基于LDO的優(yōu)化開關(guān)電源設(shè)計
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試驗分析
圖3：開關(guān)電源負(fù)載調(diào)整率測試電路
下面通過以下兩個實驗來驗證該方案的可行性：
1．測量負(fù)載調(diào)整率
實驗電路如圖3所示。由電子負(fù)載依次拉出0mA到400mA的電流，在每個負(fù)載點記錄下開關(guān)電源的輸出電壓。測試數(shù)據(jù)經(jīng)過處理，可以得出圖4所示的圖表。該圖充分說明，LDO優(yōu)秀的負(fù)載調(diào)整率已經(jīng)被完全移植到開關(guān)電源上。換言之，LDO極大地提高了開關(guān)電源的負(fù)載調(diào)整率。
2．輸出紋波的測量
分別在開關(guān)電源的LDO輸入端和輸出端接上示波器，可以得出圖5所示的波形。其中Ch1是LDO入口處的輸出波形，而Ch2是LDO出口處的輸出波形，即開關(guān)電源的最終輸出波形。
由上圖可以看出，LDO有效地濾除了開關(guān)電源EMI信號，相對于搭建常規(guī)EMI過濾器來講，應(yīng)用LDO更簡單可靠。
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