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          工程師參考手冊(一):D類功放設計須知

          作者: 時間:2013-09-11 來源:網(wǎng)絡 收藏
          反向的恢復電流趨向于形成一個很尖的形狀,和由于PCB板和封裝雜散電感因起步希望的震蕩。因此,PCB布線設計對減小EMI和系統(tǒng)可靠性至關重要的。

            13、功放中MOSFET選擇的其他考慮

            *選擇合適的封裝和結構

            *功放的THD、EMI和效率,還受FET的體二極管影響??s短體二極管恢復時間(工R的并聯(lián)肖特基二級管的FET);降低反向恢復電流和電荷,能改善THD;EMI和效率。

            *FET結殼熱阻要盡可能小,以保證結溫低于限制。

            *保證較好可靠性和低的成本條件下,工作在最大結溫。用絕緣包封的器件是直接安裝還是用裸底板結構墊絕緣材料,依賴于它的成本和尺寸。

            14、功放參考設計見圖6所示

            工程師參考手冊(一):D類功放設計須知

            *拓撲:半橋

            *選用IR2011S(柵極驅動IC,最高工作電壓200V,Io+/-為1.0A/1.0A,Vout為10-20V,ton/off為8060ns,延時匹配時間為20ns);IRFB23N15D (MOSFET功率管ID=23A,R DS=90mΩ,Qg=37nC Bv=150V To-220封裝)

            *開關頻率:400KHz(可調(diào))

            *額定輸出:200W+200W/4歐

            *THD:0.03%-1mhz半功率

            *頻率響應:5Hz-40KHz(-3dB)

            *電源:~220v±50V

            *尺寸:4.0“×5.5”

            15、結論

            如果我們在選擇器件時很謹慎,并且考慮到精細的設計布線,因為雜散參數(shù)有很大的影響,那么目前高效功放可以提供和傳統(tǒng)的AB類功放類似的性能。

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