基于安捷倫CXA信號分析儀的EMI預兼容測試方案

概述

　　越來越多的電子制造公司認識到頻繁地進行電磁兼容（EMC）/ 電磁干擾（EMI ）檢測，整改，已經(jīng)成為了降低產(chǎn)品研發(fā)成本，縮短產(chǎn)品開發(fā)周期的主要瓶頸。而在從研發(fā)，樣品生產(chǎn)到正式生產(chǎn)的整個過程中進行EMI 預兼容測試就是突破這一瓶頸的最常規(guī)的手段。

　　盡管進行EMI 預兼容測試已經(jīng)成為了電子行業(yè)的共識， 但是大多數(shù)公司的嘗試都遭遇了成本的阻礙。只有很少的大型電子企業(yè)有足夠的經(jīng)費建造，購買電波暗室，標準接收機以及相應外設，從而建設一套和EMC 標準實驗室類似的測試系統(tǒng)。而大量中小型的企業(yè)和電子產(chǎn)品設計室一直在尋找一套低成本而高效的EMI 預兼容測試方案。

　　典型的EMI測試系統(tǒng)

　　大多數(shù)的電子產(chǎn)品都需要通過傳導泄露和輻射泄露兩類EMI測試。其本質(zhì)都是使用頻譜分析儀或者接收機測量由測量附件拾取到的干擾信號。

圖一 傳導泄露測試

　　圖一是典型的傳導測試儀器連接配置

　　拾取電源線上傳播干擾信號的最常用設備是線性阻抗匹配網(wǎng)絡（LISN） 。而瞬態(tài)限幅器可以有效的避免頻譜分析儀或者接收機被LISN 產(chǎn)生的大功率瞬態(tài)信號損 壞。而傳導測試的被測件，附件和頻譜儀完全是通過電纜連接，所以非常容易實現(xiàn)且不易受到干擾。我們用類似的方法進行預兼容測試，得出的結果往往可以和EMC 認證機構得出的測試結果很好吻合。

圖二 輻射泄露測試

　　圖二是典型的輻射泄露測試的連接

　　一般在電波暗室或者開放空間中使用雙錐天線和對數(shù)周期天線拾取空間的輻射干擾。電波暗室是最理想的測試環(huán)境，可以有效的消除環(huán)境干擾和反射共振的影響。但是對于多數(shù)公司，電波暗室的投資都過于高昂。傳統(tǒng)的替代方法是在開放空間進行測試，以減

　　小發(fā)射和共振的影響，但是復雜的環(huán)境電磁波干擾始終難以完全消除。

　　安捷倫N9000A CXA 信號分析儀和 W6141A

EMI 預兼容方案主要優(yōu)勢

　　和普通的頻譜測量不同的是， EMI測量的響應標準對軟硬件功能有一系列強制要求，包括EMC 專用檢波器（準峰值檢波器，EMC 平均檢波器和RMS 檢波器）， CISPR 6 dB帶寬濾波器，對數(shù)頻率軸顯示，標準相關限制線，以及可變掃描點數(shù)以取得足夠的頻率分辨率。用一臺不具備專業(yè)功能的普通頻譜儀進行EMI 相關測試，可能得到的結果會大相徑庭。

　　安捷倫最新推出的基于N9000A CXA信號分析儀的W6141AEMC 測量應用軟件，提供完全符合CISRP-16-1要求的專業(yè)功能，良好的射頻性