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          LED顯示屏中所用的藍(lán)色與綠色芯片解析

          作者: 時(shí)間:2013-07-07 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            的工作原理是在正向?qū)ǖ那闆r下,注入二極管P/N節(jié)區(qū)的電子和空穴相遇復(fù)合,將電勢(shì)能轉(zhuǎn)換為光能。所發(fā)出光子的波長(zhǎng)(也就是光的顏色)是由半導(dǎo)體的能帶寬度決定的,通俗地講,半導(dǎo)體能帶寬度越寬,發(fā)出的光子能量越大,對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)越短,簡(jiǎn)單的換算關(guān)系是:(nm)。當(dāng)前藍(lán)、綠光器件的材料基礎(chǔ)是III族氮化物半導(dǎo)體,也就是GaN為主,InN、AlN為輔的四元AlGaInN合金體系,

            目前,絕大部分藍(lán)、綠光芯片的量子阱發(fā)光層材料是由InxGa1-xN合金和GaN組成的,由于InxGa1-xN合金的能帶寬度隨著InN的比例x變化,可以在3.4eV(對(duì)應(yīng)GaN的能帶寬度)和0.7eV(對(duì)應(yīng)InN的能帶寬度)調(diào)整,所以理論上這個(gè)材料體系可以覆蓋整個(gè)可見光光譜區(qū)域。但是,目前的材料制備技術(shù)是基于GaN晶體的外延層生長(zhǎng)技術(shù),只能生長(zhǎng)含InN組份較低的合金材料。InxGa1-xN合金在InN的組份x>15%以后,晶體質(zhì)量急劇下降。實(shí)際上,目前工業(yè)界的技術(shù)水平通常做到藍(lán)光芯片的電光轉(zhuǎn)換效率大約是綠光的2倍,就是因?yàn)榍罢叩腎nN組份遠(yuǎn)小于后者,綠光器件中InN的組份估計(jì)已經(jīng)在30%以上(InGaN合金材料精確組份的測(cè)定目前在學(xué)術(shù)界還是一個(gè)疑難科學(xué)問題)。也就是說,目前的技術(shù)還很難通過繼續(xù)增加InN的組份,使得InGaN合金器件能高效率地發(fā)出紅光。但值得慶幸的是,早在上個(gè)世紀(jì)90年代,III族磷化物體系(也通常表述為四元體系,AlGaInP)已經(jīng)成為紅、黃光LED器件成熟的材料基礎(chǔ)。這兩個(gè)材料體系的基本物理特征以及其所含元素在周期表中的位置。

            III族氮化物半導(dǎo)體材料目前工業(yè)化制備是通過金屬有機(jī)物化學(xué)氣相沉積(metal-organic chemical vapor deposition,MOCVD)來實(shí)現(xiàn)的。該技術(shù)的基本原理是通過在密閉化學(xué)反應(yīng)腔中引入高純度的金屬有機(jī)源(MO源)和氨氣(NH3),使其在加熱的襯底基板(一般選擇藍(lán)寶石做襯底)上生長(zhǎng)出高質(zhì)量的晶體。基本化學(xué)反應(yīng)式是:Ga(CH3)3+NH3→GaN+CH4.通常GaN晶體是六方狀的纖鋅礦結(jié)構(gòu),基本的物理特性如表2所示。需要特別指出的有兩點(diǎn):(1)GaN的能帶寬度在常溫300K時(shí),等于3.39eV,是非常難得的寬禁帶半導(dǎo)體材料,如果發(fā)光,對(duì)應(yīng)的光子波長(zhǎng)應(yīng)該是,屬于紫外光;(2)GaN的p-型摻雜非常困難,目前可以達(dá)到的載流子濃度比n-型摻雜低將近兩個(gè)數(shù)量級(jí),電阻很大。這個(gè)特性對(duì)其器件的設(shè)計(jì)提出了特殊的要求,這一點(diǎn)在隨后介紹LED器件結(jié)構(gòu)時(shí)將提到。GaN與它同族的AlN和InN的物理屬性差異非常顯著,表3給出了具體的比對(duì)。在晶體生長(zhǎng)過程中,GaN晶體的取向和藍(lán)寶石襯底的晶面選擇有著密切關(guān)系。當(dāng)前,工業(yè)化生長(zhǎng)GaN晶體一般都取c-面的藍(lán)寶石作為襯底基板,GaN晶體生長(zhǎng)與襯底晶體取向會(huì)保持一個(gè)固定的配位關(guān)系(這也就是“外延”的意思)。GaN外延片表面是晶體的六方密排c-面,晶體的生長(zhǎng)是沿著c-軸逐層原子堆積而成的,也就是c-軸方向成長(zhǎng)。

