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          高精度直流微電阻測(cè)試儀設(shè)計(jì)小tips(1):誤差處理方法

          作者: 時(shí)間:2013-04-26 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
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            其中,么,為不同材料導(dǎo)體之間接觸時(shí)的熱電勢(shì)常數(shù),單位為。v/℃下面給出了幾種金屬接觸時(shí)的么,值:

            不同材料導(dǎo)體之間接觸時(shí)的熱電勢(shì)常數(shù)

            由上可見(jiàn),雖然銅一銅接觸所產(chǎn)生的熱電動(dòng)勢(shì)很小,但如果銅質(zhì)材料連接不良,并且存在氧化時(shí),熱電勢(shì)對(duì)微弱信號(hào)測(cè)量的影響是相當(dāng)大的 。

            2.2.2.2化學(xué)電動(dòng)勢(shì)

            電化學(xué)效應(yīng)是微弱電壓測(cè)量中另一個(gè)主要的誤差來(lái)源,它實(shí)質(zhì)上是兩個(gè)電極之間電化學(xué)效應(yīng)產(chǎn)生的微弱的電池效應(yīng)。例如,常用的環(huán)氧樹(shù)脂印刷線路板,當(dāng)清潔不夠時(shí)有一些沾污或助焊劑等,就可能產(chǎn)生nA量級(jí)的誤差電流。如果溫度高或被沾污,材料的絕緣電阻會(huì)大大降低。高濕度會(huì)引起材料變形或吸收水分,而沾污則可能來(lái)源于人的體油、鹽或焊料等。沾污首先降低絕緣電阻,如果再加上高濕度,會(huì)形成導(dǎo)電通路,甚至形成大串聯(lián)電阻的化學(xué)電池。這種電池可能產(chǎn)生的誤差電流在PA到nA量級(jí)。與熱電勢(shì)一樣,系統(tǒng)內(nèi)部的化學(xué)電勢(shì)的影響是可以消除的,但信號(hào)輸入回路的電化學(xué)電勢(shì)的影響有時(shí)難以消除 。

          2.3微電阻測(cè)量的誤差處理方法

            測(cè)試電流流過(guò)弱電阻時(shí),無(wú)法精確測(cè)量?jī)啥宋⑷蹼妷盒盘?hào)的原因主要是直流誤差源的影響。:這些誤差源主要包括:熱電勢(shì)、電化學(xué)電勢(shì)、放大電路本身的失調(diào)和溫漂等。通常情況下,誤差信號(hào)的幅度遠(yuǎn)大于待測(cè)電壓信號(hào)從而將其淹沒(méi),放大待測(cè)信號(hào)的同時(shí)也會(huì)放大誤差信號(hào)。只有在消除或減小誤差源的情況下進(jìn)行放大,測(cè)量才有意義 。針對(duì)上小節(jié)提到的直流微電阻測(cè)量中的熱電勢(shì)誤差、化學(xué)電動(dòng)勢(shì)誤差和測(cè)量電路本身的失調(diào)誤差,首先可以從物理手段上去解決,其次可以采用電流反向三次測(cè)量法來(lái)消除誤差,最后還可以選擇合適的電路接線方法,以最大限度的排除誤差對(duì)微電阻電陰一值測(cè)量的干擾。

            2.3.1消除誤差的物理手段

            為了減小熱電勢(shì)誤差,在設(shè)計(jì)電路時(shí)應(yīng)盡可能選擇同質(zhì)的測(cè)量導(dǎo)線,并且盡可能減小測(cè)量端與測(cè)量環(huán)境的溫差。將儀器電路中的所有結(jié)點(diǎn)位置靠近放置,并保持測(cè)試儀器內(nèi)部的通風(fēng)良好,盡可能保持各元器件的溫度一致;應(yīng)在測(cè)量前使儀器預(yù)熱一段時(shí)間,以使測(cè)量?jī)x器內(nèi)部的溫度與環(huán)境溫度盡可能的接近,以使測(cè)量的誤差盡可能的小。

