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          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2010-12-23 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          在現(xiàn)代通信和信號(hào)處理系統(tǒng)中,高性能A/D轉(zhuǎn)換器作為連接模擬和數(shù)字世界的重要通道被廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)圖像、高速數(shù)據(jù)變換及QAM調(diào)制器等重要設(shè)計(jì)領(lǐng)域。是模數(shù)轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)的核心單元,其精度、速度、失調(diào)電壓和回饋噪聲等因素直接影響著系統(tǒng)模塊的整體性能。傳統(tǒng)的預(yù)放大通過采用3級(jí)或3級(jí)以上級(jí)聯(lián)的預(yù)放大器結(jié)構(gòu)降低的傳輸延時(shí)和回饋噪聲,但這些指標(biāo)是以較高的功耗和增加芯片面積為代價(jià)的。典型的A-B型動(dòng)態(tài)比較器具有高速、低功耗的特點(diǎn),但該結(jié)構(gòu)存在著較大的回饋噪聲和失調(diào)電壓,限制了比較器精度的提高。綜合考慮以上因素,基于TSMC 0.18μm CMOS標(biāo)準(zhǔn)工藝,本文設(shè)計(jì)了一種可應(yīng)用于高速高精度A/D轉(zhuǎn)換器的比較器結(jié)構(gòu),給出了提高比較速度和降低回饋噪聲的理論和方法,并基于此進(jìn)行了電路的設(shè)計(jì)與優(yōu)化。

          1 比較器電路設(shè)計(jì)

          本文設(shè)計(jì)的高速高精度比較器從功能上可劃分為3級(jí),包括預(yù)放大級(jí),比較級(jí),輸出緩沖級(jí),如圖1所示。通過預(yù)放大級(jí)電路放大,并由控制把放大后的信號(hào)傳輸?shù)?a class="contentlabel" href="http://www.ex-cimer.com/news/listbylabel/label/鐘控">鐘控比較級(jí)進(jìn)行再生比較,最后利用正反饋結(jié)構(gòu)的輸出緩沖級(jí)電路將輸出電壓迅速轉(zhuǎn)化成邏輯電平。

          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)


          1.1 預(yù)放大級(jí)

          為了滿足高速、高精度的要求,預(yù)放大器的設(shè)計(jì)原則是高帶寬低增益。單純的以MOS二極管和電流源為負(fù)載的放大器具有有限的增益帶寬積,不能同時(shí)兼顧速度和精度的要求,使用二極管和電流源負(fù)載的混合結(jié)構(gòu)可以滿足良好的增益和帶寬的折衷。

          針對(duì)圖l中預(yù)放大級(jí),VM1、VM2構(gòu)成差分放大管,二極管方式連接的MOS管VM8,VM9為差分對(duì)的有源負(fù)載,增加PMOS鏡像電流源VM6、VM7的目的是使輸入晶體管偏置電流的一部分由PMOS電流源提供,這樣可以通過減小電流而不是減小寬長比來降低負(fù)載管的跨導(dǎo),進(jìn)而提高差動(dòng)增益。VM4、VM5為鐘控開關(guān)晶體管,當(dāng)clk為高電平時(shí),其與輸入差分對(duì)構(gòu)成共源共柵結(jié)構(gòu),提高電路對(duì)的放大能力;當(dāng)clk為低電平時(shí),其可以有效隔離與再生節(jié)點(diǎn)饋通的回饋噪聲,這對(duì)保證電路的性能非常重要,預(yù)放大電路的小信號(hào)模型如圖2所示。

          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)


          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)
          從式(3)可以看出,通過合理調(diào)節(jié)管子的寬長比和電流源注入的電流值可調(diào)節(jié)放大器的增益和頻率特性。需要注意的是,為同時(shí)滿足高速比較器對(duì)響應(yīng)時(shí)間的要求,設(shè)計(jì)中在保證增益的同時(shí)盡量增加預(yù)放大器的帶寬。該預(yù)放大器的增益、帶寬仿真結(jié)果如圖3所示,增益為18.352 dB,-3 dB帶寬為1.122 GHz。

          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)

          1.2 鐘控比較級(jí)

          鐘控比較級(jí)響應(yīng)時(shí)間的快慢直接影響著比較器的速度。該部分電路的原理主要是利用預(yù)放大器的輸出控制比較級(jí)輸入端電壓的變化,即通過預(yù)放大級(jí)電路將比較器輸入差值放大到大于比較級(jí)的閾值,避免了比較級(jí)的非穩(wěn)態(tài)輸出,從而把再生階段初始時(shí)建立的較小的輸入電壓差在短時(shí)間內(nèi)再生放大,提高了比較器的精度。該鐘控比較級(jí)(圖1)的兩個(gè)交叉耦合MOS管VM10、VM11的互聯(lián)實(shí)現(xiàn)了用正反饋環(huán)路結(jié)構(gòu)提高比較級(jí)電路增益的目的。開關(guān)晶體管VM4、VM5、VM12、VM13、VM14、VM15共同控制比較級(jí)的工作狀態(tài),狀態(tài)轉(zhuǎn)換的快慢影響著比較級(jí)的再生速度,MOS開關(guān)的響應(yīng)時(shí)間為可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì),因此可以通過減小晶體管的尺寸來縮短比較級(jí)的再生時(shí)間,本設(shè)計(jì)中的開關(guān)晶體管均采用該工藝下最小尺寸。

