基于單片機(jī)和FPGA的頻率特征測試儀
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在學(xué)習(xí)《電子線路》、《信號處理》等電子類課程時，高校學(xué)生只是從理論上理解真正的信號特征。不能真正了解或觀察測試某些信號。而幅頻特性和相頻特性是信號最基本的特征．這里提出了基于單片機(jī)和FPGA的頻率特性測試儀的設(shè)計方案，可使學(xué)生在實踐中真正觀察和測試信號的頻率特性。
2 設(shè)計方案
該系統(tǒng)設(shè)計采用掃頻測試法。設(shè)頻率響應(yīng)為H(jω)，實系數(shù)線性時，不變系統(tǒng)在正弦信號x(n)=Acos(ω0n+ψ)的激勵下的穩(wěn)態(tài)輸出為y(n)。利用三角恒等式，將輸入x(n)表示為兩個復(fù)數(shù)指數(shù)函數(shù)之和：
若輸入為exp(jω0n)，線性時不變系統(tǒng)穩(wěn)態(tài)輸出為H(exp(jω0n))exp(jω0n)。根據(jù)線性性質(zhì)可知，輸入g(n)的響應(yīng)v(n)為：
同理，輸入g*(n)的輸出為v*(n)是v(n)的復(fù)數(shù)共軛。于是輸出y(n)的表達(dá)式：
由上可知，當(dāng)系統(tǒng)在正弦信號的激勵下，輸出響應(yīng)達(dá)到穩(wěn)態(tài)，這是與輸入激勵信號頻率相同的正弦波，響應(yīng)信號與激勵信號幅值比為該頻率的幅頻響應(yīng)值，而兩者的相位差為相頻特性值。因此采用掃頻法測量頻率特性。
以單片機(jī)和FPGA為核心，利用FPGA通過DDS合成得到且頻率由單片機(jī)控制的正弦波作為掃頻信號，將其輸入至待測網(wǎng)絡(luò)，由峰值檢波電路分別測量各掃頻信號對應(yīng)的輸入網(wǎng)絡(luò)信號和輸出網(wǎng)絡(luò)信號，并由其比例關(guān)系求得待測網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性。測量幅度的同時FPGA利用計數(shù)法測量出代表進(jìn)出網(wǎng)絡(luò)信號的相位差的脈沖數(shù)，然后送入單片機(jī)得到對應(yīng)頻率點的相角。將各頻點得到的幅度特性和相位特性存入FPGA內(nèi)部的RAM中，并結(jié)合鋸齒波顯示在示波器上。同時，LCD還顯示掃描頻率的初始值、終止值和步進(jìn)值。定點測量時，LCD顯示單個頻率點的幅度和相位。該系統(tǒng)設(shè)計框圖如圖1所示。
3 硬件電路設(shè)計
3．1 信號產(chǎn)生模塊
利用FPGA內(nèi)部的DDS信號輸出掃頻信號經(jīng)D／A轉(zhuǎn)換器形成正弦信號。D／A轉(zhuǎn)換器選用DAC0800。DAC0800具有8位分辨率，輸出電流建立時間為100 ns，8位的位寬，工作電壓范圍為±4．5~±18 V。因此，經(jīng)DAC0800所形成的正弦信號有256個取樣值，完全能滿足系統(tǒng)精度要求。輸出正弦信號的最高頻率為200 kHz，100 ns的速率也滿足系統(tǒng)要求。由于DAC0800只具有從數(shù)字量到模擬電流輸出量轉(zhuǎn)換功能，因此．需增加運(yùn)算放大器實現(xiàn)I—V轉(zhuǎn)換，其轉(zhuǎn)換電路如圖2所示。DDS信號輸出需要加低通濾波器來平滑濾波，以減少信號的諧波分量。
3．2 峰值檢波電路
峰值檢測原理是當(dāng)輸入電壓通過正半周時，檢波管導(dǎo)通，電容C充電，選取適當(dāng)電容值，使其電容放電速度大于充電速度，這樣，電容兩端的電壓可以保持在最大電壓處，該電壓通過由運(yùn)算放大器構(gòu)成的射隨器(高阻隔離)輸出電壓峰值。這里運(yùn)算放大器選用LF356，其輸入失調(diào)電壓和輸入失調(diào)電流較小，輸入阻抗大，可以很好隔離前后級。峰值檢波電路如圖3所示。
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