延遲和建立時間與溫度的關(guān)系

設(shè)計工程師們通常使用測試設(shè)備來驗證數(shù)字邏輯電路的邏輯正確性。他們可能會設(shè)計一個測試方案來測試新的數(shù)字設(shè)備內(nèi)部的每個單獨邏輯功能。如果看到測試結(jié)果的每個步驟都是正確的，則可以很自然地得出結(jié)論：“機器工作正常”。

遺憾的是，實際的系統(tǒng)比這要復(fù)雜得多。許多計算機系統(tǒng)可以通過循序漸進的測試，但在實際工作速率，或者達到實際工作的數(shù)據(jù)吞吐量時，機器卻不能工作。只有當讀者擁有很多復(fù)雜系統(tǒng)的工作經(jīng)驗時，才會有這樣的體會，事實也確實如此。

在高利用率時，一個調(diào)整數(shù)字系統(tǒng)內(nèi)部的總線和其他部件會產(chǎn)生很多噪聲。系統(tǒng)的數(shù)據(jù)量越大，其產(chǎn)生的噪聲也越多。最好的測試計劃會逐級遞進到較大的數(shù)據(jù)流量，用大量的數(shù)據(jù)模型進行測試，重點測試流水線邏輯電路，存儲器訪問以及其他一些主要邏輯電路。好的數(shù)據(jù)模型找出正常工作時令系統(tǒng)出故障的噪聲耦合。