單片機(jī)系統(tǒng)中RAM的測(cè)試方法研究

在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中，存儲(chǔ)器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性，對(duì)系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測(cè)試是十分必要的。通過(guò)測(cè)試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲(chǔ)器發(fā)生故障對(duì)系統(tǒng)帶來(lái)的破壞問(wèn)題。本文針對(duì)性地介紹了幾種常用的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測(cè)試方法，并在其基礎(chǔ)上提出了一種基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM故障測(cè)試方法。

1 RAM測(cè)試方法回顧

(1)方法1

參考文獻(xiàn)中給出了一種測(cè)試系統(tǒng)RAM的方法。該方法是分兩步來(lái)檢查，先后向整個(gè)數(shù)據(jù)區(qū)送入#00H和#FFH，再先后讀出進(jìn)行比較，若不一樣，則說(shuō)明出錯(cuò)。

(2)方法2

方法1并不能完全檢查出RAM的錯(cuò)誤，在參考文獻(xiàn)中分析介紹了一種進(jìn)行RAM檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)算法MARCH—G。MARCH一G算法能夠提供非常出色的故障覆蓋率，但是所需要的測(cè)試時(shí)間是很大的。MARCH—G算法需要對(duì)全地址空間遍歷3次。設(shè)地址線為”根，則CPU需對(duì)RAM訪問(wèn)6×2n次。

(3)方法3

參考文獻(xiàn)中給出了一種通過(guò)地址信號(hào)移位來(lái)完成測(cè)試的方法。在地址信號(hào)為全O的基礎(chǔ)上，每次只使地址線Ai的信號(hào)取反一次，同時(shí)保持其他非檢測(cè)地址線Aj(i≠j)的信號(hào)維持0不變，這樣從低位向高位逐位進(jìn)行；接著在地址信號(hào)為全1的基礎(chǔ)上，每次只使地址線Ai的信號(hào)取反一次，同時(shí)保持其他非檢測(cè)地址線Aj(i≠j)的信號(hào)維持1不變，同樣從低位向高位逐位進(jìn)行。因此地址信號(hào)的移位其實(shí)就是按照2K(K為整數(shù)，最大值為地址總線的寬度)非線性尋址，整個(gè)所需的地址范圍可以看成是以全0和全1為背景再通過(guò)移位產(chǎn)生的。在地址變化的同時(shí)給相應(yīng)的存儲(chǔ)單元寫入不同的偽隨機(jī)數(shù)據(jù)。在以上的寫單元操作完成后，再倒序地將地址信號(hào)移位讀出所寫入的偽隨機(jī)數(shù)據(jù)并進(jìn)行檢測(cè)。設(shè)地址線為n根，則CPU只對(duì)系統(tǒng)RAM中的2n+2個(gè)存儲(chǔ)單元進(jìn)行訪問(wèn)。