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電子可靠性技術(shù):最壞情況分析方法（一）

作者：時間：2013-11-30 來源：網(wǎng)絡(luò)

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的所有參數(shù)都處在最大偏移值時，器件都是可靠的，那么就可以保證器件參數(shù)在一定偏移組合情況下，器件也是可靠的。計(jì)算最壞情況下的電路性能，如果沒有超過規(guī)格要求，那么就可以保證整個設(shè)計(jì)對于器件參數(shù)的偏移都是可靠的。

　　開發(fā)最壞情況器件數(shù)據(jù)庫是WCCA的一個重要工作，也是主要的成本所在。此工作的目標(biāo)是開發(fā)一個最壞情況數(shù)據(jù)庫的表格，給出器件關(guān)鍵參數(shù)變化的最大最小值。這個表格也給出了影響參數(shù)變化的因素，如環(huán)境、初始容差、溫度、壽命和輻射等。表格還會注明這些因素是偏置型的，還是隨機(jī)型的變量。此外，表格中還必須包括數(shù)據(jù)來源(美軍標(biāo)、供應(yīng)商數(shù)據(jù)手冊等)，以備跟蹤?？傊?，這個表格體現(xiàn)了器件工作的各種環(huán)境因素和壽命因素對器件參數(shù)影響的一個量化評估。

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