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          基于51單片機(jī)控制的熱源自動(dòng)測(cè)試儀

          作者: 時(shí)間:2011-12-31 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          在藥品質(zhì)量監(jiān)測(cè)過(guò)程中,熱源反應(yīng)的測(cè)溫是一項(xiàng)重要內(nèi)容。藥品檢測(cè)有其特殊性,對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的精度、穩(wěn)定性、一致性和線性度等指標(biāo)有著較高的要求。傳統(tǒng)老式儀器大多是各類溫度計(jì),測(cè)試效率和精度都難如人意。根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)測(cè)要求,研制了基于單片機(jī)控制的,實(shí)現(xiàn)了在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)自動(dòng)巡回測(cè)試30路熱源,滿足了現(xiàn)場(chǎng)測(cè)溫準(zhǔn)確穩(wěn)定的高標(biāo)準(zhǔn)要求,成功地完成了藥檢實(shí)驗(yàn)室測(cè)試儀器的更新?lián)Q代。

          1 測(cè)試儀器系統(tǒng)組成與工作原理

            本測(cè)試儀器的工作原理圖如圖1所示,對(duì)多點(diǎn)測(cè)試的熱源數(shù)據(jù)經(jīng)多路轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān),送入儀器放大器實(shí)現(xiàn)差值放大后,用V/F轉(zhuǎn)換器將電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換成一定頻率的脈沖信號(hào),送入8051單片機(jī)的T0口,T0為計(jì)數(shù)器,T1作為定時(shí)器,在定時(shí)時(shí)間內(nèi)接受脈沖信號(hào),通過(guò)V/F轉(zhuǎn)換器實(shí)現(xiàn)了高精度的A/D轉(zhuǎn)換,最后將數(shù)據(jù)送入8051進(jìn)行分析處理,配合輸入與顯示模塊電路完成多點(diǎn)溫度的顯示、監(jiān)測(cè)、預(yù)警和打印等功能。

            為了保證儀器測(cè)溫的精度、穩(wěn)定性和線性度等指標(biāo),在硬件上主要采取了2個(gè)方面的措施。一方面是選擇合適的溫度傳感器,溫度傳感器的參數(shù)性能,是整機(jī)性能能否達(dá)到設(shè)計(jì)要求的關(guān)鍵。作為計(jì)量?jī)x器不宜選用一般的PN結(jié)溫度傳感器,因?yàn)槠錅y(cè)溫精度、穩(wěn)定性、線性度和一致性都相對(duì)較差,不能滿足設(shè)計(jì)的要求。這里選用了集成溫 度傳感器AD590KH,其測(cè)溫精度為0.1℃,測(cè)溫分辨率為0.01℃,非線性度在0~150℃范圍小于0.5%,其參數(shù)性能保證了現(xiàn)場(chǎng)采集的熱源數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)后的數(shù)據(jù)精度、穩(wěn)定性和線性度均高于計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)。此外,集成溫度傳感器AD590具有一致性較好特點(diǎn),用戶在儀器使用一定時(shí)間后,可方便地自行更換探頭。另一方面,在信號(hào)選擇、傳送、放大和A/D轉(zhuǎn)換的過(guò)程中,不可避免地要引入一些干擾,使數(shù)據(jù)產(chǎn)生一定的誤差。為了確保儀器整機(jī)性能指標(biāo)符合計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)要求,對(duì)儀器前向通道的結(jié)構(gòu),器件性能參數(shù)指標(biāo)的選擇上都提出了較高的要求,在軟件設(shè)計(jì)上,采用了數(shù)字濾波與線性軟件校正等手段。

            如圖1所示,30路溫度傳感器AD590KH經(jīng)2片模擬開(kāi)關(guān)4067構(gòu)成30選1的熱源數(shù)據(jù)選擇器,通過(guò)8051單片機(jī)的P1口的P1.0~P1.4編程控制30路信號(hào)的通斷,使30路熱源數(shù)據(jù)依次送入儀器放大器AD524,逐一實(shí)現(xiàn)差值放大。

            儀器設(shè)計(jì)要求測(cè)溫分辨率為0.01℃,測(cè)溫范圍為30~40℃,放大器輸出電壓范圍為0~10 V。由于系統(tǒng)對(duì)測(cè)溫參數(shù)性能要求很高,為了達(dá)到設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn),放大器采取對(duì)信號(hào)進(jìn)行差值放大,差值放大的增益越高,儀器測(cè)溫輸出結(jié)果的分辨率和靈敏度就越高,這里把AD524的增益設(shè)定為100倍。把30℃溫度的測(cè)溫電壓值作為高性能基準(zhǔn)電壓源LM399的基準(zhǔn)電壓值Vr接到儀器放大器AD524的反相輸入端,作為測(cè)溫零刻度參考點(diǎn)(LM399的零漂和失調(diào)電壓均小于5 PPM/℃),儀器放大器同相端接實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)測(cè)器輸入電壓變化為10 mV,輸出電壓變化為1 V;溫度每變化0.1℃,儀器放大器輸入電壓變化為1 mV,輸出電壓變化為100 mV;溫度每變化0.01℃,儀器放大器輸入電壓變化為0.1 mV,輸出電壓變化為10 mV。

