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          關于音箱的技術測試和主觀音質的評價一

          作者: 時間:2012-11-02 來源:網(wǎng)絡 收藏
          255,255); orphans: 2; widows: 2; -webkit-text-size-adjust: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px">  因此,對現(xiàn)代增加半功率的頻響測試,不但具有非常現(xiàn)實的指導意義,而具有打假的功效——可以使那些標稱2000W的小徹底暴露出本來面目。

            原因2:現(xiàn)行的測試標準過于寬松

            主觀聽音和頻響測試的不統(tǒng)一,還有另外一個原因,這就是目前的測試指標過于寬松,不夠嚴格。

            現(xiàn)行的頻響測試,以-3dB為標準。換句話說,是以高頻端和低頻端發(fā)出的聲音衰減一半時的頻率作為計量的最終頻率。

            對于高音單元制作技術不斷發(fā)展成熟的今天,一只中檔以上的高音頭發(fā)出20kHz的高音已毫無問題。目前世界上最先進的絹膜軟球頂高音的高頻已達到了40 kHz,而金屬膜的高音頭高頻上限已達到了80 kHz。再加上高音單元受音箱箱體的影響較小,所以目前中檔以上的新型音箱,高頻方面不會產(chǎn)生問題。對高頻重播影響較大的,僅僅限于高音單元的低端分頻點的選擇、與中音單元的銜接是否優(yōu)秀和是否有足夠的功率余量。

            對于低音單元來說,情況就復雜得多。盡管低音單元的制造技術也有著很大的發(fā)展,尤其是新型的振膜材料不斷問世,低音單元的技術指標也已經(jīng)不錯了。但低音單元的測試指標,和它裝在音箱上之后的實際指標之間的差距是很明顯的。有些時候,一只優(yōu)秀的低音單元,裝在一只毛病百出的音箱箱體之上,將使它原有的優(yōu)點徹底喪失。

            例如設計不合格的箱體,會產(chǎn)生比較嚴重的中低頻諧振,這種諧振不僅會使音箱重播時產(chǎn)生聲音染色,而且還造成測試曲線的劣化。

            大型監(jiān)聽音箱的測試指標比較“準”,其實這個“準”字在此處并不代表正確無誤,而是指測試指標與主觀聽音更加接近。既然前邊提到了目前以1瓦1米的測試方法存在著不足,那么在現(xiàn)行的測試標準范圍之內,有哪些音箱的與主觀聽音結果最為接近呢?答案如下:這就是大型監(jiān)聽音箱和質量比較好的大型民用音箱。

            結果為什么會是大型音箱?其原因有三。其一是大型音箱的箱體內容積大,所以在實際工作中的低頻響應受箱體內容積的制約就小。其二是大型音箱的承受功率較大、功率余量較大,在工作中達到過載失真的可能性相對比較小。尤其是大型監(jiān)聽音箱,所留的功率余量非常大,根本沒有產(chǎn)生過載失真的可能性。其三是大型音箱的低音單元口徑相對比較大,在產(chǎn)生同樣的低音時,單元的行程很小,失真也就相對比較小。


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