微鏡的參數，如偏振器的角度和起偏檢偏相對位置，可以改變干涉圖像的外觀和對比度。這使得茉麗特的DIC顯微鏡能夠提供高分辨率、高對比度和三維立體效果的圖像，揭示樣品中微小的相位差異和細微結構的細節(jié)。

突出優(yōu)勢1：超高亮度

茉麗特同時擁有鏡頭、光源的設計與制造能力，成像仿真技術與照明技術相配合，超高的照明亮度可以搭配最大靶面28mm線掃相機，進行高速線掃成像。

突出優(yōu)勢2：高粒子對比度/高分辨率

茉麗特結合50年來的光學設計與加工經驗積累，自行設計制造分光束棱鏡，更好的平衡分光寬度與分光高度，獲得更高的粒子對比度同時保證高分辨率。

突出優(yōu)勢3：高均勻性

光源和光學部分的一體化設計，優(yōu)化兩者配合，擁有更高的均勻性。   

應用案例

不僅如此，除在工業(yè)領域幫助工程師和研究人員進行精密制造和質量控制外，DIC在材料科學、生命科學等領域也正發(fā)揮著強大的作用。茉麗特作為機器視覺行業(yè)的光學元件及解決方案提供商，也期待客戶能提出更多的行業(yè)需求與應用信息，我們將通過領先的技術創(chuàng)新及產品創(chuàng)造，持續(xù)為中國及全球客戶提供優(yōu)質的技術解決方案及服務。