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          應對八天線LTE測試的挑戰(zhàn)(二)

          作者: 時間:2013-09-30 來源:網(wǎng)絡 收藏
          測試方法

            鑒于前文中所討論過的原因,行之有效的測試方法必須能夠應對所描述的這些挑戰(zhàn):通過便攜機體尺寸提供數(shù)量較大的互易性RF信道、考慮到天線模式和極化的信道建模,以及在動態(tài)(活動)場景中測試波束賦型的能力。雙向8×N系統(tǒng)測試所需的信道數(shù)量會帶來前所未有的挑戰(zhàn)。圖3顯示的是8x2雙向測試所用的現(xiàn)代系統(tǒng)圖示。傳統(tǒng)的信道仿真器可能占用一個40U機架,并且需要大量的外部RF硬件才能實現(xiàn)相同的信道場景。

          應對八天線LTE測試的挑戰(zhàn)(二)
          圖3:8×2 MIMO波束賦型測試的信道仿真

            隨著技術的進步,對測試系統(tǒng)的要求只會變得越來越具挑戰(zhàn)性,而且會變得越來越苛刻。實例之一就是雙層波束賦型應用,其中包含兩個從不同物理位置與同一eNodeB BTS通話的用戶設備。所需的測試拓撲結構中包含一個8×4雙向MIMO信道(也就是包含32個數(shù)字信道的16個RF信道)。另外一個實例就是IRC。要想對IRC進行測試,需要eNodeB BTS,即本測試案例中的被測設備(DUT),從一個“預期”的用戶設備和多個起干擾作用的用戶設備接收信號,而且測試中還會考慮到衰減的效應。

            隨著新技術的開發(fā)和現(xiàn)有技術在高天線數(shù)MIMO系統(tǒng)中的部署,未來還會出現(xiàn)一些極具挑戰(zhàn)性的測試場景。例如,多用戶MIMO(MU-MIMO)并非什么新的測試。但在LTE的MIMO用戶設備條件下進行的此類測試則會帶來一些重大的挑戰(zhàn),因為有多種復雜的技術都以“分層”的方式層疊在一起。在MU-MIMO 中,系統(tǒng)會使用信號處理來發(fā)揮多用戶設備之間的空間差異特性。另外一個實例是LTE-A中的協(xié)同多點(CoMP)傳輸。當用戶設備連接至多個eNodeB BTS時(通常在重疊的蜂窩邊緣處),該技術會對網(wǎng)絡冗余加以利用。

            圖4顯示的是測試雙層波束賦型、MU-MIMO和集成雙向MIMO信道的CoMP時的典型袖珍設置。集成式解決方案的信道密度所發(fā)揮的作用遠不止于在有限的實驗室空間中應對大量RF信道的挑戰(zhàn)。在相信校準和穩(wěn)定性方面,它也是一種穩(wěn)定得多的平臺。

          應對八天線LTE測試的挑戰(zhàn)(二)
          圖4:這種小巧的測試設置可應對雙層波束賦型、MU-MIMO和CoMP測試場景

          幾何信道模型

            當需要對LTE和LTE-A系統(tǒng)的先進天線技術進行測試時,基于關聯(lián)的傳統(tǒng)MIMO信道建模就已經(jīng)無法勝任了。這種傳統(tǒng)的建模方法無法捕獲MIMO信道的空間特性或前文所討論過的先進天線技術的效果。

            多數(shù)基于關聯(lián)的MIMO信道建模都建立在一項假設的基礎之上,即信號離開發(fā)射天線時是全方向的,而且以同樣的方式到達接收天線。4但在MIMO波束賦型中,實際情況并非如此。

            為解決這一問題,研究人員們提出了一種全新的信道建模方法,即所謂的幾何信道建模(GCM)。在GCM中,從發(fā)射天線到接收天線的每條信號路徑都從幾何上受到追蹤,并且合并在一起而形成了信道。這種方法從本質(zhì)上為天線模式和極化提供了支持。由于具體了這些特質(zhì),GCM已被選定對下一代無線技術進行評估。

            實時衰減

            實時衰減方法可以實時生成信道數(shù)據(jù),而不是預先計算出的數(shù)據(jù),同時還可以從緩存存儲內(nèi)容中對其加以回放。推動實時衰減有兩項主要的動力:創(chuàng)建真正的動態(tài)場景并且實現(xiàn)試驗和查錯式的研發(fā)故障查找。在動態(tài)或移動場景中,信道參數(shù)會隨時間而改變。實時衰減使測試人員可對信道參數(shù)編制腳本,從而對信道的動態(tài)加以模仿。利用實時衰減引擎,為波束賦型測試創(chuàng)建不同類型用戶設備移動的工作將會變得非常簡潔而直觀。

            在研發(fā)測試中,需要具備控制信道來實現(xiàn)故障查


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          關鍵詞: 八天線 LTE測試

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