器件選型研討會(huì)助力“中國(guó)創(chuàng)造”高性能測(cè)試儀器

2013首屆儀器儀表器件選型技術(shù)研討會(huì)即將開幕

　　測(cè)試儀器，作為測(cè)試技術(shù)中最重要的工具，一直是一個(gè)看似規(guī)模并不龐大，但影響深遠(yuǎn)的市場(chǎng)。據(jù)統(tǒng)計(jì)，雖然每年測(cè)試儀器的市場(chǎng)只占全球經(jīng)濟(jì)總量的萬分之二，但是卻帶動(dòng)著全球70%以上的經(jīng)濟(jì)增長(zhǎng)，而對(duì)中國(guó)產(chǎn)業(yè)格局來說，電子測(cè)試儀器一直是電子產(chǎn)業(yè)中相對(duì)滯后的一環(huán)，儀器產(chǎn)業(yè)的滯后間接延緩了我國(guó)電子產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展。

　　每個(gè)電子設(shè)計(jì)工程師的工作離不開測(cè)試儀器，而高性能測(cè)試儀器的設(shè)計(jì)開發(fā)同樣源于廣大電子工程師的智慧。研發(fā)人員在儀器儀表的研發(fā)過程中，不可避免涉及到各種電子器件的選型問題，測(cè)試儀器對(duì)半導(dǎo)體器件有著極為獨(dú)特的性能與指標(biāo)的需求，為此眾多電子元器件廠商也針對(duì)測(cè)試儀器開發(fā)出各種專門的產(chǎn)品。如何將這些產(chǎn)品合理的選型及應(yīng)用到自己的儀器設(shè)計(jì)中，從而讓設(shè)計(jì)工程師開發(fā)出高性能、易使用、可靠性好又有成本優(yōu)勢(shì)的測(cè)試儀器，對(duì)提升中國(guó)制造的測(cè)試儀器產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力至關(guān)重要。

　　2013年11月13日，在第82屆中國(guó)電子展同期，中國(guó)電子展組委會(huì)將與《電子產(chǎn)品世界》雜志社合力舉辦“首屆儀器儀表器件選型技術(shù)研討會(huì)”。我們誠(chéng)摯邀請(qǐng)廣大電子工程師光臨上海國(guó)際展覽中心，和專家一起圍繞“模擬前端在測(cè)試儀器設(shè)計(jì)中的重要意義與選型特殊需求”“ADC的性能對(duì)測(cè)試儀器信號(hào)捕獲的價(jià)值及選型指導(dǎo)”“如何選擇最適合的放大器及相關(guān)信號(hào)處理系統(tǒng)”“FPGA在測(cè)試儀器設(shè)計(jì)中的優(yōu)勢(shì)與應(yīng)用實(shí)例”“測(cè)試儀器用操作系統(tǒng)應(yīng)用指南”“信號(hào)分析與信號(hào)處理技術(shù)在不同測(cè)試儀器中的應(yīng)用”等題目進(jìn)行探討，共同傾聽眾多半導(dǎo)體廠商最新的產(chǎn)品在電子測(cè)試儀器設(shè)計(jì)中的應(yīng)用技巧與相關(guān)方案，并交流工程師的儀器設(shè)計(jì)需求，共同尋找最有針對(duì)性的設(shè)計(jì)解決方案。