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          FPGA電路動(dòng)態(tài)老化技術(shù)研究
          
						
          
				作者：
				時(shí)間：2011-03-31
				來(lái)源：網(wǎng)絡(luò)
				
				
				
				
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			電路加載配置過(guò)程的流程和原理進(jìn)行研討，設(shè)計(jì)了FPGA 電路動(dòng)態(tài)老化的試驗(yàn)方法，并在工程實(shí)踐中得到了成功的實(shí)現(xiàn)和運(yùn)用。
           雖然這里設(shè)計(jì)的電路和配置過(guò)程針對(duì)Xilinx 公司的Qpro Virtex Hi-Rel系列XQV100電路，但是對(duì)其他系列和其他公司FPGA的動(dòng)態(tài)配置也有參考作用。本方法雖然實(shí)現(xiàn)了動(dòng)態(tài)老化的目的，但還是存在著缺陷：現(xiàn)有FPGA電路的內(nèi)部門(mén)數(shù)已經(jīng)超過(guò)了100萬(wàn)門(mén)，一般的配置程序只能占用FPGA 電路的部分內(nèi)部資源，并且用到的D 觸發(fā)器多了，則移位寄存器就少，通常是顧此失彼，因此要做到100%的動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)還存在著一定的困難。
           
				
            
                
			
							
          
                
			            
          
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            			            FPGA
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                        Virtex
                        老化
                        xilinx
                        
            
          
            
			
          
		
          	
		

	

          
	
	
          
		
          
			
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