1典型運(yùn)算放大器增加過壓保護(hù)案例:電源時(shí)序控
當(dāng)運(yùn)算放大器的輸入電壓超過額定輸入電壓范圍,或者在極端情況下,超過放大器的電源電壓時(shí),放大器可能發(fā)生故障甚至受損。本文討論過壓狀況的一些常見原因和影響,為無保護(hù)的放大器增加過壓保護(hù)是如何的麻煩,以及集成過壓保護(hù)的新型放大器如何能為設(shè)計(jì)工程師提供緊湊、魯棒、透明、高性價(jià)比的解決方案。
所有電子器件的可耐受電壓都有一個(gè)上限,超過上限就會(huì)產(chǎn)生影響,輕則導(dǎo)致工作暫時(shí)中斷或系統(tǒng)閂鎖,重則造成永久性損害。特定器件能夠耐受的過壓量取決于多個(gè)因素,包括是否安裝或意外接觸器件、過壓事件的幅度和持續(xù)時(shí)間、器件的魯棒性等。
精密放大器常常是傳感器測量信號鏈中的第一個(gè)器件,因而最容易受到過壓故障的影響。選擇精密放大器時(shí),系統(tǒng)設(shè)計(jì)師必須了解放大器的共模輸入范圍 。在數(shù)據(jù)手冊中,共模輸入范圍可能是用輸入電壓范圍 (IVR), 測試條件下的 共模抑制比 (CMRR),或以上二者來規(guī)定。
過壓狀況的實(shí)際原因
放大器需要兩種保護(hù):一是過壓保護(hù) 用以防止電源時(shí)序控制、休眠模式切換和電壓尖峰引起的故障;二是ESD靜電放電)保護(hù),用以防止靜電放電 (甚至搬運(yùn)過程中也可能出現(xiàn)靜電放電),引起的故障。 安裝后, 器件可能會(huì)受系統(tǒng)電源時(shí)序控制,導(dǎo)致重復(fù)性過壓應(yīng)力。系統(tǒng)設(shè)計(jì)師必須想方設(shè)法使故障電流避開敏感的器件,或者限制故障電流,使其不致于損壞器件。
在有多個(gè)電源電壓的復(fù)雜分布式電源架構(gòu) (DPA)系統(tǒng)中, 電源時(shí)序控制可以使系統(tǒng)電路各部分的電源在不同的時(shí)間開啟和關(guān)閉。時(shí)序控制不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致某個(gè)器件的某個(gè)引腳發(fā)生過壓或閂鎖狀況。
隨著人們越來越關(guān)注能源效率,許多系統(tǒng)要求實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的休眠 和待機(jī) 模式。這意味著,在系統(tǒng)的某些部分已關(guān)斷的同時(shí),其它部分仍然可能處于上電和活動(dòng)狀態(tài)。與電源時(shí)序控制一樣,這些情況可能會(huì)導(dǎo)致無法預(yù)測的過壓事件,但主要是在輸入引腳上。
許多類型的傳感器會(huì)產(chǎn)生意想不到的、與它們要測量的物理現(xiàn)象無關(guān)的輸出尖峰,這類過壓狀況一般僅影響輸入引腳。
靜電放電是一種廣為人知的過壓事件,常常發(fā)生在安裝器件之前。它造成的損害非常廣泛,以至于業(yè)界主要規(guī)范,如JESD22-A114D, determine how to test and specify the semiconductor’s 等,不得不明確如何測試和規(guī)定半導(dǎo)體耐受各類ESD事件的能力。幾乎所有半導(dǎo)體產(chǎn)品都包含某種形式的集成保護(hù)器件。出現(xiàn)高能脈沖時(shí),ESD單元應(yīng)進(jìn)入低阻抗?fàn)顟B(tài)。這不會(huì)限制輸入電流,但能提供到供電軌的低阻抗路徑。
一個(gè)簡單的案例研究:電源時(shí)序控制
隨著混合信號電路變得無處不在,單一PCB上的多電源需求也變得非常普遍。
精密放大器可能會(huì)成為這種狀況的受害者。圖1顯示了一個(gè)配置成差分放大器的運(yùn)算放大器。放大器通過RSENSE檢測電流,并提供與相應(yīng)壓降成比例的輸出。必須采取措施,確保由R3和R4構(gòu)成的分壓器將輸入偏置在額定IVR范圍內(nèi)的某處。如果放大器的電源電壓不是從VSY, 獲得,并且VCC在VSY,之后出現(xiàn),則A1反相輸入端的電壓為:
V_ = VSY-(I_ × R1) (1)
其中I_ 由無電源時(shí)A1的輸入阻抗決定。如果放大器不包含過壓處理設(shè)計(jì),則最有可能的電流路徑是通過ESD二極管、箝位二極管或寄生二極管流向電源或地。如果此電壓超出IVR范圍,或者電流超過數(shù)據(jù)手冊規(guī)定的額定最大值,器件可能會(huì)受損。
ADA4091和ADA4096, 等過壓保護(hù)放大器所用的ESD結(jié)構(gòu)不是二極管,而是DIAC 器件(雙向“交流二極管”),這使得此類放大器即使沒有電源也能承受過壓狀況。
