潛在的固件錯(cuò)誤可能是導(dǎo)致控制不穩(wěn)定的幕后黑手！

本期，我們將聚焦于發(fā)生在 PFC 級(jí)的電流振蕩，通過(guò)分析數(shù)字控制環(huán)路，了解潛在錯(cuò)誤出現(xiàn)的原因并展示如何檢查控制固件中是否出現(xiàn)這種不穩(wěn)定性。

在設(shè)計(jì)諸如升壓功率因數(shù)校正 (PFC) 之類的數(shù)字電源時(shí)，您是否見(jiàn)過(guò)類似圖 1 中的電流振蕩？

圖 1. 電流振蕩發(fā)生在 PFC 級(jí)

您可能認(rèn)為這種不穩(wěn)定振蕩由過(guò)快的控制帶引起，因此您減小比例積分 (PI) 控制器的比例增益 (Kp) 和積分增益 (Ki)，并顯著降低交叉頻率。振蕩就會(huì)消失。

但這是最佳解決方案嗎？較低的電流環(huán)路帶寬會(huì)降低控制速度，但您可能會(huì)發(fā)現(xiàn)總諧波失真 (THD) 測(cè)試將會(huì)失敗。有時(shí)，當(dāng)源阻抗大一些時(shí)，振蕩會(huì)再次出現(xiàn)。

這種不穩(wěn)定性是否可能有其他原因？如何以足夠的相位裕度實(shí)現(xiàn)最佳控制帶寬？下面我們來(lái)詳細(xì)分析一下數(shù)字控制環(huán)路，從而了解這一潛在的錯(cuò)誤是如何引入的。我們還將向您展示如何檢查控制固件中是否出現(xiàn)這種不穩(wěn)定性。

基于 MCU 的數(shù)字控制

圖 2 展示了基于 MCU 的數(shù)字控制系統(tǒng)。

圖 2. 數(shù)字控制系統(tǒng)圍繞微控制器構(gòu)建而成

控制環(huán)路包含一個(gè)模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 用于進(jìn)行對(duì)象電流/電壓采樣，一個(gè)數(shù)字控制器用于生成調(diào)整值，以及一個(gè)脈寬調(diào)制器 (PWM) 用于執(zhí)行調(diào)整，可通過(guò)更改占空比或頻率來(lái)改變目標(biāo)電流/電壓。

開(kāi)關(guān)模式電源 (SMPS) 中的 ADC 采樣通常位于兩個(gè)開(kāi)關(guān)周期的中間點(diǎn)，這樣不僅可以避免開(kāi)關(guān)產(chǎn)生的噪聲干擾，還可以獲取連續(xù)導(dǎo)通模式 (CCM) 下功率電感器的平均電流值。

數(shù)字控制器在中斷服務(wù)例程 (ISR) 中進(jìn)行計(jì)算，可以與 PWM 輸出同步觸發(fā)。觸發(fā)事件可以是以下事件之一：PWM 的“COUNTER”等于“ZERO”、“PERIOD”或特定的值“CMP”。

控制器完成所有計(jì)算時(shí)無(wú)法立即更新 PWM，但 PWM 寄存器必須在一個(gè)專門時(shí)刻由影子寄存器加載，如 PWM 計(jì)數(shù)器等于“ZERO”或“PERIOD”時(shí)。如果 PWM 值在計(jì)數(shù)器上升或下降過(guò)程中發(fā)生變化，則很可能產(chǎn)生錯(cuò)誤的 PWM 動(dòng)作，導(dǎo)致脈沖丟失或脈沖重復(fù)。

與模擬控制系統(tǒng)不同，數(shù)字控制按照采樣頻率來(lái)執(zhí)行，并且從采樣到 PWM 重新載入新值必須有一個(gè)延遲時(shí)間 (Td)。PWM 修改通過(guò)調(diào)整翻轉(zhuǎn)時(shí)刻來(lái)實(shí)現(xiàn)，翻轉(zhuǎn)時(shí)刻在單邊沿調(diào)制時(shí)（遞增/遞減模式）發(fā)生一次，在雙邊沿調(diào)制時(shí)（先遞增后遞減模式）發(fā)生兩次。因此，最小 Td 將會(huì)是一個(gè)開(kāi)關(guān)周期 Ts（如圖 3a 所示），或半個(gè)開(kāi)關(guān)周期 Ts/2（如圖 3b 所示），具體取決于您選擇的調(diào)制重新加載頻率。

