器件選型研討會助力“中國創(chuàng)造”高性能測試儀器

2013首屆儀器儀表器件選型技術(shù)研討會即將開幕

　　測試儀器，作為測試技術(shù)中最重要的工具，一直是一個看似規(guī)模并不龐大，但影響深遠(yuǎn)的市場。據(jù)統(tǒng)計，雖然每年測試儀器的市場只占全球經(jīng)濟(jì)總量的萬分之二，但是卻帶動著全球70%以上的經(jīng)濟(jì)增長，而對中國產(chǎn)業(yè)格局來說，電子測試儀器一直是電子產(chǎn)業(yè)中相對滯后的一環(huán)，儀器產(chǎn)業(yè)的滯后間接延緩了我國電子產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展。

　　每個電子設(shè)計工程師的工作離不開測試儀器，而高性能測試儀器的設(shè)計開發(fā)同樣源于廣大電子工程師的智慧。研發(fā)人員在儀器儀表的研發(fā)過程中，不可避免涉及到各種電子器件的選型問題，測試儀器對半導(dǎo)體器件有著極為獨(dú)特的性能與指標(biāo)的需求，為此眾多電子元器件廠商也針對測試儀器開發(fā)出各種專門的產(chǎn)品。如何將這些產(chǎn)品合理的選型及應(yīng)用到自己的儀器設(shè)計中，從而讓設(shè)計工程師開發(fā)出高性能、易使用、可靠性好又有成本優(yōu)勢的測試儀器，對提升中國制造的測試儀器產(chǎn)品的競爭力至關(guān)重要。

　　2013年11月13日，在第82屆中國電子展同期，中國電子展組委會將與《電子產(chǎn)品世界》雜志社合力舉辦“首屆儀器儀表器件選型技術(shù)研討會”。我們誠摯邀請廣大電子工程師光臨上海國際展覽中心，和專家一起圍繞“模擬前端在測試儀器設(shè)計中的重要意義與選型特殊需求”“ADC的性能對測試儀器信號捕獲的價值及選型指導(dǎo)”“如何選擇最適合的放大器及相關(guān)信號處理系統(tǒng)”“FPGA在測試儀器設(shè)計中的優(yōu)勢與應(yīng)用實例”“測試儀器用操作系統(tǒng)應(yīng)用指南”“信號分析與信號處理技術(shù)在不同測試儀器中的應(yīng)用”等題目進(jìn)行探討，共同傾聽眾多半導(dǎo)體廠商最新的產(chǎn)品在電子測試儀器設(shè)計中的應(yīng)用技巧與相關(guān)方案，并交流工程師的儀器設(shè)計需求，共同尋找最有針對性的設(shè)計解決方案。