運(yùn)算放大器中的故障狀況
當(dāng)開環(huán)放大器在其額定IVR范圍內(nèi)時(shí),差分輸入信號 (VIN+– VIN–)與VDIFF.180度異相。連接為單位增益緩沖器時(shí)(如圖所示),如果VIN+的共模電壓超過放大器的IVRJ1’的柵極-漏極進(jìn)入未夾斷狀態(tài)并傳導(dǎo)整個(gè)200μA級電流。只要J1’的柵極-漏極電壓仍然反向偏置VIN+的進(jìn)一步增加就不會(huì)導(dǎo)致 VDIFF變化 (VOUT仍然處于正供電軌)。 然而,一旦J1’的柵極-漏極變?yōu)檎?,VIN+的進(jìn)一步增加就會(huì)提高A1反相輸入端的電壓,導(dǎo)致輸入信號與VDIFF之間發(fā)生不需要的反相。
CMOS放大器的柵極與漏極電隔離,一般不會(huì)發(fā)生反相。如果確實(shí)會(huì)發(fā)生反相,運(yùn)算放大器制造商一般會(huì)在數(shù)據(jù)手冊中說明。下列條件下可能發(fā)生反相:放大器輸入端不是CMOS,最大差分輸入為VSY, 數(shù)據(jù)手冊未聲明不會(huì)發(fā)生反相。雖然反相本身不是破壞性的,但它能導(dǎo)致正反饋,進(jìn)而使伺服環(huán)路不穩(wěn)定。
系統(tǒng)設(shè)計(jì)師還必須關(guān)注放大器輸入超出電源范圍時(shí)會(huì)發(fā)生什么。這種故障狀況通常發(fā)生在電源時(shí)序控制導(dǎo)致一個(gè)源信號先于放大器電源激活時(shí),或者在開啟、關(guān)閉或工作中電源出現(xiàn)尖峰時(shí)。對于大多數(shù)放大器,這種狀況是破壞性的,尤其是如果過壓大于二極管壓降。
這些二極管的源極阻抗非常低,源極支持多少電流,二極管就能傳導(dǎo)多少電流。精密放大器AD8622提供少許差分保護(hù),輸入端串聯(lián)500 Ω電阻,施加差分電壓時(shí),該電阻可限制輸入電流,但它只能在輸入電流不超過額定最大值時(shí)提供保護(hù)。如果最大輸入電流為5 mA,則允許的最大差分電壓為5 V。注意,這些電阻并不與ESD二極管串聯(lián),因而無法限制流向電源軌的電流(例如在過壓期間)。
一旦施加的電壓超過二極管壓降,電流就可能損害、降低運(yùn)算放大器的性能,甚至破壞運(yùn)算放大器。
外部輸入過壓保護(hù)
從半導(dǎo)體運(yùn)算放大器問世之初,IC設(shè)計(jì)師就不得不權(quán)衡芯片架構(gòu)與應(yīng)對其脆弱性所需的外部電路之間的關(guān)系。系統(tǒng)設(shè)計(jì)師之所以需要精密運(yùn)算放大器,是因?yàn)樗袃蓚€(gè)重要特性:低失調(diào)電壓(VOS)和高共模抑制比(CMRR),這兩個(gè)特性能夠簡化校準(zhǔn)并使動(dòng)態(tài)誤差最小。為在存在電氣過應(yīng)力(EOS)的情況下保持這些特性,雙極性運(yùn)算放大器經(jīng)常內(nèi)置箝位二極管,并將小限流電阻與其輸入端串聯(lián),但這些措施無法應(yīng)對輸入電壓超過供電軌時(shí)引起的故障狀況。為了增加保護(hù),系統(tǒng)設(shè)計(jì)師可以采用圖6所示的電路。
圖6:利用限流電阻和兩個(gè)肖特基二極管提供外部保護(hù)的精密運(yùn)算放大器。RFB與ROVP相等,從而平衡輸入偏置電流引起的失調(diào)
如果VIN處的信號源先行上電,ROVP將限制流入運(yùn)算放大器的電流。肖特基二極管的正向電壓比典型的小信號二極管低200 mV,因此所有過壓電流都會(huì)通過外部二極管D1和D2.分流。然而,這些二極管可能會(huì)降低運(yùn)算放大器的性能。例如,可以利用1N5711的反向漏電流曲線(見圖7)來確定特定過壓保護(hù)電阻造成的CMRR損失。1N5711在0 V時(shí)的反向漏電流為0 nA,在30 V時(shí)為60 nA。對于0 V共模電壓, D1和D2引起的額外IOS取決于其漏電流的匹配程度。當(dāng)V被拉至+15 V時(shí),D1將反向偏置30 V,D2將偏置0 V。因此,額外的60 nA電流流入ROVP.當(dāng)輸入被拉至–15 V時(shí),D1和D2的電氣位置交換,60 nA電流流出OVP. 在任意共模電壓下,保護(hù)二極管引起的額外IOS等于:
IOSaddr = ID1– ID2 (2)
由公式2可計(jì)算出極端共模電壓下的VOS損失:
VOSpenalty = IOSaddr× ROVP (3)
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