            GaN基LED外延片的基本結(jié)構(gòu)是在藍(lán)寶石襯底上依次生長(zhǎng):(1)GaN結(jié)晶層;(2)n-型GaN(實(shí)際生產(chǎn)中一般先長(zhǎng)一層非故意摻雜的n型GaN);(3)InGaN/GaN多量子阱發(fā)光層;(4)p-型GaN.為了獲得高性能的器件,整個(gè)外延生長(zhǎng)過程的各項(xiàng)參數(shù)都要得到優(yōu)化并且精確控制,其中對(duì)發(fā)光效率影響最大的結(jié)構(gòu)是InGaN/GaN多量子阱發(fā)光層。p和n型材料的摻雜元素通常為Mg和Si,Mg通過替代GaN中的Ga原子(Mg比Ga少一個(gè)外圍電子),形成一個(gè)空穴載流子,Si通過替代Ga原子,形成一個(gè)電子載流子(Si比Ga多一個(gè)外圍電子)。一般整個(gè)器件的外延層厚度范圍在4~8μm,平均生長(zhǎng)速度大約1μm/小時(shí),因此完成一次器件的生長(zhǎng)大約需要8小時(shí)。

            完成MOCVD外延生長(zhǎng)后,需要通過一系列的光罩圖形處理和物理刻蝕或沉積工藝制備GaN基LED芯片。普通藍(lán)、綠光LED芯片的基本結(jié)構(gòu),需要在外延片上依次做如下器件加工:(1)刻蝕局部區(qū)域露出n-型GaN導(dǎo)電層;(2)蒸鍍透明導(dǎo)電薄膜NiAu或ITO;(3)蒸鍍焊線電極,包括p電極和n電極;(4)蒸鍍鈍化保護(hù)層。芯片加工過程需要嚴(yán)格管理質(zhì)量,避免出現(xiàn)類似焊盤機(jī)械黏附力不足、表面異物污染等容易導(dǎo)致器件在封裝使用過程失效的問題。此外,芯片隨后還需要做襯底減薄、物理切割分離、測(cè)試、分選,最后獲得光電參數(shù)一致的芯片成品。由于GaN基LED芯片襯底藍(lán)寶石是絕緣體,芯片通過上表面的兩個(gè)+/-電極與金屬焊線連接來導(dǎo)電。相比而言,目前普通GaAs襯底的紅光芯片還是通過導(dǎo)電膠使襯底與支架之間形成導(dǎo)電通道,工藝控制導(dǎo)電膠的物理黏結(jié)強(qiáng)度對(duì)封裝斷路失效控制就顯得特別重要。

            藍(lán)、綠光LED芯片光電參數(shù)特征

            1、I-V關(guān)系曲線

            藍(lán)、綠光LED芯片通常在正向加壓2.4V左右時(shí)開始導(dǎo)通,工作電流20mA下電壓Vf的范圍一般是3.0~3.4V(對(duì)于14×14mil2見方的芯片尺寸,),較高的工作電壓是由GaN半導(dǎo)體的禁帶寬度決定的。

            2.2環(huán)境溫度對(duì)光電特性的影響

            一顆普通結(jié)構(gòu)14×14mil2綠光LED芯片在不同環(huán)境溫度下的特性變化曲線。當(dāng)環(huán)境溫度從20℃上升到80℃時(shí),顯示綠光LED的發(fā)光波長(zhǎng)發(fā)生明顯漂移,從522nm紅移到527nm;顯示發(fā)光亮度降低了25%;顯示工作電壓從3.23V降到2.98V。

            隨著環(huán)境溫度的升高,發(fā)光波長(zhǎng)紅移以及工作電壓下降都是由于半導(dǎo)體禁帶寬度縮小導(dǎo)致的。但是,由于GaN體系的材料禁帶寬度大,可以容忍的環(huán)境溫度上限比其它材料有非常明顯的優(yōu)勢(shì)。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),在150℃環(huán)境溫度下,GaN基的藍(lán)、綠光LED器件還可以發(fā)光,只是效率大大降低了。但是,另一方面,對(duì)于此類普通結(jié)構(gòu)的芯片,藍(lán)光的電光轉(zhuǎn)換效率在20~30%之間;綠光明顯更低,一般只有10~20%.電能除了少部分轉(zhuǎn)變成光能外,其它都產(chǎn)生熱,這些熱能對(duì)于微小的晶片面積來說是很大的負(fù)擔(dān)。因此,在芯片封裝使用時(shí),需要特別注意做好芯片的散熱通道設(shè)計(jì),從而確保芯片能穩(wěn)定可靠地工作。

