為存儲器測試開發(fā)低成本的解決方案
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隨著存儲器技術(shù)的發(fā)展，改變測試模式和存儲器芯片的測試方法變得日益重要。通過采用可置于桌面的基于PC的測試儀器，工程師就能夠獲得所需要的靈活性和用戶定制特性。 本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/202576.htm
超越功能測試
在一項(xiàng)設(shè)計(jì)成功通過所有功能測試之后，工程師能夠獲得被測器件更詳細(xì)的特性。公共測試包括描述存取時(shí)間和電器規(guī)范的特征，例如電壓范圍。采用模塊化測試平臺(例如PXI)的工程師可以擴(kuò)展他們的測試系統(tǒng)，以包括更多的儀器，如數(shù)字化儀、數(shù)字萬用表和RF儀器。PXI還提供內(nèi)置功能，例如為儀器間的相位一致性提供定時(shí)和同步功能，并具有構(gòu)建高通道數(shù)測試系統(tǒng)的能力。
采用數(shù)字儀器，如NI 6552數(shù)字波形發(fā)生器/分析儀，工程師可執(zhí)行存儲器件全部特征的提取，而無需增加額外的測試設(shè)備。采用NI LabVIEW這樣的軟件，工程師能夠創(chuàng)建一個(gè)測試，掃描用于與存儲器件通信的電平以驗(yàn)證最小工作電壓。圖3所示在LabVIEW中這種測試的結(jié)果。其中，水平軸表示被測電壓，垂直軸表示接收到的錯(cuò)誤位百分比。從圖中很容易推出存儲器件的最小工作電壓為2.43V。
圖3.存儲器件最小工作電壓的特征。
如果存儲器件被嵌入較大的數(shù)字裝置之中，就需要對成品進(jìn)行額外的測試。工程師通過復(fù)用進(jìn)行驗(yàn)證設(shè)計(jì)和數(shù)字存儲器件的相同測試設(shè)備，可以降低測試成本。因?yàn)榇蠖鄶?shù)數(shù)字裝置都有相同的基本測試需求、獲取或生成用于分析的測試向量，因而工程師可重新配置硬件和用戶接口，以便在單一平臺上創(chuàng)建廣泛的虛擬儀器。
隨著開發(fā)新技術(shù)的壓力日益增大，工程師面臨優(yōu)化其測試成本和測試時(shí)間的挑戰(zhàn)?；赑C和FPGA技術(shù)的、低成本的商用測試設(shè)備，已經(jīng)幫助工程師實(shí)現(xiàn)了在桌面上執(zhí)行強(qiáng)大的、混合信號原型測試。利用軟件可重配置的硬件，工程師還可以在一臺基于PC的平臺上開發(fā)多種定制測試系統(tǒng)。此外，采用虛擬儀器方法，工程師可以通過軟件定義通用測量硬件的功能，因而測試系統(tǒng)就成為驗(yàn)證存儲器和其它混合信號器件設(shè)計(jì)的重要策略。
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