            為了減小化學(xué)電動(dòng)勢(shì)的影響,應(yīng)選擇不吸水的材料,同時(shí)要注意保持絕緣體的清潔衛(wèi)生,不要被污物或灰塵附上,如發(fā)現(xiàn)絕緣體上附有污垢應(yīng)及時(shí)的進(jìn)行清潔處理,這是消除和減少化學(xué)電動(dòng)勢(shì)的誤差的物理手段。

            我們用物理手段只能夠消除部分誤差,諸如熱電動(dòng)勢(shì)、電化學(xué)電勢(shì)、測(cè)量電路失調(diào)等誤差不能用物理手段完全的消除,總還是部分存在的。下面我們從電路接線方法和二次測(cè)量法上來(lái)探討消除誤差的方法。

            2.3.2電路接線方法設(shè)計(jì)

            常用的電阻測(cè)量接線方法一般有四種,根據(jù)測(cè)量所用饋線的根數(shù),可分二線法、三線法和四線法,另外還有一種也是比較常見(jiàn)的電橋法測(cè)量電阻接線方式。

            下面分別來(lái)看二線法,。三線法、電橋法和四線法的原理和優(yōu)缺點(diǎn)。

            2.3.2.1二線法測(cè)電阻原理

            二線法測(cè)電阻的電路示意圖,如圖2.3所示:

            二線法測(cè)電阻原理圖

            其中,待測(cè)電,阻為尺,測(cè)量接觸電阻和引線電阻分別用尺和凡表示,從圖中可以看出,未知電阻凡測(cè)出的電阻值將是凡、尺和凡阻值之和。所以,只有在待測(cè)電阻較大的時(shí)候才能采用此方法,如果被測(cè)電阻較小,甚至小于測(cè)量導(dǎo)線電阻,那么該方法就會(huì)產(chǎn)生較大的誤差。因此,對(duì)于測(cè)量本身電阻值很小的微電阻,二線法是不適合的,它只適合于較大電阻的測(cè)量接線。

            2.3.2.2三線法測(cè)電阻原理

            采用三線法測(cè)電阻的接線是被測(cè)電阻凡與接地線相接。原理如圖2.4所示。

            三線法測(cè)電阻原理圖

            圖中,待測(cè)電阻」路的一端通過(guò)導(dǎo)線接地,另一端分別經(jīng)由兩根導(dǎo)線連接運(yùn)放Al和AZ,要求三根導(dǎo)線的電阻相同,均為尺。當(dāng)通以如圖電流I時(shí),兩個(gè)運(yùn)放輸出電壓代和K分別為:(三個(gè)運(yùn)放的增益都為1)

            高精度直流微電阻測(cè)試儀設(shè)計(jì)小tips(1):誤差處理方法

            從上式可知,不管被測(cè)電阻的值是多少,導(dǎo)線電阻所產(chǎn)生的誤差影響可以被補(bǔ)償。在這種補(bǔ)償法測(cè)量微電阻電路中,確保測(cè)量精確度的因素主要是三根導(dǎo)線的電阻值凡是否一致。所以,當(dāng)用此法測(cè)量電阻值較小的電阻時(shí)應(yīng)該要特別注意連接待測(cè)電阻的三根導(dǎo)線的電阻值要相等才能保證測(cè)量的精確度。

            這種三線法的測(cè)量電阻的方法在實(shí)際的應(yīng)用相當(dāng)?shù)膹V泛,只要注意三根導(dǎo)線的電阻值相等就基本上能夠達(dá)到一定的精度要求。但是,三線制電阻測(cè)量方法只能消除等值線電阻的影響,不能消除接觸電阻的影響,氣而測(cè)量導(dǎo)線的長(zhǎng)度不可能完全相等,因此,三線法無(wú)法達(dá)到微電阻測(cè)量的要求。


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