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          LED驅(qū)動(dòng)器的可靠性和電磁兼容性測(cè)試方案(一)

          作者: 時(shí)間:2013-11-29 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          -TRANSFORM: none; TEXT-INDENT: 0px; MARGIN: 0px 0px 20px; PADDING-LEFT: 0px; PADDING-RIGHT: 0px; FONT: 14px/25px 宋體, arial; WHITE-SPACE: normal; ORPHANS: 2; LETTER-SPACING: normal; COLOR: rgb(0,0,0); WORD-SPACING: 0px; PADDING-TOP: 0px; -webkit-text-size-adjust: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px">  電壓跌落、短時(shí)中斷和電壓變化統(tǒng)稱為周波跌落。周波跌落干擾的抵抗能力指標(biāo)考核了該LED照明器件是否具備工作在不穩(wěn)定的電網(wǎng)中的能力。

            以上測(cè)試步驟,前三項(xiàng)為EMI指標(biāo),后四項(xiàng)為EMS指標(biāo)。值得注意的是,對(duì)于自整流的LED照明產(chǎn)品,測(cè)試時(shí)只需要對(duì)輸入端進(jìn)行試驗(yàn),而非自整流的 LED照明產(chǎn)品,則需要分別試驗(yàn)配套的驅(qū)動(dòng)控制電路的輸入、輸出和LED產(chǎn)品的輸入端。

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