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          高精度雙路相敏放大器的設計(二)

          作者: 時間:2013-11-06 來源:網絡 收藏
          零位:≤±5 mV的難題,從而滿足產品性能指標的要求。

            2.2 結構設計

            采用DIP-16平底式全密封金屬外殼底座,底座鍍金,外殼鍍鎳,該套材料合格分供方生產工藝已很成熟,便于采購。

            為了便于整機組裝,并且能夠經得起振動、沖擊等機械試驗,產品內部盡量采用適合平面組裝的片式元件,這樣大大簡化了組裝工藝。封裝采用全密封技術,密封在于燥、清潔的氮氣中進行,帽與底座之間進行貯能焊封裝,封裝之后細檢的漏氣率小于500×10-6kPa·cm3/s,保證產品的氣密性、可靠性。

            圖10內部結構圖。

            

          k.jpg
          2.3 工藝研究

            為保證產品的性能和可靠性,經過大量的工藝實驗,最后確定在工藝上采用以下一些特殊工藝措施:

            (1)除芯片電路外,對元件高溫存貯后,進行100%篩選檢驗;

            (2)采用二次套印幫定焊盤的工藝,以保證壓焊的可靠性;

            (3)采用厚膜基片與底座焊接的工藝,以確保芯組與底座的機械連接,減小熱阻;

            (4)優(yōu)選所用元器件材料,關鍵器件采用國外大公司的芯片電路,電容采用npo介質的電容。

            通過認真執(zhí)行工藝及上述特殊工藝措施的落實,大大提高了生產效率,有效地保證產品的性能和可靠性,取得了良好的效果。

            3 測試及用戶使用情況

            測試及用戶使用情況如表1所示。測試電路原理如圖11所示。

            

          m.jpg

            

          l.jpg

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