圖 3. 最小延遲時(shí)間通過(guò) PWM 調(diào)整而引入(a) 向上計(jì)數(shù)模式，(b) 上下計(jì)數(shù)模式

如圖 4 所示，Td 在其傳遞函數(shù)中表示為 e-sxTd，這將減少相位裕度。當(dāng)然，當(dāng)相位裕度小于 45 度時(shí)，系統(tǒng)將變得不穩(wěn)定，并會(huì)發(fā)生振蕩。

圖 4. 波德圖中顯示了延時(shí)時(shí)間的影響

數(shù)字控制實(shí)現(xiàn)中的潛在代碼錯(cuò)誤

在正確執(zhí)行的情況下，最小 Td 為一個(gè)開(kāi)關(guān)周期 Ts 或半個(gè)開(kāi)關(guān)周期 Ts/2。但是，如果未考慮 ADC、ISR 和 PWM 重新加載的后果，則將控制延遲擴(kuò)展到高于一個(gè)開(kāi)關(guān)周期可能會(huì)減小相位裕度，導(dǎo)致不穩(wěn)定。

例如，在圖 5 中，當(dāng) PWM 計(jì)數(shù)器等于零，ADC 的 ISR 觸發(fā)和 PWM 重新加載會(huì)同時(shí)啟動(dòng)。

盡管所有塊都同時(shí)執(zhí)行，但在這種情況下，您是否可以預(yù)期 Td 為零？當(dāng)然不能！

圖 5. 此處是一個(gè)會(huì)引入較大延遲時(shí)間的錯(cuò)誤代碼示例

這是因?yàn)?ADC 轉(zhuǎn)換和 ISR 計(jì)算所需的時(shí)間遠(yuǎn)超一個(gè) MCU 時(shí)鐘周期，當(dāng) ISR 讀取 ADC 結(jié)果時(shí)，ADC 轉(zhuǎn)換仍未完成。因此，ISR 將獲取“舊”采樣值進(jìn)行計(jì)算，而最新值的計(jì)算將延遲到下一個(gè)開(kāi)關(guān)周期。ISR 計(jì)算完成后，新 PWM 值僅寫入影子寄存器中，隨后將在下一個(gè)開(kāi)關(guān)周期中重新加載。實(shí)際上，Td 的總控制延遲將為兩個(gè)開(kāi)關(guān)周期，即 2 x Ts。

除了此處所示的示例之外，其他實(shí)現(xiàn)方案也可能會(huì)引入類似的擴(kuò)展控制延遲，例如，在 ISR 代碼中將 ADC 值讀取放在控制器計(jì)算之后，或者在計(jì)算控制器之前添加 N 周期算法平均值。

如圖 6 所示，在圖 5 的錯(cuò)誤實(shí)現(xiàn)中，如果將 GAIN 交叉頻率設(shè)置在 3kHz 左右，則相位裕度為 41.68 度。此值小于 45 度，并且扼流電流有明顯的振蕩，比如圖 1 的波形，因此您被迫將交叉頻率降至低于 2kHz；然后 iTHD 更差，無(wú)法滿足要求。

圖 6. 錯(cuò)誤代碼實(shí)現(xiàn)下的波德圖

設(shè)計(jì)解決方案

此問(wèn)題可以輕松解決，只需將 ADC 轉(zhuǎn)換移動(dòng)到 COUNTER = PERIOD 的時(shí)刻，并且使 PWM 重新加載在下一個(gè) COUNTER = PERIOD 時(shí)刻發(fā)生，如圖 7 所示。

圖 7. 通過(guò)改進(jìn)代碼可減少控制延遲

控制延遲將減少為一個(gè)開(kāi)關(guān)周期。相位裕度顯著增加，電流振蕩消失，如圖 8 和圖 9 所示。

圖 8. 改進(jìn)代碼后的波德圖

圖 9. 改進(jìn)代碼后的波形

組織有序的控制方案

在數(shù)字實(shí)現(xiàn)中，從 ADC 采樣到 PWM 調(diào)整的控制延遲將減小相位裕度并導(dǎo)致振蕩。解決該問(wèn)題時(shí)，應(yīng)考慮 ADC 采樣、控制器計(jì)算和 PWM 重新加載的后果。組織有序的控制方案可以將延遲盡可能減少到半個(gè)或一個(gè)開(kāi)關(guān)周期，從而增加相位裕度和環(huán)路帶寬。