          比較級(jí)電路有兩種工作模式:復(fù)位模式與比較模式。當(dāng)時(shí)鐘信號(hào)clk為高電平時(shí),VM4、VM5使預(yù)放大器采集并放大輸入信號(hào),VM12、VM13和VM14、VM15關(guān)斷強(qiáng)制將再生節(jié)點(diǎn)電壓Vo1,Vo2拉到低電平。當(dāng)時(shí)鐘信號(hào)clk為低電平時(shí),VM4、VM5、VM12、VM13關(guān)斷,VM14、VM15,系統(tǒng)進(jìn)入比較模式。VM10和VM11柵源電壓的不同將導(dǎo)致流過這兩個(gè)晶體管電流的不同,兩再生節(jié)點(diǎn)Vo1,Vo2電壓上升的快慢就不同,電壓上升較快的一端將會(huì)抑制另一端再生節(jié)點(diǎn)電壓的上升,比較級(jí)電路正反饋的機(jī)制將會(huì)使再生節(jié)點(diǎn)電壓差迅速增加。

          1.3 輸出緩沖級(jí)

          目前,A/D轉(zhuǎn)換器中的比較器通常在時(shí)鐘的跳變沿處進(jìn)行比較。本文設(shè)計(jì)的電路是通過在比較級(jí)電路后增加輸出緩沖級(jí)(又稱后放大級(jí)) ——正反饋的latch結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)的,其主要作用是把比較級(jí)電路的輸出信號(hào)轉(zhuǎn)化為邏輯電平(O V或5 V)。

          當(dāng)使能信號(hào)enable為低電平時(shí),VM24關(guān)斷(圖1),再生節(jié)點(diǎn)電壓無法作用于輸出緩沖級(jí)電路,整個(gè)比較系統(tǒng)處于不工作狀態(tài)。當(dāng)enable為高電平時(shí),VM24導(dǎo)通,輸出緩沖級(jí)電路導(dǎo)通。當(dāng)時(shí)鐘信號(hào)clk為低電平時(shí),VM18和VM19導(dǎo)通,VM16、VM17、VM20、VM21構(gòu)成了一個(gè)首尾相接的放大器,根據(jù)比較級(jí)再生節(jié)點(diǎn)電壓的不同將比較器的輸出電壓VOUT1,VOUT2迅速轉(zhuǎn)化為全擺幅數(shù)字電平。當(dāng)clk為高電平時(shí),VM18和VM19關(guān)斷,緩沖級(jí)電路進(jìn)入輸出信號(hào)的狀態(tài),保證了輸出結(jié)果的穩(wěn)定性。

          2 電路的分析和優(yōu)化

          2.1 比較速度

          在時(shí)鐘信號(hào)clk為低電平時(shí),鐘控比較級(jí)電路進(jìn)入再生階段,此時(shí)該部分電路的小信號(hào)模型,如圖4所示。

          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)

          根據(jù)小信號(hào)模型的節(jié)點(diǎn)電流可得到如下公式:

          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)

          其中,C1和C2是從VM10和VM11的漏極到地的電容,R1和R2是從VM10和VM11的漏極到地的電阻,可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)為再生節(jié)點(diǎn)所加的初始電壓。τ為時(shí)間常數(shù),假設(shè)所有的晶體管相同,則有R1=R2,C1=C2,gm11=gm10=gm,從而τ1=τ2=τ。

          用△Vo定義Vo1與Vo2的差值,用△Vi定義可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)的差值,因此
          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)
          需要注意的是:1)在鐘控比較級(jí)使能之前,再生節(jié)點(diǎn)電壓變化的速度隨△Vi的增加而增大;2)τ的絕對(duì)值越小,傳輸延時(shí)越小,比較器工作速度越快。由此可知,通過增加輸入跨導(dǎo)、減小輸出節(jié)點(diǎn)的負(fù)載電容和提高初始輸入電壓差可提高比較器速度。

          此外,存比較級(jí)電路后增加的輸出緩沖級(jí)電路也能縮短比較器的比較時(shí)間。其優(yōu)點(diǎn)是結(jié)合了比較級(jí)電路的正指數(shù)響應(yīng)和正反饋latch結(jié)構(gòu)的負(fù)指數(shù)響應(yīng),即比較級(jí)電路先經(jīng)過一時(shí)間段將輸入信號(hào)放大到某一差值Vx,輸出緩沖級(jí)電路就會(huì)迅速將比較器的輸出電壓轉(zhuǎn)化到邏輯電平。本文設(shè)計(jì)的比較級(jí)電路和輸出緩沖級(jí)電路的瞬態(tài)響應(yīng)如圖5所示。

          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)


