探討減少LED壽命損耗的關(guān)鍵因素

　　例如，在對某電視機背光源的測試中，使用IT6200系列直流電源給其供電，測試在100mA的電流下進行，那么，在打開和關(guān)閉IT6200系列電源的lowcurrentmode時，其電壓變化波形分別如下兩幅圖所示：

　　在這兩幅圖中，左圖是啟用lowcurrentmode時的電壓上升曲線，右圖是未啟用該測試模式時的電壓上升曲線，對比兩幅圖中的電壓波形變化不難看出，當啟用lowcurrentmode時，電壓上升時間縮短，LED產(chǎn)品很快能夠被點亮。

　　如果測試的電流再小一些，結(jié)果又會如何?現(xiàn)在，再用IT6200系列電源來測試一款手機背光源，設(shè)定測試電流值1mA。下圖是分別打開和關(guān)閉IT6200系列電源的lowcurrentmode時，其電壓變化的曲線，可以看出，當測試電流更加微小時，如果不使用Lowcurrentmode，則經(jīng)過很長一段時間的等待以后，電壓仍然無法上升到設(shè)定值，也就是說待測LED一直未被點亮，無法開始測試。而當使用了IT6200系列電源的lowcurrentmode以后，電壓快速上升到設(shè)定值，繼而點亮待測LED，開始進行測試。

　　目前，各大LED廠商已經(jīng)開始選用LED測試專用電源供應器來應對這一問題。搭配LED測試系統(tǒng)進行測試，可有效減少LED產(chǎn)品在測試過程中的壽命折損，同時提高測試效率，使產(chǎn)能得以最大化。