做好自啟動不容易，理解穩(wěn)壓器和帶隙基準的上電復位需求

　　運算放大器

　　圖2所示的運放輸入結(jié)構(gòu)畫出了一個小電流源。IC內(nèi)部的部分元件與地以及反偏二極管彼此隔離，有些元件由于結(jié)構(gòu)的原因會產(chǎn)生寄生（無用的）二極管和三極管。正常情況下，這些寄生元件處于關閉狀態(tài)，不會影響電路的正常工作，如果電流源被拉到負壓，寄生元件就可能被正偏，將器件鉗位在無法工作的狀態(tài)；有時，這些寄生元件還會形成可控硅效應，在關閉電源重新上電之前始終保持導通，情況嚴重時，還會導致器件損壞。

　　圖2. 運放內(nèi)部部分電路

　　電容

　　在IC內(nèi)部，有些電容用于頻率補償，但也存在無用的電容效應。有些節(jié)點如果被充電至負壓后，可能沒有適當?shù)碾娏魍穼ζ湔虺潆?，恢復電路功能?/P>

　　輸出電路也必須正確偏置，使上方晶體管導通對外部電容充電。由于運放負反饋連接在輸出端，需要升高輸出電壓，使電路處于線性工作狀態(tài)。許多IC具有ESD （靜電放電）保護，通常由二極管和穩(wěn)壓管等構(gòu)成，如圖3所示。

　　圖3. 典型的ESD結(jié)構(gòu)，保護其它電路

ESD保護問題

　　因為高壓會損壞IC，必須提供必要的ESD保護。如果電壓超過IC制造工藝允許的上限，有源器件將進入齊納模式。器件擊穿后，電流將快速上升，進入雪崩模式，產(chǎn)生大電流并導致硅片融化。負壓過大時，同樣會導致大電流并損壞IC。

　　帶隙基準

　　帶隙基準如圖4所示，通常也會存在啟動問題。帶隙由兩個正向偏置、具有不同電流的晶體管組成，某一路電流變化時，將引起兩路電流在工作點重新均衡，其中一路為負溫度系數(shù)，另一路為正溫度系數(shù)。

　　圖4. 常用帶隙結(jié)構(gòu)

　　選擇適當?shù)墓ぷ鼽c，使得所產(chǎn)生的信號差與絕對溫度成比例（PTAT）。理想的設計目標是確保輸出電壓不隨溫度變化。遺憾的是，運放有兩個穩(wěn)定的平衡點：設置電流和零電流，而且，在零電流點，電路無法確定如何恢復或修正。

　　帶隙基準計算器有助于設計、分析Brokaw帶隙基準電路。它可以計算所有電路參數(shù)以及輸出電壓與結(jié)溫的函數(shù)關系，可以仿真一階調(diào)整效果和二階修正曲線，該免費工具可以從網(wǎng)站www.maxim-ic.com/tools/calculators/hp50g下載，其可以運行在HP? 50g計算器上，或提供計算器仿真的PC上。