逐次比較式ADC 采樣頻率的選取及應(yīng)用
為保證TLC2543 的采樣誤差在1/16 L SB 之內(nèi), 單片機(jī)提供給TLC2543 的f I/O 不應(yīng)高于2。 325MHz。當(dāng)單片機(jī)提供給TLC2543 的f I/O 分別為4MHz 和2MHz 時, 其等速加載的控制結(jié)果見圖4 和圖5。
由圖4 可見, 由于其f I/O 大于2。 325 MHz,TLC2543 的內(nèi)部等效電容充電不完全, 因此采樣誤差較大, 從而控制品質(zhì)較差。圖5 中f I/O 小于2。 325MHz, TLC2543 的內(nèi)部等效電容充電完全, 保證了其采樣誤差在1/16 L SB 之內(nèi), 因此其控制品質(zhì)較好。
總 結(jié)
通過簡化測控系統(tǒng)前向通道的等效模型, 說明了如何控制逐次比較式ADC 的采樣頻率與等效信號源的輸出阻抗匹配, 從而保證ADC 的采樣誤差在1/16L SB 之內(nèi)L。并通過實驗對比, 驗證了其有效性。
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