LED常規(guī)性老化試驗對比

一般來說，尤其是大功率LED在初始點亮階段光度都會有一定的衰減，led封裝廠為了提供給應用端廠商發(fā)光穩(wěn)定的產品，或者是應用端廠商家為了獲得穩(wěn)定的LED材料，通常都會做一些老化試驗。當然LED老化試驗有多種方式，如常規(guī)性老化、過電流沖擊破壞性試驗等等。

LED廠商通常會用以下幾種方式進行常規(guī)性老化：

1、多顆管串聯(lián)老化：恒壓老化電路和恒流老化電路
2、多顆管并聯(lián)老化
3、多顆管串并聯(lián)老化：串并恒壓老化和串并恒流老化
4、單管恒流老化

比較以上4種老化方式， 1、3種方式中只要有一顆LED出現(xiàn)品質故障，比如LED短路或者斷路都會影響別的LED的工作電流參數(shù)。第2種方式優(yōu)于1、3種，任一顆LED特性變化不會影響到別的LED老化參數(shù)，但事實上靠電阻限流的方式是不可靠的，電阻本身阻值漂移和LED自身電壓特性變化都會嚴重影響LED參數(shù)。顯然，第4種單管恒流老化抓住了LED電流工作特性，是最科學的LED老化方式。

老化在試驗過程中應該是一個非常重要的過程，但在很多企業(yè)往往會被忽視，不能進行正確有效的老化，后面對LED本身所進行的包括亮度、波長等所有參數(shù)的分析都將不確定。過電流沖擊性老化也是廠家經常使用的一種老化手段，通常使用頻率可調、電流可調并且占空比可調的恒流源進行此類老化，以期待短時間內判斷LED的品質及預期壽命。