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          我的熱插拔控制器電路為何會(huì)振蕩?

          作者: 時(shí)間:2024-11-06 來源:ADI 收藏

          使用高端N溝道MOSFET (NFET)的熱插拔控制器,浪涌抑制器、電子保險(xiǎn)絲和理想二極管控制器,在啟動(dòng)和電壓/電流調(diào)節(jié)期間可能會(huì)發(fā)生振蕩。數(shù)據(jù)手冊(cè)通常會(huì)簡要提到這個(gè)問題,并建議添加一個(gè)小柵極電阻來解決。然而,如果不清楚振蕩的根本原因,設(shè)計(jì)人員就可能難以在布局中妥善放置柵極電阻,使電路容易受到振蕩的影響。本文將討論寄生振蕩的原理,以幫助設(shè)計(jì)人員避免不必要的電路板修改。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202411/464341.htm

          最初,添加?xùn)艠O電阻可能沒什么必要,因?yàn)榭雌饋鞱FET柵極的電阻為無窮大。用戶可能會(huì)忽略這個(gè)步驟,并且不會(huì)出現(xiàn)問題,進(jìn)而會(huì)質(zhì)疑柵極電阻是否有必要。但10 Ω柵極電阻可以有效抑制柵極節(jié)點(diǎn)上振鈴。柵極節(jié)點(diǎn)含有諧振電路的元件,包括柵極走線本身。較長PCB走線會(huì)將寄生電感和分布電容引入附近的接地平面,從而形成通向地的高頻路徑。針對(duì)高安全工作區(qū)(SOA)優(yōu)化的功率FET具有數(shù)納法拉的柵極電容,為增加電流處理能力而并聯(lián)更多FET時(shí),此問題會(huì)加劇。用于鉗位FET的 V GS 的齊納二極管也會(huì)帶來寄生電容,不過功率FET的 C ISS 影響較大。

          圖1為帶寄生效應(yīng)的通用 PowerPath?控制器。

          圖1. 通用PowerPath控制器。

          旋轉(zhuǎn)電路后(見圖2),其與Colpitts振蕩器的相似性就非常明顯了(見圖3)。這是一個(gè)具有附加增益的諧振電路,能夠產(chǎn)生持續(xù)振蕩,使用N溝道FET的PowerPath控制器可能會(huì)采用這種配置。

          圖2. 旋轉(zhuǎn)后的PowerPath控制器。

          圖3. Colpitts振蕩器。

          Colpitts振蕩器使用緩沖器通過容性分壓器提供正反饋。在PowerPath控制器中,這是由FET實(shí)現(xiàn)的。它處于共漏極/源極跟隨器配置中,因此可充當(dāng)交流緩沖器,在更高漏極電流下性能更好。容性分壓器頂部的信號(hào)被注入分壓器的中間,導(dǎo)致分壓器頂部的信號(hào)上升,然后重復(fù)這一過程。

          振蕩常發(fā)生在以下FET未完全導(dǎo)通的情況中:

          1. 初始啟動(dòng)期間,當(dāng)柵極電壓上升且輸出電容充電時(shí)。

          2. 正在調(diào)節(jié)電流時(shí)(如果控制器使用有源限流功能)。

          3. 正在調(diào)節(jié)電壓時(shí)(如在浪涌抑制器中所見)。

          為了驗(yàn)證開關(guān)FET在Colpitts振蕩器拓?fù)渲械淖饔?,我們?gòu)建了一個(gè)沒有柵極驅(qū)動(dòng)器IC的基本電路(見圖5)。FET的 C GS (圖4中未顯示為分立元件)與C2構(gòu)成分壓器。

          圖4. NFET作為Colpitts振蕩器的測試電路。

          圖5. 電路原型。

          圖6中觀察到了振蕩,這表明高端NFET開關(guān)處于Colpitts拓?fù)渲小?/span>

          圖6. 示波器圖顯示施加直流電時(shí)出現(xiàn)振蕩。

          現(xiàn)在我們轉(zhuǎn)到熱插拔控制器,看看是否進(jìn)行調(diào)整以引起振蕩。演示板用于啟動(dòng)容性負(fù)載測試。在啟動(dòng)期間,柵極電壓按照設(shè)定的dV/dt上升,輸出也隨之上升。根據(jù)公式 I INRUSH = C LOAD × dV/dt,進(jìn)入輸出電容的沖擊電流由dV/dt控制。為了提高FET的跨導(dǎo) (g ),沖擊電流設(shè)置為相對(duì)較高的值3 A。

          測試設(shè)置(見圖7):

          • UV和OV功能禁用。

          • TRACE 代表走線電容,是10 nF分立陶瓷電容。

          • TRACE 是150 nH分立電感,位于 LTC4260的GATE引腳和NFET的柵極之間,代表走線電感。

          • 2 mΩ檢測電阻將折返電流限制為10A。

          • 68 nF柵極電容將啟動(dòng)時(shí)間延長至數(shù)十毫秒,在此期間FET容易受到振蕩的影響。

          • 15 mF輸出電容會(huì)在啟動(dòng)期間吸收數(shù)安培的沖擊電流,從而提高FET的 g 。

          • 12 Ω負(fù)載為FET的 g 提供額外電流。

          圖7. 簡化測試電路。

          注意圖8中的波形,一旦柵極電壓上升到FET的閾值電壓,GATE和OUT波形就出現(xiàn)振鈴,這是由GATE波形突然階躍導(dǎo)致沖擊電流過沖而引起的。隨后振鈴逐漸消退。

          圖8. 示波器圖顯示了啟動(dòng)期間逐漸衰減的振蕩

          為使瞬態(tài)振鈴進(jìn)入連續(xù)振蕩狀態(tài),必須增加FET的增益。將 V IN 從12 V提升至18 V,負(fù)載電流和 g 都會(huì)增加。這會(huì)將正反饋放大到足以維持振蕩的水平,如圖9中的示波器圖所示。

          圖9. 示波器圖顯示提高 VIN產(chǎn)生連續(xù)振蕩。

          現(xiàn)在問題已經(jīng)重現(xiàn),我們可以實(shí)施眾所周知的解決方案:將一個(gè)10 Ω柵極電阻與電感串聯(lián)(見圖10)。增加?xùn)艠O電阻后有效抑制了振蕩,使系統(tǒng)能夠平穩(wěn)啟動(dòng)(見圖11)。

          圖10. 添加?xùn)艠O電阻的演示板測試電路。

          圖11. 示波器圖顯示,添加?xùn)艠O電阻后,啟動(dòng)時(shí)無振蕩。

          回到基本的NFET Colpitts振蕩器,引入可切換柵極電阻后,可觀察到 R GATE 的阻尼效應(yīng)(見圖12)。當(dāng)從0 Ω逐步增至10 Ω時(shí),振蕩會(huì)衰減,如圖13所示。

          圖12. 基本NFET Colpitts振蕩器,添加了可切換 R GATE 

          圖13. 示波器圖顯示,隨著 RGATE 逐步增加,振蕩逐漸消失。

          結(jié)論

          本文介紹了寄生FET振蕩的理論,通過工作臺(tái)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了Colpitts模型,在演示板上再現(xiàn)了振蕩問題,并使用大家熟悉的解決方案解決了該問題。將10 Ω柵極電阻盡可能靠近FET柵極引腳放置,可將PCB走線的寄生電感與FET的輸入電容分開。只需一個(gè)表貼電阻就能消除柵極振鈴或振蕩的可能性,用戶不再需要耗時(shí)費(fèi)力地排除故障和重新設(shè)計(jì)電路板



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