            2、工作電流密度對(duì)波長(zhǎng)的影響

            普通14×14mil2綠光LED芯片發(fā)光波長(zhǎng)隨工作電流變化的曲線。隨著電流密度的增大,綠光芯片發(fā)光波長(zhǎng)從534nm(2mA下測(cè)試)藍(lán)移到522nm(30mA下測(cè)試)。實(shí)際上藍(lán)光芯片也有類似的藍(lán)移趨勢(shì),只是幅度比綠光芯片小,這個(gè)特性對(duì)設(shè)計(jì)使用芯片的工作條件非常重要。為了避免顏色隨亮度變化而發(fā)生漂移,調(diào)節(jié)亮度的方式一般選擇改變脈沖寬度,而不是改變電流強(qiáng)度。

            為發(fā)光層量子阱工作的基本原理示意圖。電子-空穴復(fù)合生成光子的能量決定了發(fā)光波長(zhǎng),而光子的能量是由束縛在量子阱的電子-空穴對(duì)的勢(shì)能決定的。實(shí)際上,芯片從2mA增加到30mA電流的過程中,量子阱中電子-空穴對(duì)的勢(shì)能發(fā)生了兩個(gè)非常重要的變化:先是屏蔽了量子阱內(nèi)建電場(chǎng),使得導(dǎo)帶和價(jià)帶距離增大;然后載流子填充效應(yīng)使得電子-空穴對(duì)之間的勢(shì)能進(jìn)一步增大,而增大的電子-空穴對(duì)勢(shì)能轉(zhuǎn)變成的光子對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)將變短,這一點(diǎn)可以從前述波長(zhǎng)和能量的換算關(guān)系推得。

            技術(shù)發(fā)展歷程中的關(guān)鍵階段

            1、p-n結(jié)GaN二極管關(guān)鍵技術(shù)突破階段(1970~1993年)

            早在1970年代,美國(guó)科學(xué)家J.Pankove等人就已經(jīng)發(fā)現(xiàn)GaN是一種良好的寬禁帶半導(dǎo)體發(fā)光材料,并且成功制作了能發(fā)出藍(lán)光的GaN肖特基管。但是,隨后的十幾年里,科學(xué)家們的努力研究一直沒能突破制備p-型GaN材料的難關(guān)。直到20世紀(jì)80年代末期,日本科學(xué)家Akasaki和Amano發(fā)現(xiàn),可以先在異質(zhì)襯底上沉積AlN結(jié)晶層,然后能夠?qū)崿F(xiàn)MOCVD外延生長(zhǎng)表面平整的GaN單晶薄膜材料。在此基礎(chǔ)上,他們又發(fā)現(xiàn)可以通過電子束激活Mg摻雜的GaN材料中的空穴載流子,實(shí)現(xiàn)p-型GaN材料的制備,這是GaN基p-n結(jié)發(fā)光二極管最為關(guān)鍵的基礎(chǔ)技術(shù)突破。隨后,GaN基LED技術(shù)從研究院所的實(shí)驗(yàn)室走進(jìn)了工廠。日本Nichia(日亞)公司的科學(xué)家Nakamura[15,16]實(shí)現(xiàn)了采用GaN結(jié)晶層實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的外延層MOCVD生長(zhǎng),很快又發(fā)現(xiàn)可以通過熱退火的方式激活Mg摻雜的GaN實(shí)現(xiàn)p型導(dǎo)電。作為這一系列突破的成果,1993年Nichia公司成功實(shí)現(xiàn)了商業(yè)化生產(chǎn)GaN藍(lán)光LED.

            2、內(nèi)量子效率提升階段(1993~2000年

            在成功實(shí)現(xiàn)了商業(yè)化生產(chǎn)藍(lán)光LED后,學(xué)術(shù)界和產(chǎn)業(yè)界對(duì)該領(lǐng)域的許多關(guān)鍵物理課題投入了極大的研究熱情。核心問題之一就是如何提高藍(lán)光LED芯片的InGaN/GaN量子阱內(nèi)量子效率,也就是如何提高電光轉(zhuǎn)換效率。許多研究單位和企業(yè)的MOCVD設(shè)備被用于試驗(yàn)優(yōu)化生長(zhǎng)條件,提高InGaN量子阱的晶體質(zhì)量;同時(shí)還有很多新的器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)也被嘗試以提高載流子的注入效率和復(fù)合效率。在這階段,新的研究發(fā)現(xiàn)主要促成了兩大成果:(1)綠光LED的商用化(1995年[17]);(2)藍(lán)光LED效率得到了成倍提升。

            3、內(nèi)、外量子效率同時(shí)提升階段(2000年至今)

            在藍(lán)、綠光LED性能顯著提高的基礎(chǔ)上,它們得到了大規(guī)模的商用化,

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