一種熱電阻阻值測量的新方法
摘 要:在利用熱電阻測量溫度中,熱電阻阻值的精確測量是精確測量溫度的關(guān)鍵,針對傳統(tǒng)熱電阻阻值的測量的不足,提出了新穎的熱電阻阻值測量方法,以AT89C51單片機(jī)為核心,僅用較少外圍資源就可以實(shí)現(xiàn),結(jié)構(gòu)簡單,性能可靠,測量精度高。
關(guān)鍵詞:熱電阻 測量 單片機(jī)
1 引言
溫度的測量在生產(chǎn)、生活中有著廣泛的應(yīng)用,熱電阻傳感器以其溫度測量特性穩(wěn)定,復(fù)現(xiàn)行好,測量精度高,測量范圍大等優(yōu)良性能受到青睞。傳統(tǒng)的熱電阻測量電路[1]有以下幾種:一是二線制單臂電橋法,電橋的輸出電壓反映了溫度的變化,但是,由于熱電阻自身阻值較小,當(dāng)引線較長時(shí),引線電阻引起的誤差就不能忽略。二是三線制單臂電橋法,雖然能夠解決引線電阻引起的誤差,但測量范圍窄。三是四線制單臂電橋法,可以無需考慮熱電阻的非線性造成的測量誤差,并利用恒流源在熱電阻上產(chǎn)生的壓降反映溫度,但是一般測溫現(xiàn)場難以滿足四線制的要求。四是熱電阻阻值電流轉(zhuǎn)換法,將熱電阻阻值轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的電流,以利于信號的傳輸,然而,對于精確的溫度測量仍然存在引線電阻引起的誤差,且性價(jià)比低。為此,提出了一種熱電阻阻值測量的新方法,并以AT89C51單片機(jī)[2][3]為主機(jī),配以較少的電阻,電容等元件組成測量系統(tǒng),實(shí)踐證明方法準(zhǔn)確、有效。
2 測量原理[4]
測量電路如圖1,其中Rt為待測的熱電阻阻值,Rl為引線的等效電阻,Rc為標(biāo)準(zhǔn)精密電阻,Rd為電容放電電阻。測量原理如下:
第一步,P1.0、P1.1、P1.3為輸入狀態(tài),P1.2為輸出狀態(tài),輸出的高電平V1通過Rl、Rt、Rl對電容C充電,則電容C上的電壓Uc(t),按下式變化,即
經(jīng)歷Tt過渡時(shí)間,Uc(t)達(dá)到P1.3的輸入高電平閥值電壓V2,P1.3的輸入狀態(tài)由低電平過渡為高電平狀態(tài),且過渡時(shí)間Tt可由(1)式求得,即
?將P1.3置為低電平狀態(tài),電容C通過Rd放電。
第二步,P1.0、P1.2、P1.3為輸入狀態(tài),P1.1為輸出狀態(tài),輸出的高電平V1通過Rc、Rl、Rl對電容C充電,經(jīng)歷Tc過渡時(shí)間,Uc(t)達(dá)到P1.3的輸入高電平閥值電壓V2,P1,3的輸入狀態(tài)由低電平過渡為高電平狀態(tài),且過渡時(shí)間Tc可由(3)式求得,即
將P1.3置為低電平狀態(tài),電容C通過Rd放電。
? 第三步,P1.1、P1.2、P1.3為輸入狀態(tài),P1.0為輸出狀態(tài),輸出的高電平V1通過Rl、Rl對電容C充電,經(jīng)歷T1過渡時(shí)間,Uc(t)達(dá)到P1.3的輸入高電平閥值電壓V2,P1.3的輸入狀態(tài)由低電平過渡為高電平狀態(tài),且過渡時(shí)間T1可由(4)式求得,即
將P1.3置為低電平狀態(tài),電容C通過Rd放電。
將(2)式除以(4)式得
因?yàn)镽c為已知,只要測量出Tt、Tc、Tl便可由(7)式計(jì)算出被測熱電阻Rt的阻值,單片機(jī)程序在通過計(jì)算或查表的方法,將熱電阻的阻值轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的溫度值,當(dāng)Rc選精密電阻,并且單片機(jī)時(shí)間測量精度高時(shí),使用該測量方法可達(dá)到較高的測量精度。
3 測量原理的改進(jìn)
上述原理分析中,單片機(jī)輸出的高電平V1和輸入高電平的閥值電壓V2,在三個(gè)步驟中的變化將影響測量精度,為此測量電路進(jìn)行如圖2的改進(jìn)。
其中CD4502為CMOS模擬開關(guān),它的導(dǎo)通電阻、切換速度與其供電電壓有關(guān),但對同一芯片,具有同一性,可設(shè)模擬開關(guān)的導(dǎo)通電阻為Ron,這樣使每一步對電容充電的電壓,相一致為Vcc用放大器OP-07實(shí)現(xiàn)比較器,比較器的正輸入端反映電容的充電電壓,負(fù)輸入端接標(biāo)準(zhǔn)穩(wěn)壓電源LM385-2.5,使輸入高電平的閥值電壓穩(wěn)定在Vd,通過以上措施克服了原有測量電路的不足,具體測量原理如下:
