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          高頻鎖相環(huán)的可測性設(shè)計

          作者: 時間:2012-02-23 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          0px">  本文將基于IEEE1149.1標準的邊界掃描技術(shù)應(yīng)用于模擬電路設(shè)計中,對一款提出了測試方案,并給出了相應(yīng)的測試電路。并對采用該方案進行測試的高速在增加測試電路前后電路的仿真結(jié)果進行了比較。結(jié)果表明,本文所提出的測試方案對本身的功能影響很小。

            參考文獻

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