使用近場(chǎng)探頭和電流探頭進(jìn)行EMI干擾排查
在開發(fā)電子產(chǎn)品的過程中,電磁干擾EMI(Electro
Magnetic
Interference)是工程師們不得不考慮的問題。電磁干擾(EMI)可能會(huì)導(dǎo)致許多問題,尤其是在產(chǎn)品開發(fā)階段或產(chǎn)品驗(yàn)收階段。如果電路設(shè)計(jì)受到電磁干擾的影響,可能會(huì)出現(xiàn)亂碼顯示,數(shù)據(jù)接觸不良或者是其他線路故障。為了最大限度地減少電磁干擾的影響,各個(gè)國(guó)家的政府機(jī)構(gòu)都制定并實(shí)施了針對(duì)各個(gè)產(chǎn)品類型的EM輸出的嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn),一般我們稱為電磁兼容性(EMC)測(cè)試。所有電子相關(guān)的產(chǎn)品在上市前必須強(qiáng)制性通過電磁兼容性測(cè)試。
許多EMC兼容測(cè)試失敗的原因主要來源于電路中的射頻能量泄漏和電路板設(shè)計(jì)本身的相互影響。引起這種干擾的電場(chǎng)和磁場(chǎng)肉眼是不可見的,并且當(dāng)我們想要深究其原因以期能最小化EMI影響時(shí),往往會(huì)發(fā)現(xiàn),問題是非常復(fù)雜的。
是什么導(dǎo)致了這個(gè)問題?
造成輻射干擾的信號(hào)或能量來源在哪里?
我該如何解決?
好在,我們可以通過一些簡(jiǎn)單的工具和技術(shù)來幫助識(shí)別EMI干擾源。一旦確定了干擾源,我們就可以開始著手解決問題。那么怎么去找出干擾源呢?我們需要用到一種技術(shù),這種技術(shù)不是嚴(yán)格意義上的標(biāo)準(zhǔn)EMC兼容測(cè)試,而是一種預(yù)測(cè)試,它可以幫助我們快速找到干擾源可能存在的地方,并且不需要昂貴的專業(yè)設(shè)備和實(shí)驗(yàn)室裝置。
在本篇應(yīng)用指南中,我們將介紹一些常用的預(yù)兼容測(cè)試相關(guān)的技術(shù),例如使用近場(chǎng)探頭和電流探頭來查找可能的EMI泄漏源。此項(xiàng)技術(shù)可以快速地識(shí)別問題,有效地節(jié)約時(shí)間和經(jīng)濟(jì)成本。此外,通過一些小小的家具,就可以創(chuàng)建出可重復(fù)的測(cè)試站來關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù),這些數(shù)據(jù)可以在你下一款產(chǎn)品進(jìn)行EMC測(cè)試時(shí)提供很有價(jià)值的參考。
需要注意的是,預(yù)一致性測(cè)試旨在于幫助識(shí)別和解決可能會(huì)阻礙EMC認(rèn)證的問題,并不能完全替代認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室的EMC合規(guī)測(cè)試。
通過測(cè)量由導(dǎo)體產(chǎn)生的電磁場(chǎng)的幅值和頻率,我們可以找出最可能導(dǎo)致EMI干擾問題的區(qū)域。
頻譜儀/EMI接收機(jī): 測(cè)量相對(duì)于頻率的RF功率。頻譜儀的最高輸入頻率應(yīng)該不低于1GHz, DANL為-100dBm (-40dBuV)或者更小,RBW不低于10kHz。
電流探頭:購(gòu)買或自制。
50歐姆同軸線纜:使用與近場(chǎng)探頭和頻譜分析儀RF輸入口相匹配的線纜。如果需要的話,探頭,同軸線纜,連接器可以同時(shí)配套購(gòu)買。
探頭:因?yàn)槿祟惖娜庋蹮o(wú)法直接看到電磁波,所以我們需要借助一些工具輔助測(cè)量?;叵胍幌挛覀儎倓偺岬降?,導(dǎo)體中的移動(dòng)電荷產(chǎn)生輻射到整個(gè)空間的電磁場(chǎng)。我們可以通過測(cè)量電磁場(chǎng)功率值來衡量電路中的感應(yīng)電壓,從而間接地測(cè)量出源電場(chǎng)的強(qiáng)度。在EMI故障排除的過程中,最常用到的兩種探頭是近場(chǎng)探頭和電流鉗。
近場(chǎng)探頭和電流鉗具有類似的原理。 流過探針的“環(huán)路”區(qū)域的磁場(chǎng)會(huì)產(chǎn)生可測(cè)量的電壓(圖4)。環(huán)形區(qū)域越大,磁通量就越大,因此更適合尋找一些小信號(hào)。但是小的環(huán)形區(qū)域提供更好的空間分辨率(從而可以更精確地找到問題點(diǎn))。許多測(cè)試工具中的探頭都有多種環(huán)尺寸(見圖5),從而幫助用戶更好地實(shí)現(xiàn)靈敏度和空間分辨率之間的平衡。
電場(chǎng)探頭通常不會(huì)有一個(gè)環(huán)形的區(qū)域。用他們獲得電場(chǎng)信息的方法更像是單極天線。與磁場(chǎng)探頭一樣,電場(chǎng)探針旋轉(zhuǎn)與否不影響測(cè)量結(jié)果,但與信號(hào)源的距離是非常重要的影響因素。
以下是探頭的使用指南:
