USB 3.0應(yīng)用的ESD保護設(shè)計
以上五項基本要求缺一不可,若有任何一項無法滿足,則USB 3.0端口就無法被完善地保護。不過,同時符合以上五項要求的ESD保護組件其本身的設(shè)計難度相當(dāng)高,若非具有豐富經(jīng)驗與扎實技術(shù)的設(shè)計團隊將無法實現(xiàn)。
采用AZ1065的USB 3.0 應(yīng)用ESD保護方案
本文介紹的USB 3.0 應(yīng)用的ESD保護方案,采用的是晶焱科技針對USB 3.0的保護需求推出的AZ1065系列ESD保護組件。為了將保護組件的寄生電容對4.8Gbps差動(Differential)信號高速傳輸?shù)挠绊懡抵磷畹?,AZ1065的寄生電容低于0.3pF。在極嚴(yán)格的電容要求下,任一引腳在室溫時仍可承受IEC 61000-4-2接觸模式10kV ESD的攻擊。
最重要是,與相同的寄生電容相比,AZ1065擁有最低的ESD箝制電壓,可有效防止數(shù)據(jù)傳輸時被ESD事件干擾,這樣才能讓具有USB 3.0連接端口的電子系統(tǒng)得以通過Class-A的IEC 61000-4-2系統(tǒng)級靜電放電保護測試。利用傳輸線脈沖系統(tǒng)(TLP)測量AZ1065-06F后,可以觀察到如圖1所示的ESD箝制電壓特性。
在IEC 61000-4-2接觸模式6kV(TLP電流等效約為17A)的ESD攻擊下,箝制電壓僅有13.4V,足以有效避免系統(tǒng)產(chǎn)品在靜電測試時發(fā)生數(shù)據(jù)錯誤、當(dāng)機甚
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