聲發(fā)射信號處理和分析技術(shù)
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如前所述，聲發(fā)射檢測和聲發(fā)射信號處理的目的是獲得有關(guān)聲發(fā)射源的信息，包括損傷位置、損傷程度和剩余壽命等。人們對AE的認識隨理論研究的發(fā)展而加深，另一方面，AE作為實用診斷技術(shù)，每前進一步都是同信號處理技術(shù)和測試儀器的發(fā)展分不開的。可以毫不夸張地說，一部AE技術(shù)的發(fā)展史也就是AE信號處理技術(shù)的發(fā)展史。
在研究AE信號的處理技術(shù)之前，先闡述一下AE技術(shù)發(fā)展史上的兩個重要的事件，因為它們都對AE信號的處理技術(shù)和AE技術(shù)的發(fā)展起了重要作用。第一是德國人凱撒（J Kaiser）觀察到的Kaiser效應(yīng)。20世紀50年代初，凱撒研究了多晶金屬材料如鋅、銅、鋁和鉛等的聲發(fā)射特征，發(fā)現(xiàn)在加載時，這些材料都產(chǎn)生了聲發(fā)射，且是不可逆的。AE現(xiàn)象僅在第一次加載時產(chǎn)生，第二次加載及以后各次加載所產(chǎn)生的AE信號變得微不足道，除非后面所加外應(yīng)力超過前面各次加載的最大值。這一現(xiàn)象后來又在多種金屬材料實驗中得到證實，并被命名為凱撒效應(yīng)。這一效應(yīng)在AE信號處理方面得到廣泛應(yīng)用，成為克服噪聲干擾的主要手段之一，因而也成為用AE技術(shù)監(jiān)測結(jié)構(gòu)完好性的依據(jù)。例如，在加載實驗時，可先在小應(yīng)力下進行幾次循環(huán)加載實驗以克服實驗機夾具和試件之間摩擦噪聲的影響，然后再進行正式加載試驗。如試件完好無損，則在加載循環(huán)中不應(yīng)得到明顯的AE信號，反之，任何突然增大的AE信號都極有可能是該試件發(fā)生疲勞或內(nèi)部有斷裂的預(yù)兆。這種利用不可逆效應(yīng)降噪和獲取有用信息的方法為AE技術(shù)所獨有。
同AE信號處理技術(shù)直接有關(guān)的另一重要事件是，20世紀60年代美國學者Dunegan提出，可把觀察和記錄AE信號的頻率移至超聲段（＞20kHz）以降低外界干擾噪聲的影響。在此之前，人們?yōu)榱擞^察和記錄聲發(fā)射信號的變化，實驗不得不在夜深人靜的時候進行，并經(jīng)常事倍功半甚至半途而廢，聲發(fā)射試驗工作之苦可見一斑。由于觀察頻率的這一“簡單移動”極大的克服了環(huán)境干擾噪聲的影響，它所帶來的是AE理論和應(yīng)用研究的革命性進展。
2.1 干擾噪聲
雖然各種檢測方法都面臨干擾噪聲問題，但由于聲發(fā)射是以被動檢測的方式用于動態(tài)監(jiān)測，它所面臨的噪聲干擾問題就特別嚴重，甚至是其它方法無法比擬的。在許多情況下，如利用AE進行疲勞裂紋擴展監(jiān)測、運行設(shè)備狀況監(jiān)測以及對行駛中的汽車的轉(zhuǎn)動軸和轉(zhuǎn)向節(jié)進行動態(tài)監(jiān)視時，外部干擾噪聲都可能遠遠大于人們感興趣的AE信號。AE檢測面臨的干擾噪聲主要有下面幾種：
2.1.1 電器干擾噪聲
（1）前置放大器輸入端的白噪聲 這是一種自然的不可避免的噪聲，確定了系統(tǒng)靈敏度的最終極限。使用設(shè)計良好的前置放大器，該噪聲可以很小并接近理論極限。
（2）AE系統(tǒng)內(nèi)部所產(chǎn)生的噪聲 目前所用的結(jié)構(gòu)緊湊型計算機化的聲發(fā)射儀器一般都是陰極射線管（CRT）顯示屏幕和磁盤系統(tǒng)，各部件間很容易產(chǎn)生“拾取”噪聲。在一個設(shè)計良好的系統(tǒng)內(nèi)，這一噪聲應(yīng)當很低并在極限之內(nèi)。
（3）接地回路噪聲 這是由系統(tǒng)或結(jié)構(gòu)的不恰當接地引起的。為避免這一噪聲，聲發(fā)射換能器的電氣連接必須與結(jié)構(gòu)絕緣。
（4）電磁煩擾信號 一般由電源開關(guān)或其它臨近電磁設(shè)備引起。必要時，設(shè)備應(yīng)加上電磁屏蔽。
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