關(guān)閉被測(cè)設(shè)備,觀察頻譜儀的測(cè)量值,測(cè)出本底輻射。注意,任何可能由環(huán)境或者本底輻射引起的的射頻干擾都要關(guān)注。如果在屏蔽良好的實(shí)驗(yàn)室中,這個(gè)問題可能不是很大,但在普通的實(shí)驗(yàn)室中,一定要提前測(cè)得環(huán)境中存在的本底干擾。
探頭的擺放,通信端口終端,以及機(jī)器外殼的接縫、通風(fēng)口等,這些都是在測(cè)試中容易出現(xiàn)問題的地方。
電場(chǎng)或磁場(chǎng)的探頭離信號(hào)源近一點(diǎn)會(huì)測(cè)得更高幅值。
磁場(chǎng)探頭放置的方向垂直于磁場(chǎng)會(huì)比平行于磁場(chǎng)測(cè)得更高的數(shù)據(jù)。
因?yàn)樵谥貜?fù)的實(shí)驗(yàn)中探頭的位置是比較重要的,因此把一個(gè)不導(dǎo)電的夾具(如木頭,塑料)固定在被測(cè)設(shè)備上,那么探頭就可以使用了。記住,探頭的位置和放置方向是十分重要的,一點(diǎn)點(diǎn)的位置偏差或者一點(diǎn)點(diǎn)的角度偏差都會(huì)在對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行實(shí)驗(yàn)時(shí)引起很大的誤差。
電流鉗和近場(chǎng)探頭的原理類似我們可以直接從商家購(gòu)買或把線圈纏在鐵夾和BNC連接器上自己制作(如圖7所示)。把電流鉗靠近待測(cè)的線纜,同時(shí)把它連接到頻譜儀的輸入端口,把頻譜儀的頻率調(diào)到設(shè)定的范圍。
如果不能確定輸入信號(hào)的大小,可以在測(cè)量之前給頻譜儀的RF輸入端加一個(gè)外置的衰減器。電源線或者其它高功率的應(yīng)用可能會(huì)影響頻譜儀RF輸入端口的靈敏度。
測(cè)量所有可能和被測(cè)設(shè)備連接的線纜。包括電源線,USB線,網(wǎng)線等。(如圖8)
如果你的RF測(cè)量實(shí)驗(yàn)失敗了,那么從出現(xiàn)錯(cuò)誤的頻率以及產(chǎn)生這些頻率的基波開始著手尋找問題。
以下是一些可參的實(shí)驗(yàn)技巧,可以幫助我們觀察更多實(shí)驗(yàn)中的細(xì)節(jié):
大多數(shù)的頻譜儀不具有預(yù)選器。如果你是用一個(gè)不配備預(yù)選器的頻譜儀,你觀察到的峰值可能不是真實(shí)的。由于帶外信號(hào)和待測(cè)信號(hào)混合在一起,沒有預(yù)選器的頻譜儀很可能會(huì)觀測(cè)到一個(gè)假峰。
你需要通過外加一個(gè)衰減器(可以3dB或者10dB)測(cè)試一下這個(gè)峰值的有效性,真實(shí)的峰值會(huì)隨著衰減量下降。如果峰值下降的量大于外加衰減的量,那么這個(gè)峰值很可能是一個(gè)假峰。把這個(gè)假峰標(biāo)注出來和兼容測(cè)試中得到的結(jié)果進(jìn)行對(duì)比。你也可以使用預(yù)選器或者EMI接收器,但是這些配件對(duì)于大多數(shù)快速測(cè)試來說是成本高昂的。
圖10 是一個(gè)典型的峰值測(cè)試實(shí)驗(yàn),黃色的軌跡是沒有使用衰減器得到的,紫色的則是給頻譜儀的射頻輸入端外加了一個(gè)10 dB的衰減器得到的,這種情況下,峰值下降的量和所添加的衰減量是一致的。這有助于確認(rèn)該峰值是真峰而不是帶外信號(hào)的產(chǎn)物。
一些具有最大軌跡類型保持功能的頻譜儀將會(huì)連續(xù)的保存每次頻率掃描的最大值,你可以把一個(gè)單軌作為“清除寫入”(你可以打開一條跡線為“清除寫入”狀態(tài)),來表現(xiàn)射頻信號(hào),然后把另一條設(shè)置為最大保持。這使得你可以比較被測(cè)設(shè)備在最壞的情況下的收集的數(shù)據(jù)的變化,并且使用最大保持功能“固定”它們。
可以使用標(biāo)記和峰值表功能去清楚的找出峰值頻率和幅值。
2.電場(chǎng)由流動(dòng)的電流或者靜電荷產(chǎn)生。使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭在金屬平面(例如散熱器,機(jī)箱,顯示屏的邊界或者是機(jī)殼的縫隙等)去甄別電磁輻射。
3.使用電流鉗去甄別潛在的輻射和從線纜和連接器泄漏的諧振。
4.顯示屏,機(jī)殼的縫隙,帶狀線纜和通信端口及總線是最可能導(dǎo)致輻射泄漏的地方。
5.用導(dǎo)電帶或鋁箔包裹住可能產(chǎn)生電磁泄漏的部分,并確認(rèn)包裹是接地的,再次掃描被包住的地方的EMI干擾是否減輕了。
6.連接不良的電纜和連接器也會(huì)導(dǎo)致輻射問題。
7.通過給被測(cè)器件斷電并觀察頻譜儀上的輸出,可以多次測(cè)量環(huán)境對(duì)實(shí)驗(yàn)的影響。在測(cè)量中要標(biāo)注出任何的變化以及它們所帶來的潛在的影響。
通過一些簡(jiǎn)單的設(shè)備,你可以在室內(nèi)進(jìn)行預(yù)兼容測(cè)試, 這會(huì)最大限度地減少產(chǎn)品開發(fā)時(shí)間,降低設(shè)計(jì)成本,以及減少下一代產(chǎn)品研發(fā)過程中的反復(fù)測(cè)量次數(shù)。
評(píng)論