          2.2 回饋噪聲

          在比較級(jí)電路工作階段,再生節(jié)點(diǎn)電壓的快速變化通過寄生電容對(duì)輸入信號(hào)引起的干擾稱為回饋噪聲,其嚴(yán)重影響比較器的精度。在模數(shù)轉(zhuǎn)換器中會(huì)用到大量的比較器,這些比較器上的回饋噪聲將提高ADC的誤碼率。為了有效地抑制回饋噪聲對(duì)比較器的影響,本文采用了隔離和互補(bǔ)技術(shù)。

          在預(yù)放大級(jí)中增加開關(guān)晶體管VM4和VM5,實(shí)現(xiàn)了隔離輸入信號(hào)與再生節(jié)點(diǎn)電壓的回饋噪聲。在比較器從復(fù)位階段轉(zhuǎn)變?yōu)楸容^階段時(shí),VM 4、VM5關(guān)斷,切斷了預(yù)放大器和比較級(jí)電路之間的信號(hào)通路,使再生節(jié)點(diǎn)電壓的快速變化無法直接耦合到比較器的輸入端,從而降低了回饋噪聲。

          互補(bǔ)技術(shù)的具體實(shí)現(xiàn)方法是在預(yù)放大級(jí)的輸入端增加NMOS管VM25、VM26構(gòu)成的電容,使其與輸入晶體管VM1、VM2的柵漏電容CGD構(gòu)成互補(bǔ)結(jié)構(gòu)。為達(dá)到最佳互補(bǔ)效果,CM25,CM26的值應(yīng)與CGD保持相等,即VM25、VM26的寬度應(yīng)為VM1、VM2的一半。當(dāng)輸入對(duì)管源端電壓發(fā)生變化時(shí),CM25,CGD-M2和CM26,CGD-M1構(gòu)成的互補(bǔ)結(jié)構(gòu)使變化的電流相互抵消,從而提高輸入電壓的穩(wěn)定性。

          當(dāng)比較器的時(shí)鐘頻率為300 MHz,輸入信號(hào)幅度為100 mV時(shí),回饋噪聲對(duì)比較器基準(zhǔn)參考信號(hào)產(chǎn)生的尖峰抖動(dòng)在5 mV以內(nèi),如圖6所示。與典型的A-B型鎖存比較器百毫伏級(jí)左右的回饋噪聲相比,本文設(shè)計(jì)的比較器電路結(jié)構(gòu)有較強(qiáng)的抑制回饋噪聲的能力。

          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)


          3 仿真結(jié)果

          在Cadence軟件平臺(tái)下,用Specte工具對(duì)基于TSMC0.18μm CMOS標(biāo)準(zhǔn)工藝模型的比較器電路進(jìn)行仿真。采用5 V電源電壓,300 MHz時(shí)鐘頻率,基準(zhǔn)參考電壓Vref一直保持為1.8 V,該電路的瞬態(tài)響應(yīng)如圖7所示。

          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)


          第1欄為時(shí)鐘控制信號(hào)clk;第2欄為比較器輸入信號(hào)Vin,Vin接正負(fù)電平為1.801 V和1.799 V的矩形脈沖;第3欄為使能信號(hào)enable;第4、5欄為比較器輸出節(jié)點(diǎn)Vout1和Vout2的波形。圖7中曲線表明當(dāng)enable信號(hào)為高電平時(shí),比較器工作并在時(shí)鐘信號(hào)clk下降沿處比較Vin和Vref的大小,在clk上升沿鎖存輸出結(jié)果。當(dāng)Vin比Vref大1 mV時(shí),輸出電壓Vout1為低電平,Vout2為高電平,反之輸出結(jié)果相反。仿真結(jié)果符合設(shè)計(jì)要求,該比較器可達(dá)到10位的比較精度。

          由于工藝及溫度變化等因素的影響,實(shí)際所得器件參數(shù)將產(chǎn)生一定的可變性。為提高產(chǎn)品的成品率及實(shí)際性能指標(biāo),在27、-40和100℃溫度下分別對(duì)該電路進(jìn)行了corners仿真。在不同工藝角下,比較器均可正常工作,其傳輸延時(shí)、功耗和輸入共模范圍等主要性能參數(shù)在一定范圍內(nèi)有所波動(dòng),如表1所示。

          可用于高速高精度AD的鐘控比較器的設(shè)計(jì)



          4 結(jié)束語

          基于預(yù)放大鎖存理論,本文設(shè)計(jì)了一種高速高精度鐘控電壓比較器。采用預(yù)放大級(jí)、鐘控判斷級(jí)和輸出緩沖級(jí)結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了高比較速度,獲得了較小的可分辨電壓。著重分析了改進(jìn)比較器比較速度和回饋噪聲的理論和方法。在TSMC0.18μm CMOS標(biāo)準(zhǔn)工藝下,對(duì)可能出現(xiàn)的工藝偏差以及使用溫度的變化進(jìn)行了全面的模擬仿真。仿真結(jié)果表明,該鐘控比較器在速度、精度、傳輸延時(shí)和回饋噪聲等重要性能參數(shù)方面有顯著的優(yōu)勢,可應(yīng)用于高速高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器與模擬IP核的設(shè)計(jì)。

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