第一步,P1.4置為“l(fā)”狀態(tài),并使P1.2、P1.3均為“1”狀態(tài),則CD4502的Y-Y3接通,對電容放電,放電完成后,比較器的“+”輸入端電壓將低于“-”輸入端電壓,比較器發(fā)生翻轉(zhuǎn),P1.5為低電平,將P1.2、P1.3均為“0”狀態(tài),則CD4502的X-X0接通,電壓Vcc通過電阻Ron、Rl、Rl對電容充電,經(jīng)歷Tl過渡時(shí)間,Uc(t)達(dá)到比較器的翻轉(zhuǎn)電壓,且過渡時(shí)間T?l可由(8)式求得,即
(8)
將P1.2、P1.3均為“1”狀態(tài),CD4502的Y-Y3接通,對電容放電。
第二步,P1.2、P1.3分別設(shè)為“0”、“1”狀態(tài),則CD4502的X-X1接通,電壓Vcc,通過電阻Ron、Rc、Rl、Rl對電容充電,經(jīng)歷Tc過渡時(shí)間,Uc(t)達(dá)到比較器的翻轉(zhuǎn)電壓,且過渡時(shí)間T?c可由(9)式求得,即
將P1.2、P1.3均為“l(fā)”狀態(tài),CD4502的Y-Y3接通,對電容放電。
第三步,P1.2、P1.3分別設(shè)為“1”、“0”狀態(tài),則CD4502的X-X2接通,電壓Vcc通過電阻Ron、Rl、Rt、Rl、對電容充電,經(jīng)歷Tt過渡時(shí)間,Uc(t)達(dá)到比較器的翻轉(zhuǎn)電壓,且過渡時(shí)間T?t可由(10)式求得,即
將P1.2、P1.3均為“1”狀態(tài),CD4502的Y-Y3接通,對電容放電。
由式(8)、(9)、(10)可得到如式(7)的熱電阻阻值表達(dá)式,此表達(dá)式可以轉(zhuǎn)化成下式:
由式(11)可以看出,由于系統(tǒng)參數(shù)己固定,Tt、Tc、Tl如有誤差,誤差應(yīng)具有相同的方向,即同時(shí)具有正向誤差,或負(fù)向誤差,通過Tt-Tl,Tc-Tl可消除系統(tǒng)誤差,這一特點(diǎn)有利于提高測量精度。
4 參數(shù)的選擇
由式(2)可知,Tt的大小取決于電阻Rt、電容C,在單片機(jī)的計(jì)數(shù)器不溢出的基礎(chǔ)上,Tt的數(shù)值越大,測量精度越高,一般情況下,Rc應(yīng)近似取被測電阻最大值的一半,電容C按下式選擇:
其中Tt:計(jì)數(shù)器溢出時(shí)間,與單片機(jī)的時(shí)鐘頻率及定時(shí)器的位數(shù)有關(guān);?
Rmax:被測電阻的最大值;?
如果采用Pt100做溫度傳感器,溫度測量范圍為-200~850℃,對應(yīng)的阻值為18.49~390.26Ω、考慮到其他電阻的影響,取Rmax為1K(Rt+Rc+2Rl),則Rc為500Ω、Vcc為5V、VD為2.5V。
單片機(jī)AT89C51的時(shí)鐘頻率為16MHz、定時(shí)器的分辨率為16位,則T計(jì)數(shù)范圍為65535對應(yīng)的計(jì)數(shù)時(shí)間為1us*65535us,由式(12)知:Clt;94.5uf、取90uf、則其靈敏度K(個(gè)數(shù)/Ω)為:
5 系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)
采用AT89C51為核心,X25045存儲相關(guān)定值,另外X25045具有WATCHDOG功能,可防止程序的“飛車”,提高了系統(tǒng)的抗干擾能力,通過標(biāo)準(zhǔn)的RS232串行接口實(shí)現(xiàn)與遠(yuǎn)方的數(shù)據(jù)通訊,鍵盤顯示部分實(shí)現(xiàn)人機(jī)接口,開出部分實(shí)現(xiàn)報(bào)警和相應(yīng)的控制,組成系統(tǒng)框圖如下:
6 結(jié)論
利用電容沖放電原理實(shí)現(xiàn)的熱電阻測量電路,設(shè)計(jì)合理,結(jié)構(gòu)簡單,符合現(xiàn)場測溫的實(shí)際情況,經(jīng)現(xiàn)場實(shí)踐表明,運(yùn)行準(zhǔn)確,可靠。
參考文獻(xiàn):
[1]郝蕓.傳感器原理與應(yīng)用[M].電子工業(yè)出版社,2002,第一版
[2]何立民.單片機(jī)應(yīng)用設(shè)計(jì)[M].北京航空航天大學(xué)出版社,1996,第一版
[3]李華.MCS-51系列單片機(jī)實(shí)用接口技術(shù)[M].北京航空航天大學(xué)出版社,1993,第一版
[4]何立民.單片機(jī)應(yīng)用技術(shù)選編(8)[M].北京航空航天大學(xué)出版社,2000,第一版
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