基于固態(tài)存儲(chǔ)器的ECC算法分析及實(shí)現(xiàn)

行校驗(yàn)碼生成用數(shù)學(xué)表達(dá)式表示為

這里xor表示異或操作。
因?yàn)榘l(fā)生錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)位在該數(shù)據(jù)塊中的字節(jié)的偏移量為

發(fā)生錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)位在所處的字節(jié)中的位偏移量為P4_1，P2_1，P1_1
所以根據(jù)字節(jié)的偏移量和字節(jié)中的位的偏移量即可確定該頁數(shù)據(jù)中哪一位發(fā)生了變化。
2．2 ECC校驗(yàn)流程
當(dāng)向NAND Flash的頁中寫入數(shù)據(jù)的時(shí)候，每2 048 bit生成4 bit的ECC校驗(yàn)碼，稱之為寫ECC校驗(yàn)碼，保存到每一頁的空閑數(shù)據(jù)區(qū)中。
當(dāng)從NAND Flash中讀取數(shù)據(jù)的時(shí)候，每2 048 bit生成4 bit的ECC校驗(yàn)碼，稱之為讀ECC校驗(yàn)碼。校驗(yàn)的時(shí)候，根據(jù)上述ECC生成原理不難推斷：將從頁空閑區(qū)中讀出的寫ECC校驗(yàn)碼和讀ECC校驗(yàn)碼按位異或，若結(jié)果為0，則表示不存在錯(cuò)；若4 bit的異或結(jié)果中存在14 bit為1，表示存在1 bit錯(cuò)誤，且可糾正；若4個(gè)bit的異或結(jié)果中只存在1 bit為1，表示空閑區(qū)中的校驗(yàn)碼出錯(cuò)；其他情況均表示出現(xiàn)了無法糾正的錯(cuò)誤，校驗(yàn)流程圖，如圖2所示。

3 ECC算法的實(shí)現(xiàn)
3．1 C語言實(shí)現(xiàn)ECC算法
以一頁數(shù)據(jù)2 048個(gè)字節(jié)作為測試數(shù)據(jù)產(chǎn)生ECC校驗(yàn)碼，數(shù)據(jù)是0x00～0xFF，循環(huán)8次產(chǎn)生2048個(gè)數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)序列，如圖3所示。