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          LCR阻抗測(cè)量?jī)x校準(zhǔn)初探

          作者: 時(shí)間:2012-02-27 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          0 引言

            在目前的生產(chǎn)制造業(yè)中,與傳統(tǒng)的手動(dòng)交流電橋相比,數(shù)字因其測(cè)量性能穩(wěn)定可靠,無(wú)需進(jìn)行反復(fù)的、復(fù)雜的手動(dòng)平衡,還可以減少測(cè)量誤差和結(jié)果計(jì)算,故已被越來(lái)越多地被應(yīng)用于交流阻抗參數(shù)的測(cè)量。要保證測(cè)量準(zhǔn)確度,對(duì)其性能的考核就顯得尤為重要。本文對(duì)電容、電感、電阻和損耗參數(shù)在lkHz頻率下的作一初步探討。

            1 原理性能概述

            帶微處理器的LCR阻抗測(cè)量?jī)x為多測(cè)量功能、寬頻率、寬測(cè)量范圍的數(shù)字計(jì)量?jī)x器,主要應(yīng)用于測(cè)量電感器、電容器、電阻器和損耗、Q值等主副參量的測(cè)量。其工作原理是以?xún)?nèi)附的標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ),在1kHz下溯源于電容基準(zhǔn)。它采用自動(dòng)平衡等電流條件下測(cè)量被測(cè)元件與內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)量程電阻的相(矢)量電壓比例的方法給出被測(cè)元件的量值。一般說(shuō)來(lái),由正弦交流激勵(lì)電源、比較器、相量電壓比檢測(cè)器、數(shù)字控制和顯示電路幾部分組成。

            在實(shí)際工作中,測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)和被測(cè)量是用同一線(xiàn)路,而且相隔時(shí)間很短(大約僅為0.01s),測(cè)量線(xiàn)路幾乎沒(méi)有什么變化。標(biāo)準(zhǔn)的比例,被測(cè)的量值和相位都是經(jīng)過(guò)微處理器內(nèi)部精密計(jì)算后迅速顯示出來(lái)的。

            還可顯示測(cè)量電路的聯(lián)接方式、同時(shí)顯示L、Q、C、D值,克服了傳統(tǒng)的手動(dòng)交流電橋繁瑣的平衡及困難的計(jì)算。

            此外,由于LCR阻抗測(cè)量?jī)x可以方便地進(jìn)行三端或四端測(cè)量,通過(guò)開(kāi)路調(diào)零和短路調(diào)零消除了開(kāi)路電容和短路電感的影響;還可以消除被測(cè)端沒(méi)有屏蔽的接線(xiàn)端的影響,這些影響可以通過(guò)LCR測(cè)量?jī)x的非線(xiàn)性自動(dòng)調(diào)整,使變化的電磁波中非線(xiàn)性部分得到控制。橋體的偏置電壓也可由內(nèi)部或外部提供。

            2 主參量的

            2.1電容參量的

            選擇比被校LCR阻抗測(cè)量?jī)x高二個(gè)等級(jí)(或高二個(gè)等級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)阻抗測(cè)量?jī)x和過(guò)渡量具)的標(biāo)準(zhǔn)電容器作為被測(cè),主要考核電容示值的基本誤差。但標(biāo)準(zhǔn)電容器性能較為復(fù)雜,在音頻范圍內(nèi)穩(wěn)定性最好的電容器應(yīng)選擇石英電容器和三端鈕空氣電容器,其值可以準(zhǔn)確的計(jì)算出來(lái)。在精密測(cè)量中,一般選擇三端鈕電容器作為標(biāo)準(zhǔn)器使用,并采用等電位屏蔽,即:使低電位端與屏蔽等電位,但不直接相連接。電橋測(cè)量時(shí),讓標(biāo)準(zhǔn)電容器和被測(cè)電容器流過(guò)相同的電流。由于三端鈕電容器的測(cè)量是在等電位屏蔽的基礎(chǔ)上進(jìn)行,屏蔽消除了寄生泄漏的影響,準(zhǔn)確度較高,如果排除其他干擾,可以選擇10pF-1uF的容量作為標(biāo)準(zhǔn)電容考核電容示值基本誤差。但考核luF以上的電容示值量程,用大電容作標(biāo)準(zhǔn)時(shí)一定要注意測(cè)量頻率,如果測(cè)量頻率高于音頻范圍時(shí),測(cè)量結(jié)果將會(huì)發(fā)生很大的變化,這時(shí)必須作頻率影響修正。如果選擇云母電容器作為考核標(biāo)準(zhǔn),溫度系數(shù)較小但損耗較差,因此只能考核準(zhǔn)確度較低的LCR阻抗測(cè)量?jī)x。三端鈕電容器采用兩次測(cè)量法:首先將電容器接入LCR阻抗測(cè)量?jī)x測(cè)量,然后斷開(kāi)高電位端測(cè)量開(kāi)路電容量,兩次測(cè)量值的增量即為被測(cè)電容器的實(shí)際值。

            2.2電阻參量的校準(zhǔn)

            采用比被校LCR阻抗測(cè)量?jī)x高二個(gè)等級(jí)(或高二個(gè)等級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)阻抗測(cè)量?jī)x和過(guò)渡量具)的精密交流電阻作標(biāo)準(zhǔn),主要考核被校LCR阻抗測(cè)量?jī)x測(cè)量電阻的性能,考核時(shí)必須注意了解所用的標(biāo)準(zhǔn)電阻的穩(wěn)定性。儀器顯示值與實(shí)際值的偏差應(yīng)滿(mǎn)足被校LCR阻抗測(cè)量?jī)x測(cè)量電阻的指標(biāo)。此外,交流電阻的測(cè)量可采用二端鈕、三端鈕、四端鈕、五端鈕接線(xiàn)法,具體的測(cè)量接線(xiàn)視其阻值大小而定。選用不同量值的標(biāo)準(zhǔn)電阻作標(biāo)準(zhǔn),對(duì)LCR阻抗測(cè)量?jī)x的不同量程考核時(shí)要注意標(biāo)準(zhǔn)電阻的測(cè)量狀態(tài)。ZX100Ω時(shí),連接導(dǎo)線(xiàn)兩端鈕之間的并聯(lián)路電容影響可忽略不計(jì),被測(cè)儀器一般采用串聯(lián)電路;測(cè)量高電阻(Zx>1kΩ)時(shí),被測(cè)儀器采用并聯(lián)電路,連接導(dǎo)線(xiàn)端鈕之間的并聯(lián)電容影響較大,如果不接屏蔽,其交流電阻值和時(shí)間常數(shù)與周?chē)碾姶艌?chǎng)有關(guān),變化的電磁能會(huì)使交流電阻的交流特性發(fā)生明顯的變化,因此精密交流電阻器應(yīng)帶屏蔽,測(cè)量需要按三端鈕接線(xiàn)進(jìn)行??己穗姌蛐‰娮枇砍虝r(shí),要注意串聯(lián)電感影響測(cè)量,可用四端鈕或五端鈕接線(xiàn)。低于10Ω的交流電阻器可采用五端鈕接線(xiàn)法,屏蔽接地的目的是為了消除引線(xiàn)導(dǎo)納的影響。

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