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          功率半導(dǎo)體的革命:SiC與GaN的共舞(二)

          作者: 時間:2013-10-14 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          t-stroke-width: 0px">  契機(jī)是日本信息通信研究機(jī)構(gòu)(NICT)、田村制作所及光波公司共同開發(fā)出的β型Ga2O3晶體管(圖1)注1)。具體就是把肖特基結(jié)型金屬用作柵極電極的“MESFET”(金屬場效應(yīng)晶體管,metal-semiconductor field effect transistor)。

            注1) 此次的部分開發(fā)是通過NEDO的委托業(yè)務(wù)“節(jié)能革新技術(shù)開發(fā)業(yè)務(wù)——挑戰(zhàn)研究‘超高耐壓氧化鎵元件的研發(fā)’”實(shí)施的。基板制造由田村制作所與光波公司負(fù)責(zé),外延層形成由京都大學(xué)、東京工業(yè)大學(xué)及田村制作所負(fù)責(zé),工藝由NICT負(fù)責(zé)。

            盡管該晶體管采用不形成保護(hù)膜(鈍化膜)的簡單構(gòu)造,但耐壓卻高達(dá)257V,漏電流僅為5μA/mm?!氨緛硎潜е芄ぷ骶涂梢缘钠谕圃斓?,但結(jié)果卻好得超出了想象。這是只有氧化鎵才能實(shí)現(xiàn)的值”,NICT未來ICT研究所超高頻ICT研究室主任研究員東脅正高開心地表示。

            材料性質(zhì)比還要出色

            比耐壓高且損耗低的元件之所以能夠?qū)崿F(xiàn),是因?yàn)槠洳牧闲再|(zhì)參數(shù)比兩種材料都要出色(圖2(a))。其中,帶隙和絕緣破壞電場較大。

          功率半導(dǎo)體的革命:SiC與GaN的共舞(二)

            圖3 NICT等利用β型Ga2O3試制出了晶體管(a、b)。盡管構(gòu)造簡單,但耐壓高達(dá)257V(c)。((a)的圖片來自于NICT等)

            在Ga2O3中,化學(xué)性質(zhì)比較穩(wěn)定的是β型,其帶隙為4.8~4.9eV。該數(shù)值是硅的4倍以上,而且高于3.3eV的和3.4eV的。絕緣破壞電場為8MV/cm左右,相當(dāng)于硅的20倍以上、SiC或GaN的兩倍以上。

          功率半導(dǎo)體的革命:SiC與GaN的共舞(二)

            圖4 β型Ga2O3的帶隙及絕緣破壞電場特別大,低損耗性指標(biāo)“Baliga性能指數(shù)”較高(a)。因此,制造相同耐壓的元件時,β型Ga2O3與GaN或SiC相比,導(dǎo)通電阻會變?。╞)。

            因此,從理論上來說,制造相同耐壓的單極性功率元件時,β型Ga2O3與SiC或GaN相比,可以減小導(dǎo)通電阻(圖2(b))。而導(dǎo)通電阻的降低,有助于減少電源電路中的電力損耗。

            耐壓上也有望超過SiC。比如,通過設(shè)置形成保護(hù)膜來減輕電場向柵極集中的“場板”的單極晶體管,“估計可達(dá)到3k~4kV”(NICT的東脅)。

            而單極元件——SiC制MOSFET的耐壓一般為1kV左右,提高了耐壓的雙極元件“應(yīng)該也很難達(dá)到3kV以上”(東脅)。

            β-Ga2O3還有一個特點(diǎn),就是在制作基板時可采用“FZ(floating zone,懸浮區(qū)熔法)”及“EFG(edge-defined film-fed growth,導(dǎo)模法)”等溶液生長法,這兩種生長法能夠以低成本量產(chǎn)結(jié)晶缺陷少且口徑大的基板。

            FZ法及EFG法已被實(shí)際用于藍(lán)寶石基板的制造。藍(lán)寶石基板是制作藍(lán)色LED芯片的基板,特點(diǎn)是價格便宜,結(jié)晶缺陷少,而且大尺寸產(chǎn)品的口徑可達(dá)到6~8英寸。而SiC基板及GaN基板一般采用氣相法制造,所以減少結(jié)晶缺陷以及擴(kuò)大口徑都較為困難。

            此次試制的晶體管使用的Ga2O3基板就是采用FZ法制成的,但外形尺寸還很小,只有6mm×4mm注1)?!皩碇圃炜趶綖?英寸的Ga2O3基板時,估計成本可降至1萬日元左右。SiC基板是無法做到如此便宜的”(NICT的東脅)。

            注1)此外,還有采用EFG法制成的2英寸見方基板。

            此外,Ga2O3基板能夠以低于SiC或GaN的溫度在基板上形成外延層,所以有助于降低制造時的耗電量并削減設(shè)備成本。如果采用名為“Mist CVD法”的方法,生長溫度還不到500℃注2)。而GaN或SiC一般需要1000℃以上的溫度。



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