抖動的概念和抖動的測量方法
2.誤碼率測試儀測量Jitter
前面提到Jitter會導(dǎo)致接收誤碼,反過來,如果能測得誤碼率的情況也應(yīng)該能推出Jitter的特性。使用誤碼率分析儀測量Jitter的方法就是基于這種思想而提出的。
采用誤碼率分析儀通常采用兩個通道,將其中一個通道保持在眼圖的中心位置,而使用另一個通道完成誤碼率測試。這樣就不需要知道發(fā)送端碼流的情況,因而不需要重復(fù)發(fā)送某種模式的編碼。同時還能很好的解決同步問題。
通過對誤碼率分析儀可以對眼圖各個方向上進(jìn)行掃描,得到眼圖的清晰輪廓,對于分析Jitter可以提供很多有價值的數(shù)據(jù)。
3.通過相位噪聲間接測量Jitter
如前所述,抖動和相位噪聲所描述的是同一現(xiàn)象的特征,因此,如果能從相位噪聲的測量結(jié)果中導(dǎo)出抖動的值將是有意義的。在對晶振測量時經(jīng)常會給出相位噪聲這一指標(biāo),可以推到出該晶振可能帶來的抖動。
圖9 相位噪聲圖
每個振蕩器都有其相位噪聲圖,圖9給出一個例子。該圖中繪出的是從12kHz到10MHz這個頻帶范圍內(nèi),某振蕩器的相位噪聲情況。圖中,L(f)以功率譜密度函數(shù)的形式給出了邊帶噪聲的分布,單位為dBc。中心頻率的功率并不重要,因為抖動只反映了相位噪聲(即調(diào)制)與“純”中心頻率處的相對功率值。邊帶的總噪聲功率N可以由L(f)函數(shù)在整個感興趣頻段內(nèi)(在本例中,即12KHz到10MHz頻段內(nèi))積分得到。
計算得到的是相位調(diào)制噪聲在該頻段內(nèi)的功率,而相位調(diào)制正是造成抖動的原因。由此,我們還能用如下的定積分推出RMS抖動的值。
下式可求得該噪聲功率造成的RMS抖動:
六、小結(jié)
本文詳細(xì)介紹了時間抖動(Jitter)的定義,并分析了其產(chǎn)生的原因,給出的分析手段和測量方法。相信通過這篇文檔,用戶可以對Jitter有一個比較深刻的認(rèn)識,希望本文可以對您的實際工作有所幫助。由于學(xué)識有限,文中難免有些紕漏,歡迎讀者和作者聯(lián)系指出。
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