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          電磁兼容性的設(shè)計與測量方案

          作者: 時間:2011-10-15 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          1、主要技術(shù)參數(shù)

            干擾(Electromagnetic Interference),簡稱EMI,有傳導干擾和輻射干擾兩種。為了防止一些電子產(chǎn)品產(chǎn)生的干擾影響或破壞其它電子設(shè)備的正常工作,各國政府或一些國際組織都相繼提出或制定了一些對電子產(chǎn)品產(chǎn)生干擾有關(guān)規(guī)章或標準,符合這些規(guī)章或標準的產(chǎn)品就可稱為具有電磁EMC(Electromagnetic Compatibility)。電磁EMC標準不是恒定不變的,而是天天都在改變,這也是各國政府或經(jīng)濟組織,保護自己利益經(jīng)常采取的手段。應重點考慮電路設(shè)計、隔離退耦、濾波、接地、屏蔽以及射頻資源的分配等問題。舉例說明,設(shè)計電路時宜選噪聲高、抗干擾能力強的CMOS電路來代替TTL電路,用無解點的可視具體情況選用低通濾波器、高通濾波器或有源濾波器。利用隔離變壓器或光耦合器可實現(xiàn)信號隔離及阻抗變換。選用電磁良好的VXI總線儀器系統(tǒng)來構(gòu)成測試系統(tǒng)。

            

          電磁兼容性的設(shè)計與測量方案

            2、電磁兼容性的測量

            

          電磁兼容性的設(shè)計與測量方案

            

          干擾分析儀電路框圖



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