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          EEPW首頁 > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計應(yīng)用 > 基于ARM內(nèi)核SoC的FPGA 驗證環(huán)境設(shè)計方法

          基于ARM內(nèi)核SoC的FPGA 驗證環(huán)境設(shè)計方法

          作者: 時間:2008-11-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

              圖9  代碼仿真、FPG平臺驗證及芯片實測結(jié)果比較   

            結(jié)束語

            本文提出了一種常用的基于ARM內(nèi)核 驗證環(huán)境的設(shè)計方法,并給出了電路結(jié)構(gòu)框圖和相應(yīng)的外圍電路設(shè)計。根據(jù)該設(shè)計, 在 內(nèi)實現(xiàn)AMBA 總線、存儲器接口和中斷控制器,加上外面的核,構(gòu)成了ARM 的最小系統(tǒng),根據(jù)具體目標系統(tǒng)的需要,可以增加LCD 控制器、AC97 控制器、USB 控制器等模塊,構(gòu)成一個非常實用的。在IP 核燒入后,可以使用ARM ADS(ARM Developer Suite) 軟件開發(fā)工具,在線對設(shè)計的硬件電路、硬件驅(qū)動軟件、操作系統(tǒng)和高層應(yīng)用軟件進行調(diào)試,從而大大縮短了基于SoC 芯片的應(yīng)用系統(tǒng)的開發(fā)時間。隨著 的飛速發(fā)展,用戶可以選用更加先進和方便使用的FPGA ,還可選用內(nèi)嵌ARM 核的FPGA 芯片來構(gòu)建。同時,該系統(tǒng)在電壓設(shè)計、模塊選用甚至處理器核的選用方面都考慮了升級擴展技術(shù),可供其他SoC 的驗證借鑒。


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