            作為一個(gè)高性能的計(jì)量?jī)x器,對(duì)放大器增益的穩(wěn)定性、失調(diào)電壓、零漂和非線性失真等參數(shù)要求極高,不宜于選用一般精度的運(yùn)放作為放大器,否則可能由于運(yùn)放對(duì)信號(hào)放大這一環(huán)節(jié)帶來(lái)的誤差,使儀器的參數(shù)指標(biāo)性能下降,達(dá)不到計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)。本儀器選用了高性能參數(shù)的AD524作為儀器放大器,AD524的零漂、失調(diào)電壓和非線性失真等參數(shù)指標(biāo)值極小,使AD524在放大信號(hào)過(guò)程中產(chǎn)生的誤差,在本儀器所要求性能參數(shù)的數(shù)量級(jí)上可忽略不計(jì)。

          2 V/F轉(zhuǎn)換

            系統(tǒng)使用LM331作為V/F轉(zhuǎn)換器,把AD524輸出的0~10 V電壓,轉(zhuǎn)換成0~100 kHz頻率的脈沖信號(hào),送入8051單片機(jī)的T0口。測(cè)量溫度數(shù)據(jù)與V/F轉(zhuǎn)換后的脈沖信號(hào)頻率成線性正比關(guān)系,溫度越高,儀器放大器輸出的電壓越高,V/F轉(zhuǎn)換器輸出的頻率值越高。溫度為0℃時(shí),儀器放大器輸出的電壓為0 V,V/F轉(zhuǎn)換后的頻率值為0 kHz;溫度為40℃時(shí),儀器放大器輸出的電壓為10 V,V/F轉(zhuǎn)換后的頻率值為100 kHz。用V/F轉(zhuǎn)換器實(shí)現(xiàn)A/D轉(zhuǎn)換,消除了轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)在送入單片機(jī)過(guò)程中的干擾,并且通過(guò)調(diào)整T1口的定時(shí)時(shí)間,改變T0口計(jì)數(shù)器接受脈沖的數(shù)量,可改變A/D轉(zhuǎn)換的位數(shù)。本系統(tǒng)把T1口的定時(shí)時(shí)間設(shè)定為100 ms,使V/F轉(zhuǎn)換器相當(dāng)于14 b的A/D轉(zhuǎn)換器。通過(guò)增大T1口的定時(shí)時(shí)間,提高了A/D轉(zhuǎn)換的位 數(shù),進(jìn)而提高了系統(tǒng)測(cè)溫?cái)?shù)據(jù)的精度和分辨率。為了更好地改善儀器性能,把定時(shí)時(shí)間T1增大n倍(n為正整數(shù)),將T0口接受的脈沖數(shù)據(jù)除以n,以實(shí)現(xiàn)軟件濾波。

          此外,本測(cè)試儀配有鍵盤輸入及液晶顯示模塊,使得儀器配置完善,用戶操作方便可靠。

          3 系統(tǒng)軟件

            測(cè)溫系統(tǒng)軟件用MCS-51系列匯編語(yǔ)言編制。圖2是系統(tǒng)軟件的程序流程圖
          基于51單片機(jī)控制的熱源自動(dòng)測(cè)試儀
          4 結(jié) 語(yǔ)

            實(shí)踐表明,基于上述思路構(gòu)建的測(cè)試系統(tǒng)是正確的、可行的,近半年的時(shí)間研制出了該儀器,并使其在以后的穩(wěn)定運(yùn)行中滿足了設(shè)計(jì)要求。在系統(tǒng)允許一個(gè)探頭測(cè)量溫度數(shù)據(jù)時(shí)間為幾秒時(shí),使用V/F轉(zhuǎn)換器,既可以降低儀器成本,又提高了系統(tǒng)性能。

          參考文獻(xiàn)

          [1]何立民.單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)設(shè)計(jì)——系統(tǒng)配置與接口技術(shù)[M].北京:北京航空航天大學(xué)出版社,1990.
          [2]李朝青.單片機(jī)原理與接口技術(shù)[M].北京:北京航空航天大學(xué)出版社,2001.



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