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          高速數(shù)據(jù)傳輸接口DDR2 I/F 的特性及測試

          ——
          作者:張可 王春宇 時間:2007-01-26 來源:《EDN電子設(shè)計技術(shù)》 收藏

          前言

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/20688.htm

          近年來隨著視頻設(shè)備、個人電腦的發(fā)展,在這些設(shè)備上進行的3d處理,視頻交換以及復(fù)雜的運算導(dǎo)致數(shù)據(jù)量急劇增大,為了滿足這些數(shù)據(jù)要在處理器、memory和外圍設(shè)備之間的高速交換,近年來出現(xiàn)了多種多樣的高速接口。同時,由于數(shù)據(jù)的高速傳輸,也給測試帶來的新技術(shù)上及測試成本上的挑戰(zhàn)。本文將基于advantest的t6500系列測試系統(tǒng),針對最近出現(xiàn)的高速數(shù)據(jù)傳輸接口ddr2 i/f的特性及測試進行簡單介紹。

          高速memory i/f概要

          為了簡單說明,表1列出了從1990年至今 pc memory總線,微處理器,memory單元以及高速接口的對應(yīng)情況。從表中可以看出傳輸總線的速度隨著從sdr到ddr2的轉(zhuǎn)變而迅速提高。隨著數(shù)據(jù)量的日益增大,ddr2存儲器已成為內(nèi)存和圖形處理芯片的主流應(yīng)用。因此,soc芯片中的ddr2 i/f 應(yīng)用也越來越廣泛。

          ddr2在memory cell和i/o buffer間集成了4 bit 的pre-fetches傳輸線,相同頻率的ddr1只集成了2 bit,因此ddr2的數(shù)據(jù)頻率可以達到ddr1的2倍(如圖2)。

          ddr2 i/f高速信號傳輸原理

          ddr2 i/f的管腳示例如圖3,決定ddr2 i/f i/o特點的管腳是dqs(data strobe signal)和dq(data)。clk用來提供外部時鐘信號,command用來提供控制指令,dm用來屏蔽某些數(shù)據(jù)位的輸出。

          與傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)傳輸方式不同,ddr2數(shù)據(jù)(data)的輸入輸出并不是與外部時鐘信號同步,而是由差分的dqs(data strobe signal)信號進行控制。如圖4所示,dq的數(shù)據(jù)輸出是有dqs的上升沿和下降沿觸發(fā)的。通過這種方式,可以實現(xiàn)ddr2芯片數(shù)據(jù)的高速傳輸?! ?

          ddr2 i/f 測試要求

          ddr2 i/f的數(shù)據(jù)傳輸頻率很高,并且對傳輸信號的品質(zhì)要求也比較高,愛德萬測試提供了以t6577+ddr2  i/f option module的方式滿足了dd2 i/f的各種性能測試及低成本的測試要求。

          下面以ddr667(數(shù)據(jù)頻率667mbps)為例,簡單介紹對其進行測試時相應(yīng)的信號管腳上需要的測試條件以及與其對應(yīng)的測試方法:

              dqs/dqn測試條件:信號頻率: 667mbps 接口規(guī)格:sstl18
              clock測試條件:信號頻率:333mbps 接口規(guī)格:sstl18
              dqs與dqn之間的關(guān)系:通過dqs信號控制dqn管腳上數(shù)據(jù)連續(xù)的輸入和輸出。
              ac參數(shù)測試條件:通過option module提供高頻時間參數(shù)的測試條件。
               dc 參數(shù)測試條件:通過t6577內(nèi)置的mdc,udc測量單元對ddr2 i/f的dc參數(shù)進行高精度測試。

            t6577+ ddr2 i/f option module原理圖

              667mbps/sstl18輸出信號 :t6577高速輸出模式可以對應(yīng)
              333mhz/sstl18 時鐘信號連續(xù)提供:option可以提供低jitter的信號
              要求option可以檢測dq以及dqs的輸出以及它們之間的關(guān)系:利用option的source synchronous功能和sdr功能可以對應(yīng)
              667mbps/sstl18輸入輸出信號的精度保證: 通過dual transmission line和option是信號達到精度要求
              ac測試中dqs和strb信號之間有一定的延遲:通過option可以提供可變的時間延遲,延遲時間±1ns,分辨率20ps
               dc測試:t6577的dc測試單元可以對應(yīng)

          t6577對應(yīng)測試方法

          利用t6577+ ddr2 i/f option module可以實現(xiàn)對ddr2 i/f dq和dqs管腳上信號的測試。圖6和圖7顯示出了在不同的數(shù)據(jù)輸入/輸出周期t6577可以完成的測試項目和完成ddr2功能測試提供的測試條件。


          結(jié)論

          通過上述介紹可以看出t6577 + ddr2 i/f option module完全可以滿足高速ddr2 i/f的高速高精度測試要求,實現(xiàn)了低成本的ddr2 i/f的測試。t6577作為通用soc測試系統(tǒng),可以滿足各種soc,asic,rf/mixed芯片的測試要求,完成各種類型芯片的高速高精測試。



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