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          一種數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的設(shè)計

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          作者:TI/西安交通大學(xué) 廉海濤 張克農(nóng) 王紅雨 趙云鵬 常羽飛 時間:2007-01-26 來源:《EDN電子設(shè)計技術(shù)》 收藏

          在功能測試過程中,計算機把預(yù)先生成的測試向量送到單片機系統(tǒng),單片機控制通道板把信號電平轉(zhuǎn)換為測試所需的電平,并把轉(zhuǎn)換后的時序波形施加到待測器件(dut)的輸入管腳上,然后檢測dut的輸出,把檢測結(jié)果通過總線傳到單片機進(jìn)行判斷處理。直流參數(shù)測試過程是向dut施加直流參數(shù)測試條件,通過pmu實現(xiàn)dut直流參數(shù)的精密測量。

          通道板

          通道板功能有兩個,一是把測試碼合成最終的測試信號施加到dut,另外的功能是對dut的返回信號進(jìn)行分析比較,將比較結(jié)果通過總線返回到單片機系統(tǒng)。通道板的結(jié)構(gòu)設(shè)計如圖2所示。控制總線通過譯碼與邏輯控制單元設(shè)定并控制dut管腳的地址,管腳驅(qū)動與控制單元驅(qū)動并控制繼電器陣列完成dut管腳數(shù)據(jù)的輸入和輸出功能。vih(vil)是由dps板設(shè)定產(chǎn)生的測試所需的高(低)驅(qū)動電平??偩€發(fā)送由程序預(yù)先生成的測試向量,電平轉(zhuǎn)換與驅(qū)動單元把測試向量轉(zhuǎn)換為設(shè)定電平的測試時序波形,管腳驅(qū)動與控制單元控制繼電器陣列把波形施加到dut的輸入管腳。管腳電平比較單元檢測輸出管腳信號電平,與預(yù)期輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯比較后把比較結(jié)果傳回下位機。在直流參數(shù)測試過程中,繼電器控制單元將測試接口板上的dut連接到pmu,利用pmu模塊實現(xiàn)電壓或電流的精密測量。在通道板的電平轉(zhuǎn)換部分設(shè)計如圖3所示。電路在穩(wěn)定后,在無信號輸入時,v1略高于v2,輸出為vih;當(dāng)ttl輸入為低電平時,由于電容電壓不能突變,使得v1低于v2,比較器翻轉(zhuǎn),輸出為vil;當(dāng)ttl輸入為高電平時,同樣,v1略高于v2,輸出為vih。由于電容充放電,輸出端電平不能長久保持在低電平,選取足夠大的電容可滿足本系統(tǒng)的測試需要。
           


          精密測量單元

          精密測量單元(pmu)是系統(tǒng)精密測量直流參數(shù)的基本單元。系統(tǒng)采用12位a/d和d/a轉(zhuǎn)換器、分檔以及開爾文接法等手段來實現(xiàn)高精度測量。pmu可實現(xiàn)加壓測流(fvmi)和加流測壓(fimv)兩種工作方式。其中pmu中加壓測流原理圖如圖3所示。vin作為輸入,器件施加電壓vp經(jīng)測試接口板施加到dut,通過測試vout可得到到測試電流i。根據(jù)電路圖可以計算出:

          這樣,根據(jù)公式(1),通過控制vin就可以向被測器件施加設(shè)定的電壓vp,根據(jù)公式(2)可通過測試vout來計算被測器件管腳上流過的電流i。

          直流參數(shù)測試中,pmu可通過測試輸出端高/低電平、輸入端漏電流、輸出短路電流以及靜態(tài)功耗電流等來檢測器件的負(fù)載特性和靜態(tài)功耗。

          為了使pmu具有足夠?qū)挼臏y試范圍和測試精度,a3采用具有fet輸入級的高壓運放opa445,接成跟隨器,使得流入a3的電流極小,保證了電流測試的精度,并且其高壓特性保證了pmu的測試范圍。

          軟件部分的作用是用計算機控制測試系統(tǒng),并為用戶提供一個友好、易于操作的界面。下位機軟件用c51程序編寫,主程序流程圖如圖4所示。上位機采用vc#.net編寫。下位機軟件的主要工作是根據(jù)上位機傳送的測設(shè)參數(shù)設(shè)置系統(tǒng)電壓及測試條件,載入測試向量向dut管腳發(fā)送輸入波形,然后測試輸出端波形數(shù)據(jù),發(fā)送到上位機并存儲到數(shù)據(jù)庫。

          經(jīng)過用戶的實際應(yīng)用,證明該系統(tǒng)性價比高,測試準(zhǔn)確。


           


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